Badania materiałów dielektrycznych 9

162

Crys.12.2b). Oddzielny pomiar R lub R możliwy jest dzięki za—

s    p

stosowaniu systemu trzech elektrod na próbce, przy czym w każdym z układów rola poszczególnych elektrod jest inna. Z przedstawionych schematów Crys.12.2) wynika, że rezystancja skrośna R_g mierzona jest między elektrodami kołowymi nałożonymi z obu stron próbki, natomiast rezystancja powierzchniowa R_p - między elektrodą pierścieniową i środkową nałożonymi na tę samą powierzchnię próbki. Trzecia z elektrod spełnia rolę ekranu, który powoduje, że przez miernik prądu płynie tylko prąd skrośny I lub tylko prąd powierzchniowy I_p. W każdym z układów pomiarowych

mierzymy rezystancje R i R pewnych fragmentów próbki, zawar-

s p

tych między różnymi elektrodami o różnych wymiarach geometrycznych, co należy uwzględnić przy wyznaczaniu rezystywności ę_g

i 9 . Znając wskazania mierników U, I lud I - rezystancje R p    s    p    s

i Rp obliczamy za wzorów:

C12.7)

lub R = P

a następnie, przy znanych wymiarach geometrycznych próbki i

elektrod Cpor. rys. 12.1) obliczamy rezystywności 9 i 9 ze wzo-

s p

rów Cpor. równ. 12.1 i 12.2):

<12.8)

R S s

gdzie: S =    — _ efektywna powierzchnia elektrody pomiaro

wej;

g - grubość próbki,

lub:

<12.9)

R L _ P

gdzie: L = rc<d + h) — efektywna długość <obwód) elektrody;

h - odległość między elektrodą pierścieniową i środkową nałożonymi jednostronnie na powierzchnię próbki.

Do pomiarów rezystancji, oprócz układów przedstawionych na rys.12.2 <realizujących metodę wychyleniową - za pomocą woltomierza i amperomierza), może być również stosowana metoda