PODSTAWY
METROLOGII
Wykład 1
Dr in
Dr in
ż
ż
. Stanis
. Stanis
ł
ł
aw FITA
aw FITA
B4 p. 2.12 lub B9 p. 9
B4 p. 2.12 lub B9 p. 9
Tematyka wykładów:
Podstawowe poj
Podstawowe poj
ę
ę
cia metrologiczne
cia metrologiczne
Jednostki miar i ich powi
Jednostki miar i ich powi
ą
ą
zanie (uk
zanie (uk
ł
ł
ad SI)
ad SI)
Wzorce jednostek miar
Wzorce jednostek miar
B
B
łę
łę
dy i metody pomiar
dy i metody pomiar
ó
ó
w
w
Niepewno
Niepewno
ść
ść
pomiarowa i jej wyznaczenie
pomiarowa i jej wyznaczenie
Sygna
Sygna
ł
ł
y i ich przetwarzanie
y i ich przetwarzanie
Przyrz
Przyrz
ą
ą
dy pomiarowe i ich w
dy pomiarowe i ich w
ł
ł
a
a
ś
ś
ciwo
ciwo
ś
ś
ci
ci
Opracowanie wynik
Opracowanie wynik
ó
ó
w pomiar
w pomiar
ó
ó
w
w
Zasady prowadzenia eksperyment
Zasady prowadzenia eksperyment
ó
ó
w
w
Zasady zaliczania kursu
Obecność na wykładzie nie jest obowiązkowa.
Podstawą zaliczenia kursu jest kolokwium na
ostatnim wykładzie.
Formą zaliczenia jest „test z wyboru”.
Osoby niezadowolone z wyników testu mają
prawo do terminu poprawkowego.
Za obecność na wykładzie (sprawdzaną
wybiórczo) można uzyskać dodatkowe punkty
do zaliczenia.
Literatura:
Jaworski
Jaworski
J.:
J.: Matematyczne podstawy
Matematyczne podstawy
metrologii,
metrologii,
WNT Warszawa, 1979, ss. 365
WNT Warszawa, 1979, ss. 365
Szyd
Szyd
ł
ł
owski
owski
H. i inni
H. i inni
:
: Teoria pomiar
Teoria pomiar
ó
ó
w
w
, PWN
, PWN
Warszawa, 1981, ss.441
Warszawa, 1981, ss.441
Piotrowski
Piotrowski
J.:
J.: Teoria pomiar
Teoria pomiar
ó
ó
w
w
, PWN
, PWN
Warszawa, 1986, ss. 281
Warszawa, 1986, ss. 281
Piotrowski
Piotrowski
J.:
J.: Pomiarowe zastosowanie analizy
Pomiarowe zastosowanie analizy
sygna
sygna
ł
ł
ó
ó
w
w
, PWN Warszawa, 1991, ss. 159
, PWN Warszawa, 1991, ss. 159
Abramowicz
Abramowicz
H.:
H.: Jak analizowa
Jak analizowa
ć
ć
wyniki
wyniki
pomiar
pomiar
ó
ó
w?
w?
,
,
PWN Warszawa, 1992, ss. 120
PWN Warszawa, 1992, ss. 120
Jaworski
Jaworski
J., Morawski R.,
J., Morawski R.,
Ol
Ol
ę
ę
dzki
dzki
J.:
J.: Wst
Wst
ę
ę
p do
p do
metrologii i techniki eksperymentu
metrologii i techniki eksperymentu
, WNT
, WNT
Warszawa, 1992, ss. 212
Warszawa, 1992, ss. 212
Taylor
Taylor
J.R.:
J.R.: Wst
Wst
ę
ę
p do analizy b
p do analizy b
łę
łę
du
du
pomiarowego
pomiarowego
, Wydawnictwo Naukowe PWN
, Wydawnictwo Naukowe PWN
Warszawa, 1995, ss. 297
Warszawa, 1995, ss. 297
Mi
Mi
ę
ę
dzynarodowy s
dzynarodowy s
ł
ł
ownik podstawowych i
ownik podstawowych i
og
og
ó
ó
lnych termin
lnych termin
ó
ó
w metrologii
w metrologii
(t
(t
ł
ł
um. J.
um. J.
