8663393935

8663393935



W metodzie tej wyniki są powtarzalne tylko dla określonych głębokości odcisków. Kształt kulki decyduje o tym, że nacisk zaczyna się od nacisku/punktowego, a pole powierzchni odcisku stopniowo wzrasta. Przy małych głębokościach odcisków warstwa powierzchniowa tworzywa może wpływać na zniekształcenie wyników, przy dużych odciskach wgłębiająca się kulka rozszerza tylko powstały już odcisk. Wyniki oblicza się wg wzoru

(2)


F

’ -Oh

gdzie: D — średnica kulki, mm; h - głębokość odcisku, mm; F - obciążenie, N.

Aparatura pomiarowa. Do badania używa się aparatu Brinella (rys. 2), w którym można nastawiać obciążenie wstępne i kilka do wyboru obciążeń roboczych. Czujnik rejestruje głębokość wgniotu pod naciskiem. Stosuje się próbki płaskorównoległe o grubości nie mniejszej niż 4 mm.

Wykonanie pomiaru. Należy ustalić za pomocą klocka z miękkiej miedzi pod wstępnym obciążeniem F0 = 9,8 N odkształcenie ramy przyrządu łi2, jakie wystąpi w czasie pomiaru z zastosowaniem wybranego obciążenia pomiarowego Fm. W tym celu należy wybrać jedno z następujących obciążeń pomiarowych: 49, 132, 358 lub 961 N. Obciążenie pomiarowe jest to obciążenie, przy którym głębokość odcisku wynosi 0,15-0,35 mm. Uwzględniając odkształcenie ramy można obliczyć zredukowane obciążenie wg wzoru

r. r-    0,21

F = F -

1    (h-h,) + 0,21    ^’

gdzie: Fm - obciążenie pomiarowe. N; h, - zredukowana głębokość odcisku 0,25 mm; h - znaleziona w czasie pomiaru głębokość odcisku, mm; h2 - odkształcenie ramy przyrządu pod obciążeniem pomiarowym Fm, mm; h = hi -h2 - głębokość odcisku w mm po wprowadzeniu poprawki h2.

Do próbki umieszczonej na stoliku przykłada się obciążenia wstępne oraz pomiarowe i mierzy po 30 s głębokość odcisku. Należy wykonać 10 pomiarów nie bliżej niż 10 mm od krawędzi próbki. Wyniki oblicza się wg wzoru (2).



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
skanuj0004 (207) Te niesamowite obrazki wabiły swoją grafiką, ale od razu pokazały mi, że są talią t
IMG96 (7) Wariant pojedynczego dodatku wzorcaW metodzie tej wykorzystujemy dwa pomiary. * pierwsi d
Ścisłe rozwiązania równania Schródingera są znane tylko dla kilku najprostszych układów (cząstka w
metoda ABC: W metodzie tej zapasy są pogrupowane według kolejności od najdroższych do najmniej cenny
s6(4) e*$ić II ZASTOSOWANIA Takie dane są dostępne tylko dla państw członkowskich OECD. Spośród nich
P4250114 grubością warstwy przyściennej i cięciwą 5 istnieje stały stosunek tylko dla określonej par
KINETYKA SZYBKICH REAKCJI DWUCZĄSTECZKOWYCH 49 todzie tej wykonywane są dwa pomiary: dla badanej pró
Zadania 257 c.    te części nieświadomości, które są typowe tylko dla danej
jest zbyt jasny, istnieje domniemanie kompetencji na rzecz RG. Pewne kompetencje są zastrzeżone tylk
DSCF6639 234 częściową kompensację: Aberrację sferyczną można usunąć tylko dla określonych odległośc
216 217 Kartograficzne metody prezentacji___    . ■ _ są słuszne tylko dla takiego wł
eksperymentu pomiary są powtarzane dla organizmów w określonych stanach i środowiskach. Doświadczeni
171 pcx Rozdział 8. ♦ Efektywność sieci zawierającej konwertery 171 kiem od tej reguły są wyniki dla

więcej podobnych podstron