.
Bezpieczeństwo systemu- to zdolność tego systemu do zachowania zdrowia i życia osób znajdujących się w tym systemie i jego otoczeniu; zdolność do nie powodowania zniszczeń w środku i otoczeniu.
Eksploatowanie:
1. użytkowanie; urządzenie to wykonuje pracę dla nas
2. obsługiwanie; urządzenie nie pracuje, a my pracujemy przy urządzeniu
-czynności o charakterze profilaktyczno- zapobiegawczymi
-przywrócenie dostanu przydatności zepsutego obiektu
-obsługa techniczna
-serwis
3. przechowywanie; ani my nie pracujemy dla urządzenia, ani urządzenia dla nas - przerwy pomiędzy użytkowaniem, a obsługą.
Modele matematyczne:
deterministyczne
probabilistyczne
Zbudowanie modelu probabilistycznego zmusza do określenia:
-zbioru zdarzeń elementarnych;
-rodziny zdarzeń losowych;
-miary probabilistycznej (taka funkcja, która zdarzeniu przyporządkowuje pewną liczbę; liczba ta musi być dodatnia) ta miara musi spełniać następujące warunki:
Żeby opisać procesy eksploatacji potrzebna jest:
Zmienna losowa - pewna wielkość liczbowa, która przyjmuje wartości w zależności od wyniku pewnego doświadczenia.
Co jest potrzebne by powiedzieć, że jest znana?
1.Zbiór wartości, jakie ta zmienna losowa może przyjmować.
2.Prawdopodobieństwo z jakim te wartości są przyjmowane.
Rozkład zmiennej losowej - funkcja, która w sposób jednoznaczny wartościom zmiennej losowej
przyporządkowuje prawdopodobieństwo przyjęcia przez zmienną losową właśnie tej wartości.
Zmienna losowa dyskretna (skokowa, punktowa) - kiedy zbiór jej wartości jest skończony lub co najmniej przeliczalny.
Zmienna losowa ciągła - zbiór wartości może być ograniczony ale jest nieprzeliczalny; pomiędzy dwie dowolne wartości tej zmiennej (dwie liczby rzeczywiste) możemy włożyć nieskończenie wiele innych wartości (liczb rzeczywistych) (np. temperatura).
Dyskretyzacja zmiennej losowej - ze zmiennej losowej ciągłej robimy dyskretną np. przy temperaturze korzystamy z termometru o dokładności (podziałce) 0,01ºC.
Gęstość prawdopodobieństwa zmiennej losowej - granica, do której dąży iloraz prawdopodobieństwa tego, że zmienna losowa przyjmie wartość należącą do danego przedziału, do długości tego przedziału, gdy długość ta dąży do zera.
Wartość oczekiwana zmiennej losowej (E) - jedna konkretna liczba
- większa od najmniejszej wartości jaką zmienna losowa może przyjąć;
- mniejsza od największej wartości jaką zmienna losowa może przyjąć.
Np. rzut kostką. Wartości 1, 2, 3, 4, 5, 6.
Wariancja zmiennej losowej - miara skupienia zmiennej losowej wokół wartości oczekiwanej.
Niezawodność urządzenia - zdolność urządzenia do spełniania określonych wymagań w określonych warunkach.
OBIEKTY PROSTE JEDNOKROTNEGO DZIAŁANIA
Jednokrotność działania - obiekty nieodnawialne
Obiekty dwustanowe - binarne - jeden z dwóch wzajemnie wykluczających się stanów np. żarówka działa lub nie.
Zmienna losowa
T - czas poprawnej pracy obiektu - jaki upływa od momentu gdy urządzenie rozpoczyna działanie do chwili gdy przechodzi ono w stan niezdatności.
Stan graniczny...?
Poziom zawodności i niezawodności...?
Gęstość prawdopodobieństwa uszkodzeń może być rozumiana jako bezwzględny spadek niezawodności w czasie.
Intensywność uszkodzeń
λ(t) - intensywność uszkodzeń (funkcja ryzyka)
Warunkowa gęstość prawdopodobieństwa wystąpienia uszkodzenia w małym przedziale czasu pod warunkiem, że na początku tego przedziału obiekt znajdował się w stanie zdatności.
Empiryczne oszacowanie wskaźników niezawodności
N(t) - liczba obiektów, które dotrwały dodanejchwili.