Dudziewicz
Dudziewicz
), GUM Warszawa, 1996
), GUM Warszawa, 1996
Guide
Guide
to
to
the Expression of Uncertainty in
the Expression of Uncertainty in
Measurement
Measurement
, II
, II
mi
mi
ę
ę
dzynarodowe wyd., ISO,
dzynarodowe wyd., ISO,
1995, polski tytu
1995, polski tytu
ł
ł
:
:
Wyrażanie niepewności
pomiaru. Przewodnik
, uzupe
, uzupe
ł
ł
niony o dodatek
niony o dodatek
J.
J.
Jaworskiego
Jaworskiego
Niedok
Niedok
ł
ł
adno
adno
ść
ść
, b
, b
łą
łą
d, niepewno
d, niepewno
ść
ść
Bielski A.,
Bielski A.,
Ciury
Ciury
ł
ł
o
o
R.:
R.: Podstawy metod
Podstawy metod
opracowania pomiar
opracowania pomiar
ó
ó
w
w
, UMK Toru
, UMK Toru
ń
ń
, 1998, ss.
, 1998, ss.
210
210
Gajda
Gajda
J., Szyper M.:
J., Szyper M.: Modelowanie i badania
Modelowanie i badania
symulacyjne system
symulacyjne system
ó
ó
w pomiarowych
w pomiarowych
, AGH &
, AGH &
Jartek
Jartek
S.C. Krak
S.C. Krak
ó
ó
w, 1998, ss. 411
w, 1998, ss. 411
Gundlach
Gundlach
W.,
W.,
Ciep
Ciep
ł
ł
ucha
ucha
J.,
J.,
Kozanecka
Kozanecka
D.:
D.:
Podstawy metrologii
Podstawy metrologii
, cz
, cz
ęść
ęść
I
I
-
-
III, wyd. 2,
III, wyd. 2,
Politechnika
Politechnika
Ł
Ł
ó
ó
dzka, 1989, ss. 417
dzka, 1989, ss. 417
Zakrzewski
Zakrzewski
J.:
J.: Podstawy metrologii dla
Podstawy metrologii dla
kierunku mechanicznego
kierunku mechanicznego
, skrypt nr 1670,
, skrypt nr 1670,
Politechnika
Politechnika
Ś
Ś
l
l
ą
ą
ska, Gliwice, 1991, ss. 84
ska, Gliwice, 1991, ss. 84
Urban A.:
Urban A.: Podstawy miernictwa
Podstawy miernictwa
, skrypt
, skrypt
Politechniki Warszawskiej, 1992
Politechniki Warszawskiej, 1992
Poprawski
Poprawski
R.,
R.,
Salejda
Salejda
W.:
W.: Podstawy rachunku
Podstawy rachunku
b
b
łę
łę
d
d
ó
ó
w i opracowania wynik
w i opracowania wynik
ó
ó
w pomiaru
w pomiaru
-
-
Ć
Ć
wiczenia laboratoryjne z fizyki, cz
wiczenia laboratoryjne z fizyki, cz
ęść
ęść
I, wyd.2,
I, wyd.2,
Politechnika Wroc
Politechnika Wroc
ł
ł
awska, 1998, ss. 99
awska, 1998, ss. 99
Turzeniecka
Turzeniecka
D.:
D.: Ocena niepewno
Ocena niepewno
ś
ś
ci wyniku
ci wyniku
pomiar
pomiar
ó
ó
w
w
, Politechnika Pozna
, Politechnika Pozna
ń
ń
ska, 1997
ska, 1997
Zawada J.:
Zawada J.: Wybrane zagadnienia z podstaw
Wybrane zagadnienia z podstaw
metrologii
metrologii
, Politechnika
, Politechnika
Ł
Ł
ó
ó
dzka, 1997, ss. 120
dzka, 1997, ss. 120
Piotrowski
Piotrowski
J.:
J.: Procedury pomiarowe i
Procedury pomiarowe i
estymacje sygna
estymacje sygna
ł
ł
ó
ó
w
w
, skrypt nr
, skrypt nr
1889, Politechnika
1889, Politechnika
Ś
Ś
l
l
ą
ą
ska, Gliwice, 1994, ss. 296
ska, Gliwice, 1994, ss. 296
Ł
Ł
ukaszek
ukaszek
W.:
W.: Podstawy statystycznego
Podstawy statystycznego
opracowania pomiar
opracowania pomiar
ó
ó
w
w
, wyd. 3, skrypt nr 1896,
, wyd. 3, skrypt nr 1896,
Politechnika
Politechnika
Ś
Ś
l
l
ą
ą
ska, Gliwice, 1995
ska, Gliwice, 1995
METROLOGIA
Metrologia
Metrologia
jest nauk
jest nauk
ą
ą
o pomiarach.
