CIMG5125

CIMG5125



42 PODSTAWY MIKROELEKTRONIKI

Mys 36. Utworzenie ścieżki po li krzemo* ej r 3 prostokątów.

Zmieniamy na palecie warstwę na dyfuzję N+. W tyra celu klikamy na poziomie Diffusion N+. Rysujemy prostokąt dyfuzji N+ na dole rysunku tak aby przeciął polikrzem jak to pokazuje Rys. 37. Obszary dyfuzji N+ są otoczone zieloną ramką. Przecięcie dyfuzji z polikrzeraem tworzy kanał tranzystora NMOS.

Myt. 37. Utworzenie tranzystora NMOS i PMOS

/jmemamy warstwę na dyfuzję P+ klikając na jej nazwie na palecie. Rysujemy prostokąt dyfuzji P+ w górze rysunku przecinający warstwę polikrzemu, jak to pokazano na rysunku Rys. 37. Pola dyfuzji P+ są

wypełnione zielonym kreskowanym wzorem. Przecięcie dytu/ji z polikr/emem tworzy kami mrynkn PMOS.

Zmieniamy warstwę na wyspę N klikając na jej nazwie na palecie - N Weil. Rysojemy wy«pę V całkowicie otaczającą dyfuzję P+. Reguły projektowania nakazują aby wykraczała om co lajnntj Okażdej strony dyfuzji P+. Reguła ta jest zachowana na Rys. 38.

Rys 38. Utworzenie wyspy otaczające) tranzystor z kanałem typu P i dyfuzję P* co mą/mmej 6 i z każdej strony

10.2. Kontakty i połączenia metaliczne

Obszary dyfuzji N+ i P+ nic mogą być bezpośrednio ze sobą połączone. Łączy się je za pośrednictw em metalowej ścieżki. Objaśnimy w jaki sposób wykonać takie połączenie. Poziom metalizacji jest izolowany od poziomu dyfuzji za pomocą grubego tlenku krzemu - SiOj. Poziom kontaktu służy do przebicia otworu w tlenku aż do poziomu krzemu tak aby połączyć metal z dyfuzją. Wymiar kontaktu jest zawsze ustalony w danej technologii i najlepiej umieścić na topografii gotowy kontakt z palety, widocznej na ekranie (Rys. 39). Możemy wybrać z niej bezpośrednio kontakty zaprojektowane zgodnie z regułami projektowania.


Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
CIMG5119 30 Podstawy mikroeuktromki9. Edycja topografii (layout) i symulacja układu scalonego Progra
CIMG5121 34 Podstawy Mikroelektroniki Rys. 25 Wizualizacja sygnału wyjściowego w oknie symulacji9.2.
CIMG5122 jo PODŚTaWY mikroelektroniki9.5. Dopasowanie modelu do pomiarów Kłikmpny na przycisku Add M
CIMG5124 40 Podstawy mikroeiektrontki10. Projektowanie inwertera CMOS Rozdział niniejszy jest poświę
CIMG5127 46 Podstawy Mikroelektroniki t VDD VD02 4 4 f / Sygnał okresowy J I Pokaż sygnał w oknie
CIMG5128 4S Podstawy mikroelektroniki Rys. 43. Pobór prądu inwertera CMOS. Ryg, 44. Charakterystyka
CIMG5130 52 Podstawy Mikroelektroniki 52 Podstawy Mikroelektroniki11.2. Bramka NOR Tablica prawdy i
CIMG5131 54 Podstawy Mikroelektroniki12. Kompilator układów logicznych W programie MicroMind możemy
skanuj0024 (42) Podstawowe KiiauNRi Kształtowania WaiuniAw HsrmccaNSTWA Pracy i Eroonomii
18 Wykaz publikacji Profesor Zofii Dach 1998 Podstawy mikroekonomii, Synaba, Kraków 1998. Uwagi o na
P4250099 W tabelce podano również wartości (według (V.42)) Podstawiając (V.4I) do (V.35A) i do (V.35
ScanImage01 (6) Zadanie 1 Na podstawie podanego histogramu 2D utworzyć odpowiadającą mu parę obrazów
39566 SWScan00098 42 PODSTAWOWE POJĘCIA 1 MODELE Obecnie termin ten jest dobrze znany każdemu ucznio
skanuj0082 U rojowych nu, m„ ze wzorów (7.35)+(7.42), podstawiając c0 = 2 lub e0 2,2 oraz c,.H 0, cs

więcej podobnych podstron