N - liczba obiektów badanych
Gęstość prawdopodobieństwa
-ilość obiektów,które uległy uszkodzeniu wprzedziale
Oczekiwany czas zdatności urządzenia
ti = czas, który i-ty obiekt przepracował zanim się rozpadł.
Aby określić charakterystyki funkcyjne należy przeprowadzić badania. Ogół obiektów, które nas interesują nazywamy populacją ogólną. Każdy z elementów tej populacji nazywa się jednostką populacji. Każda z jednostek ma pewne własności nazywane cechami. Te cechy można podzielić na dwie zasadnicze grupy:
cechy wspólne, aby ten obiekt zaliczyć do tej populacji;
cechy różnicujące te obiekty w obrębie danej populacji.
Jeżeli nie ma tych pierwszych cech, to nie ma tam zbiorowości, jeżeli nie ma tej drugiej, to wszystkie są takie same.
Prowadzimy albo badania wyczerpujące - badamy wszystkie elementy należące do danej populacji lub częściowe, gdy badamy fragment populacji ogólnej.
Fragment populacji ogólnej nazywany jest populacją próbną lub próbą.
Badań wyczerpujących w odniesieniu do populacji licznych nie robimy.
Jak wyłonić próbne populacje?
Co oznacza, że próba jest reprezentatywna? → rozkład cechy będącej przedmiotem badania w próbie niewiele różni się od rozkładu cechy w populacji.
Mamy dwie podstawowe techniki losowania:
I - losowanie niezależne - ze zwrotem próbek;
II - losowanie zależne - bez zwracania próbek.
Schematy wyłaniania próby:
losowanie wielostopniowe (badanie)
dzień badania; wagon; pudło; sztuka
Losowanie metodą prób warstwowych - podział populacji na warstwy ze względu na cechę, która aktualnie nie jest przedmiotem badania; np.
100 autek
10 - niecały rok;
40 - pojazdy dwuletnie;
50 - pojazdy dziesięcioletnie.
OBIEKTY ZŁOŻONE!!!
Czyli teraz uwzględnimy elementy składowe.
Struktura niezawodnościowa systemu jest to taka funkcja, która każdej kombinacji stanów elementów tegoż systemu w sposób jednoznaczny przyporządkowuje stan tego systemu jako całości.
Obiekty binarne?
Wiem z jakich elementów składa się obiekt, wiem, jaki jest stan poszczególnych elementów - mogę powiedzieć jaki jest stan systemu. Zanim poznamy strukturę niezawodności systemu, musimy wiedzieć jaką funkcję ma ten system do spełnienia i od którego momentu staje się on niezdatny.
Jak przedstawić strukturę niezawodności systemu?
graf;
tablica! → funkcja logiczna
Jeżeli zmienimy kryterium zdatności systemu to uzyskujemy różne struktury niezawodnościowe
STRUKTURY KOHERENTNE
Si - stan i-tego elementu;
S - stan systemu;
ϕ: S1 x S2 x S3 x ... x Sn → S
Mamy trzy warunki:
1)Jeżeli wszystkie elementy są zdatne - system jest zdatny
2)Jeżeli wszystkie elementy są niezdatne - system jest niezdatny
3)Uszkodzenie elementu nie powoduje podniesienia niezawodności systemu (mechanizm samodestrukcji się uszkodzi i urządzenie działa dłużej)
Ścieżką zdatności nazywamy każdy taki zbiór elementów systemu, których funkcjonowanie zapewnia funkcjonowanie systemu jako całości.
Minimalna ścieżka zdatności → to jest taka ścieżka zdatności, z której wyłączenie co najmniej jednego elementu spowoduje uszkodzenie urządzenia.
Przekrój niezdatności → taki podzbiór elementów urządzenia, których uszkodzenie powoduje uszkodzenie urządzenia jako całości:
Minimalny przekrój niezdatności (cięcie) to taki przekrój niezdatności, który charakteryzuje się tym, że wyłączenie z niego co najmniej jednego elementu powoduje to, że całe urządzenie nie przestaje działać (taki przekrój, który nie zawiera żadnego innego).