o pomiarach.
Nazwa
Nazwa Metrologia
Metrologia
pochodzi od greckich
pochodzi od greckich
s
s
ł
ł
ó
ó
w:
w:
„
„
metro
metro
”
”
–
–
miara i
miara i
„
„
logia
logia
”
”
-
-
nauka.
nauka.
W
W
„
„
Ma
Ma
ł
ł
ej encyklopedii metrologii
ej encyklopedii metrologii
”
”
podano
podano
tak
tak
ą
ą
definicj
definicj
ę
ę
metrologii:
metrologii:
„
„
Dziedzina nauki i techniki zajmuj
Dziedzina nauki i techniki zajmuj
ą
ą
ca si
ca si
ę
ę
pomiarami i wszystkimi czynno
pomiarami i wszystkimi czynno
ś
ś
ciami
ciami
niezb
niezb
ę
ę
dnymi do wykonywania pomiar
dnymi do wykonywania pomiar
ó
ó
w
w
”
”
.
.
METROLOGIA
Metrologia
Metrologia
jest nauk
jest nauk
ą
ą
z pogranicza techniki
z pogranicza techniki
i prawa i dzieli si
i prawa i dzieli si
ę
ę
j
j
ą
ą
na:
na:
1)
1)
metrologi
metrologi
ę
ę
techniczn
techniczn
ą
ą
, w kt
, w kt
ó
ó
rej wyr
rej wyr
ó
ó
ż
ż
nia
nia
si
si
ę
ę
metrologi
metrologi
ę
ę
naukow
naukow
ą
ą
,
, przemys
przemys
ł
ł
ow
ow
ą
ą
i
i
laboratoryjn
laboratoryjn
ą
ą
,
,
2)
2)
metrologi
metrologi
ę
ę
prawn
prawn
ą
ą
.
.
Metrologia przemys
Metrologia przemys
ł
ł
owa
owa
zajmuje si
zajmuje si
ę
ę
wszystkimi
wszystkimi
us
us
ł
ł
ugami metrologicznymi, kt
ugami metrologicznymi, kt
ó
ó
re s
re s
ą
ą
zwi
zwi
ą
ą
zane z procesami
zane z procesami
produkcyjnymi w przemy
produkcyjnymi w przemy
ś
ś
le.
le.
Metrologia laboratoryjna
Metrologia laboratoryjna
zajmuje si
zajmuje si
ę
ę
pomiarami w
pomiarami w
laboratoriach badawczych i wzorcuj
laboratoriach badawczych i wzorcuj
ą
ą
cych w kt
cych w kt
ó
ó
rych
rych
wykonuje si
wykonuje si
ę
ę
wzorcownie przyrz
wzorcownie przyrz
ą
ą
d
d
ó
ó
w pomiarowych i
w pomiarowych i
badania typu (pe
badania typu (pe
ł
ł
ne) przyrz
ne) przyrz
ą
ą
d
d
ó
ó
w pomiarowych.
w pomiarowych.
