NO6 RLC MOSTKI, lab mier6, Pomiar pierwszy


WYDZIAŁ ELEKTRONIKI TELEKOMUNIKACJI I INFORMATYKI

KATEDRA MIERNICTWA ELEKTRONICZNEGO

LABOLATORIUM PODSTAW MIERNICTWA

GRUPA: poniedziałek g.10

Ćwiczenie nr 6

Imię i nazwisko

www.eti.3miasto.net

Pomiary elementów RLC

Data wykonania ćwiczenia

20.12.1999

Data odbioru sprawozdania

Ocena zaliczenia

Uwagi i podpis

Pomiary elementów RLC - opracowanie

  1. Wstęp

Celem ćwiczenia jest poznanie wybranych układów oraz zakresu ich zastosowań, do pomiarów elementów typu rezystory, kondensatory i cewki.

  1. Mostek Wheatstone'a

Wykres czułości w zależności od zmian rezystora R1:

0x01 graphic

Wykres czułości w zależności od zmian rezystora R2:

0x01 graphic

Wnioski z pomiarów mostkiem:

Z wykresów oraz pomiarów wynika, że mostek Wheatstone'a największą czułość osiąga dla R1=1 [kΩ]. Wpływ wartości rezystancji R2 na czułość napięciową tego mostka jest niewielki, ale największa wypada dla 1 [kΩ].

Ponieważ wartość mierzona Rx wynosiła 1[kΩ] stwierdzam, że badany mostek uzyskuje optymalne warunki pomiaru (największą czułość napięciową), gdy wartość rezystancji R1 jest równa, lub w przybliżeniu równa wartości rezystancji mierzonej Rx, czyli gdy spełniony jest warunek R1=Rx, a co do wartości rezystancji R2 to nie ma ona znaczącego wpływu na warunki pracy, jednak zależność ta w moim przypadku jest podobna do poprzedniej.

  1. Grubość ścieżki

Obliczam rezystancję ścieżki: Rx=(RN/R)Rp = 58,91 [mΩ]

gdzie:

Rp - rezystancja odczytana;

RN, R - wartości dobrane;

Grubości ścieżki obliczam ze wzoru:

0x01 graphic

gdzie:

Rx - zmierzona rezystancja ścieżki;

σ - przewodność;

l - długość ścieżki (0,05[m]);

d - grubość ścieżki;

b - szerokość ścieżki;

skąd otrzymałem:

0x01 graphic

  1. Błędy pomiaru pojemności

Obliczyłem względny błąd pomiaru pojemności, oraz stratność kondensatora z wzorów ze skryptu i wypełniłem tabele 6.4 i 6.5 .

Wykres zależności błędu pomiaru δCx od współczynnika strat Ds i Dp:

0x01 graphic

Duże różnice błędów popełnianych przez miernik dla konfiguracji szeregowej i równoległej, wynikają z tego, że użyty miernik z zasady działania mierzy pojemności kondensatorów w konfiguracji równoległej. To pociąga za sobą bardzo duży błąd pomiaru pojemności kondensatorów w konfiguracji szeregowej. Taką sytuację obrazuje otrzymany wykres.

  1. Omówienie pomiaru małych pojemności

Zauważyłem, że przy pomiarach małych pojemności, użycie zwykłych tj. nie ekranowanych przewodów powoduje znaczne wahania od wartości rzeczywistej. Wpływ na to ma szereg zakłóceń pochodzących z otoczenia, odległość miedzy zastosowanymi przewodami (przy oddalaniu zauważyłem zmniejszanie pojemności). Na zmierzoną pojemność znaczący wpływ mają użyte przewody, których pojemność wpływa na pojemność mierzoną. Rozsunięcie przewodów powoduje zmniejszenie pojemności przewodów, a więc powinien też zmniejszać też błąd pomiaru, jednak nie udało mi się wyeliminować błędu, nie miał on charakteru systematycznego.

Sytuację poprawia para przewodów w ekranie. Gdy ekranu się nie uziemi to można zaobserwować podobnie duże przekłamania pomiaru pojemności jednak nie ma dużych wahań. Błąd ma charakter systematyczny, który określiłbym jako błąd metody. Po uziemieniu ekranu przewodu widać że znika wpływ pojemności przewodu na pojemność mierzoną. Nie ma już wpływu ułożenie przewodu oraz znacząco ogranicza się zakłócenia pochodzące z otoczenia, lecz zapewne na pomiar nadal ma wpływ szereg czynników, np. rezystancja styków.

  1. Moduł impedancji i kąt fazowy

Ogólny wzór opisujący impedancję szeregowego połączenia cewki Lx i rezystancji Rx ma postać: Zx=Rx+jωLx . Stąd obliczamy moduł |Zx| i kąt przesunięcia fazowego x:

0x01 graphic

Obliczam:

0x01 graphic

  1. Błędy pomiaru pojemności

Wykres zależności względnego błędu pomiaru pojemności δCx w funkcji rezystancji bocznikującej Rd na podstawie uzyskanych w tabeli 6.6:

0x01 graphic

Wnioski z pomiarów pojemności:

Na podstawie przeprowadzonych pomiarów pojemności wnioskuję, że jeżeli mierzymy pojemności o dużym współczynniku strat D lub zbocznikowanych rezystancją, niewielki błąd pomiarowy zapewni nam miernik RLC, który z zasady działania jest przystosowany do pomiaru takich pojemności. Z kolei popularny multimetr nie powinien być używany do tego typu pomiarów. Uważam, że multimetru należy używać do pomiaru pojemności pojedynczych kondensatorów (np. po wylutowaniu badanego elementu z układu) a przy kondensatorze o dużym współczynniku strat może służyć do otrzymania orientacyjnej wielkości mierzonej pojemności.

1



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
NO6 RLC MOSTKI, Mrn6tabele, WYDZIA˙ ELEKTRONIKI
NO5 NAPIECIA ZMIENNE, lab mier5, Pomiar pierwszy
NO4 MULTIMETR CYFROWY, lab mier4, Pomiar pierwszy
NO4 MULTIMETR CYFROWY, lab mier4, Pomiar pierwszy
NO6 RLC MOSTKI, MR6 OPR, LABORATORIUM PODSTAW MIERNICTWA
NO6 RLC MOSTKI, thom6, WYDZIAŁ ELEKTRONIKI
NO1 WZORCOWANIE, lab mier1, Pomiar pierwszy
NO6 RLC MOSTKI, LABMIER6, Damian grupa 2
NO6 RLC MOSTKI, MRN6, WYDZIA˙ ELEKTRONIKI
Pomiary I w obwodach RL, RC i RLC, TA LAB 2 1
Pomiary I w obwodach RL, RC i RLC TA LAB 2
Pomiary I w obwodach RL, RC i RLC TA LAB 2 1
Wyznaczanie pojemności cieplnej właściwej Cp gazów - dok, Obliczanie dla pomiaru pierwszego:
Badanie optoelektrycznych właściwości przyrządów półprzewodnikowych 1 , Pomiar pierwszy
Lab.11, lab2 pierwszastrona, I TD
Lab.1, Tabela z pomiarami
Filtrowanko, IŚ Tokarzewski 27.06.2016, III semestr, Mechanika płynów, Laboratoria (sprawozdania), L

więcej podobnych podstron