NADMIARY
-strukturalne - wprowadzanie do struktury urządzenia elementów, bez których urządzenie to może działać, a które służą tylko podnoszeniu jego niezawodności
-funkcjonalne - inne elementy układu; są w stanie przejąć pewne funkcje elementu uszkodzonego
-parametryczne;
-czasowe - po uszkodzeniu elementu dysponujemy pewnym czasem na podjęcie działań przed wystąpieniem uszkodzenia urządzenia
GRUPA REZERWOWA -zespół elementów, który składa się z elementu podstawowego i elementów rezerwowych (co najmniej jednego)
GOTOWOŚĆ (techniczna) obiektu jest mierzona prawdopodobieństwem tego, że w danej chwili obiekt jest zdatny. Prawdopodobieństwo to jest wyrażane przy pomocy współczynnika gotowości. Chcemy, by gotowość była możliwie duża - mamy dwie możliwości jej podnoszenia:
1)Stworzenie takiego urządzenia, które rzadko ulega uszkodzeniu: do tego wymagane są lepsze materiały; bardzo staranna obróbka; lepsza technologia - minus koszty takiej drogi!
2)Zapewnienie możliwości najszybszego naprawienia urządzenia, które uległo uszkodzeniu.
Szybkość naprawiania urządzenia zależy od:
--podatności obsługowo naprawczej tego urządzenia, która jest jego cechą;
--sposobu organizacji zaplecza technicznego (np. System do bani - 1000 obiektów, a 1 osoba do obsługi - katastrofa) na co składa się:
-wielkość tego zaplecza
-oprzyrządowanie
-wiedza i doświadczenie ludzi tam zatrudnionych
INTENSYWNOŚĆ USZKODZEŃ
Oznaczana jest symbolem λ(t) i nazywana inaczej jest funkcją ryzyka. Jest to gęstość warunkowa prawdopodobieństwa powstania uszkodzenia w małym przedziale czasu pod warunkiem, że na początku tego przedziału obiekt znajdował się w stanie zdatności.
λ(t) = f(t) / R(t) = - R'(t) / R(t)
Intensywność uszkodzeń to względny spadek niezawodności w czasie.
CZAS ZDATNOŚCI.
Oznaczany jest symbolem ET i jest to czas przez jaki nowo powstałe urządzenie, element powinny
pracować bezawaryjnie, czyli winien być zdatny.
Wzory z kartki na ET. Wykres.
POZOSTAŁY CZAS ZDATNOŚCI.
Oznaczany jest symbolem E(t) i dotyczy elementów, urządzeń używanych wcześniej już.
E(t) = E (T - t) / T ≥ t gdzie:
T - czas życia obiektu
t - czas obecny, gdy chcemy kupić urządzenie
/ - pod warunkiem
T ≥ t - że to urządzenie jeszcze pracuje
STRUKTURA NIEZAWODNOŚCIOWA SYSTEMU.
Mamy z nią do czynienie wówczas, gdy stykamy się z obiektami złożonymi, czyli mającymi elementy składowe.
Strukturą niezawodnościową systemu nazywamy taką funkcję, która każdej kombinacji stanów elementów systemu w sposób jednoznaczny przyporządkowuje stan tego systemu jako całości.
Przedstawić ją można za pomocą grafu, funkcji logicznej. Zmieniając kryterium zdatności systemu otrzymujemy różne struktury niezawodności:
-szeregowa
-równoległa
-mieszana
NIEZAWODNOŚĆ- zdolność urządzenia do spełnienia określonych wymagań w określonych warunkach.
Funkcja niezawodności jest to prawdopodobieństwo tego, że urządzenie nie uszkodzi się przed upływem czasu t. R(t) = P (T≥ t)
FUNKCJA ODNOWY jest oczekiwaną liczbą uszkodzeń danego urządzenia, która wystąpi w przedziale czasu od 0 do t. Przy jej pomocy możemy prognozować zapotrzebowanie na części zamienne, czyli wielkość zaplecza technicznego niezbędnego do zaspokojenia zapotrzebowania na czynności naprawcze. .
H (t) = E (N(t))
Jest to oczekiwana wartość procesu odnowy.
PROCES ODNOWY { N(t), t ≥ 0 } jest to proces losowy przedstawiający ilość uszkodzeń, która wystąpiła do chwili t.
P(Sn < t) = P(N(t) ≥ n) N(t) - proces odnowy
P(N(t) = 0) = R1(t)
R1(t) - nie nastąpiło żadne uszkodzenie do tej chwili
P(N(t) = n) = Fn(t) - Fn+1(t)
Przyjmuje konkretną wartość n.
Fn(t) - dystrybuanta
ROZKŁAD WYKŁADNICZY - zmienna losowa ma charakter ciągły, posiada jeden parametr λ.
ROZKŁAD JEDNOSTAJNY - zmienna losowa ma charakter ciągły, posiada dwa parametry t i k.