Metrologia prawna
Metrologia prawna
jest dzia
jest dzia
ł
ł
em metrologii odnosz
em metrologii odnosz
ą
ą
cym
cym
si
si
ę
ę
do jednostek miar, metod pomiarowych i narz
do jednostek miar, metod pomiarowych i narz
ę
ę
dzi
dzi
pomiarowych z punktu widzenia urz
pomiarowych z punktu widzenia urz
ę
ę
dowo ustalonych
dowo ustalonych
wymaga
wymaga
ń
ń
technicznych i prawnych maj
technicznych i prawnych maj
ą
ą
cych na celu
cych na celu
zapewnienie jednolito
zapewnienie jednolito
ś
ś
ci miar, poprawno
ci miar, poprawno
ś
ś
ci uzyskiwanych
ci uzyskiwanych
wynik
wynik
ó
ó
w pomiar
w pomiar
ó
ó
w i nale
w i nale
ż
ż
ytej dok
ytej dok
ł
ł
adno
adno
ś
ś
ci pomiar
ci pomiar
ó
ó
w.
w.
Metrologia współczesna dotyczy:
pomiar
pomiar
ó
ó
w warto
w warto
ś
ś
ci wielko
ci wielko
ś
ś
ci,
ci,
rozk
rozk
ł
ł
ad
ad
ó
ó
w (przestrzennych i czasowych)
w (przestrzennych i czasowych)
wielko
wielko
ś
ś
ci,
ci,
funkcjona
funkcjona
ł
ł
ó
ó
w lub transformat
w lub transformat
–
–
okre
okre
ś
ś
lonych na
lonych na
wielko
wielko
ś
ś
ciach lub rozk
ciach lub rozk
ł
ł
adach wielko
adach wielko
ś
ś
ci,
ci,
charakterystyk
charakterystyk
–
–
zale
zale
ż
ż
no
no
ś
ś
ci mi
ci mi
ę
ę
dzy wielko
dzy wielko
ś
ś
ciami,
ciami,
rozk
rozk
ł
ł
adami wielko
adami wielko
ś
ś
ci, funkcjona
ci, funkcjona
ł
ł
ami i
ami i
transformatami wielko
transformatami wielko
ś
ś
ci,
ci,
parametr
parametr
ó
ó
w reprezentacji rozk
w reprezentacji rozk
ł
ł
ad
ad
ó
ó
w transformat i
w transformat i
zale
zale
ż
ż
no
no
ś
ś
ci mi
ci mi
ę
ę
dzy nimi
dzy nimi
Trochę historii
Metrologia
Metrologia
-
-
dziedzina wiedzy obejmuj
dziedzina wiedzy obejmuj
ą
ą
ca
ca
wszystko, co zwi
wszystko, co zwi
ą
ą
zane jest z pomiarami, ma
zane jest z pomiarami, ma
d
d
ł
ł
ug
ug
ą
ą
, nie
, nie
ź
ź
le udokumentowan
le udokumentowan
ą
ą
histori
histori
ę
ę
, si
, si
ę
ę
gaj
gaj
ą
ą
c
c
ą
ą
10 tys. lat.
10 tys. lat.
Historycznie najstarsze by
Historycznie najstarsze by
ł
ł
y pomiary d
y pomiary d
ł
ł
ugo
ugo
ś
ś
ci i
ci i
odleg
odleg
ł
ł
o
o
ś
ś
ci, obj
ci, obj
ę
ę
to
to
ś
ś
ci cia
ci cia
ł
ł
p
p
ł
ł
ynnych i sypkich, masy
ynnych i sypkich, masy
oraz czasu.
oraz czasu.
Wymiary przedmiot
Wymiary przedmiot
ó
ó
w mierzono pocz
w mierzono pocz
ą
ą
tkowo
tkowo
por
por
ó
ó
wnuj
wnuj
ą
ą
c je na przyk
c je na przyk
ł
ł
ad z elementami cia
ad z elementami cia
ł
ł
a
a
cz
cz
ł
ł
owieka, jego wydolno
owieka, jego wydolno
ś
ś
ci
ci
ą
ą
, otoczeniem.
, otoczeniem.
