Gdy oscyloskop nie ma skalowanej podstawy czasu, do pomiaru czasu stosuje się próbki wzorcowe.
Jeżeli do pomiaru prędkości zostanie użyta próbka walcowa o średnicy niewiele większej od średnicy przetwornika wytwarzającego wiązkę fal podłużnych, to można jednocześnie zmierzyć prędkość propagacji fali podłużnej i fali ścinania (wg [19]).
Na rys. 5.23 przedstawiono schematycznie przebieg wiązki fal w próbce walcowej. Dzięki rozbieżności fala podłużna L dochodzi do powierzchni bocznej walca i następuje całkowite jej odbicie, któremu towarzyszy rozszczepienie fali na falę ścinania T i falę podłużną L. Kąt odbicia fali ścinania f) zgodny jest z prawem sinusów
(5.40)
sinp _ sina CL gdzie:
a - kąt padania fali podłużnej,
C, - prędkość propagacji fali ścinania, C, - prędkość propagacji fali podłużnej.
Fala ścinania napotyka znów powierzchnię boczną próbki i ulega powtórnemu odbiciu, któremu towarzyszy kolejne rozszczepienie fali itd. Zatem impulsowi fali podłużnej, który przebiegł wzdłuż osi walca i powrócił do przetwornika po odbiciu od powierzchni podstawy, towarzyszą opóźnione względem niego impulsy fal, które wskutek kolejnych odbić od powierzchni bocznych przebyły dłuższą drogę z prędkościami C, i Cr (prędkość CT jest znacznie mniejsza od CA Na rys. 5.24 przedstawiono impulsy widoczne na ekranie oscyloskopu: impuls nadany (/); impulsy odbite od powierzchni podstawy próbki (2), (i); impulsy towarzyszące (2'), (A (A (i*)>
Na podstawie zależności geometrycznych przebiegu impulsów (rys. 5.23) można napisać wzór na czas opóźnienia L pierwszego impulsu towarzyszącego impulsowi fali podłużnej
t 2/-ft*rftgP) t d _ 2/
(5.41)
^ Cfc CLsina CrcosP CL
Po podstawieniu do (5.41) zależności (5.40) w wyniku przekształcenia otrzymuje się
( 1
CL (sina
(5.42)
1 sin2 a
1
Dla małego kąta rozbieżności wiązki można przyjąć sina ~ 1, co znacznie upraszcza wzór (5.42)
h
stąd
CT
1
(5.43)
Ponieważ CL = 2 ///,, więc iloraz kwadratów prędkości fal podłużnej i poprzecznej równa się
cl |
4/2 | ||
ii |
cl |
d) |
(5.44)
193