Wykszta
Wykszta
ł
ł
ci
ci
ł
ł
y si
y si
ę
ę
takie jednostki d
takie jednostki d
ł
ł
ugo
ugo
ś
ś
ci, jak:
ci, jak:
cal (szeroko
cal (szeroko
ść
ść
du
du
ż
ż
ego palca, szeroko
ego palca, szeroko
ś
ś
ci o
ci o
ś
ś
miu
miu
ziaren j
ziaren j
ę
ę
czmienia),
czmienia),
pi
pi
ę
ę
d
d
ź
ź
(odcinek miedzy czubkami kciuka i ma
(odcinek miedzy czubkami kciuka i ma
ł
ł
ego
ego
palca),
palca),
stopa,
stopa,
ł
ł
okie
okie
ć
ć
.
.
Odleg
Odleg
ł
ł
o
o
ś
ś
ci, czyli wi
ci, czyli wi
ę
ę
ksze d
ksze d
ł
ł
ugo
ugo
ś
ś
ci, mierzono
ci, mierzono
takimi jednostkami, jak:
takimi jednostkami, jak:
krok,
krok,
bruzda (d
bruzda (d
ł
ł
ugo
ugo
ść
ść
bruzdy, po zaoraniu, kt
bruzdy, po zaoraniu, kt
ó
ó
rej nale
rej nale
ż
ż
y
y
pozwoli
pozwoli
ć
ć
wo
wo
ł
ł
om odpocz
om odpocz
ąć
ąć
: 100 st
: 100 st
ó
ó
p w Grecji i
p w Grecji i
120 w Rzymie),
120 w Rzymie),
staje (grecki stadion
staje (grecki stadion
-
-
dystans, kt
dystans, kt
ó
ó
ry mo
ry mo
ż
ż
na
na
przebiec z maksymalna pr
przebiec z maksymalna pr
ę
ę
dko
dko
ś
ś
ci
ci
ą
ą
.
.
Z czasem nast
Z czasem nast
ę
ę
powa
powa
ł
ł
a obiektywizacja jednostek droga
a obiektywizacja jednostek droga
wprowadzenia
wprowadzenia
ś
ś
redniej d
redniej d
ł
ł
ugo
ugo
ś
ś
ci stopy lub
ci stopy lub
ł
ł
okcia
okcia
pewnej zbiorowo
pewnej zbiorowo
ś
ś
ci ludzkiej.
ci ludzkiej.
Wg. definicji
Wg. definicji
ś
ś
redniej stopy, autorstwa
redniej stopy, autorstwa
Jacoba Kobela
Jacoba Kobela
z
z
1575 r. nale
1575 r. nale
ż
ż
a
a
ł
ł
o wyznaczy
o wyznaczy
ć
ć
ś
ś
redni
redni
ą
ą
z pomiaru st
z pomiaru st
ó
ó
p
p
"..16 m
"..16 m
ęż
ęż
czyzn ma
czyzn ma
ł
ł
ych i du
ych i du
ż
ż
ych, wybranych
ych, wybranych
przypadkowo w kolejno
przypadkowo w kolejno
ś
ś
ci wychodzenia z ko
ci wychodzenia z ko
ś
ś
cio
cio
ł
ł
a po
a po
mszy niedzielnej".
mszy niedzielnej".
Wobec oczywistych wad naturalnych wzorc
Wobec oczywistych wad naturalnych wzorc
ó
ó
w
w
d
d
ł
ł
ugo
ugo
ś
ś
ci, zachowuj
ci, zachowuj
ą
ą
c nazwy jednostek, wprowadzono
c nazwy jednostek, wprowadzono
ich wzorce sztuczne w postaci odcink
ich wzorce sztuczne w postaci odcink
ó
ó
w zaznaczonych
w zaznaczonych
na
na
ś
ś
cianach
cianach
ś
ś
wi
wi
ą
ą
ty
ty
ń
ń
i ratusz
i ratusz
ó
ó
w lub starannie
w lub starannie
przechowywanych sztabach i pr
przechowywanych sztabach i pr
ę
ę
tach.
tach.
Jednostka długości
1875
1875
-
-
Podpisanie konwencji metrycznej
Podpisanie konwencji metrycznej
przez 30 pa
przez 30 pa
ń
ń
stw (zmiany d
stw (zmiany d
ł
ł
ugo
ugo
ś
ś
ci wzgl
ci wzgl
ę
ę
dne
dne
wzorca g
wzorca g
ł
ł
ó
ó
wnego
wnego
±
±
2
2
×
×
10
10
-
-
4 [m]), (
4 [m]), (20 maja
20 maja
)
)
1791
1791
-
-
Uchwa
Uchwa
ł
ł
a Francuskiego Zgromadzenia
a Francuskiego Zgromadzenia
Narodowego
Narodowego „
„
Metr jest to dziesi
Metr jest to dziesi
ę
ę
ciomilionowa
ciomilionowa
cz
cz
ęść
ęść
ć
ć
wiartki po
wiartki po
ł
ł
udnika ziemskiego.
udnika ziemskiego.
”
”
1799
1799
-
-
Wzorzec archiwalny
Wzorzec archiwalny
–
–
ko
ko
ń
ń
cowy
cowy
(platyna)
(platyna)
-
-
na podstawie pomiar
na podstawie pomiar
ó
ó
w po
w po
ł
ł
udnika
udnika
(zmiany d
(zmiany d
ł
ł
ugo
ugo
ś
ś
ci wzgl
ci wzgl
ę
ę
dne wzorca g
dne wzorca g
ł
ł
ó
ó
wnego
wnego
±
±
10
10
-
-
5 [m])
5 [m])
Naukowcy zajmuj
Naukowcy zajmuj
ą
ą
cy si
cy si
ę
ę
Metrologi
Metrologi
ą
ą
zawsze pr
zawsze pr
ó
ó
buj
buj
ą
ą
zdefiniowa
zdefiniowa
ć
ć
jednostki miar
jednostki miar
( obecnie np.
( obecnie np. kilogram
kilogram
)
)
w oparciu o sta
w oparciu o sta
ł
ł
e
e
fizyczne a nie przez artefakty .
fizyczne a nie przez artefakty .
Jedn
Jedn
ą
ą
z dr
z dr
ó
ó
g jest zdefiniowanie kilograma
g jest zdefiniowanie kilograma
zgodnie z relatywistyczn
zgodnie z relatywistyczn
ą
ą
teori
teori
ą
ą
Einstein
Einstein
‘
‘
a
a
okre
okre
ś
ś
laj
laj
ą
ą
c
c
ą
ą
zwi
zwi
ą
ą
zek masy z energi
zek masy z energi
ą
ą
.
.
Tak
Tak
wi
wi
ę
ę
c
c
kilogram
kilogram
mo
mo
ż
ż
e by
e by
ć
ć
zdefiniowany
zdefiniowany
przez mas
przez mas
ę
ę
okre
okre
ś
ś
lonej liczby foton
lonej liczby foton
ó
ó
w.
w.
Odkrycia XVIII i XIX wieku wprowadzi
Odkrycia XVIII i XIX wieku wprowadzi
ł
ł
y
y
metrologie w okres nowoczesno
metrologie w okres nowoczesno
ś
ś
ci i dynamicznego
ci i dynamicznego
rozwoju.
rozwoju.
W 1718 r. gda
W 1718 r. gda
ń
ń
szczanin
szczanin
Fahrenheit
Fahrenheit
skonstruowa
skonstruowa
ł
ł
termometr rt
termometr rt
ę
ę
ciowy.
ciowy.
W 1820 r.
W 1820 r.
Oersted
Oersted
zbudowa
zbudowa
ł
ł
galwanometr,
galwanometr,
zapocz
zapocz
ą
ą
tkowuj
tkowuj
ą
ą
c rozw
c rozw
ó
ó
j elektromechanicznych
j elektromechanicznych
przyrz
przyrz
ą
ą
d
d
ó
ó
w pomiarowych oraz metod i technik
w pomiarowych oraz metod i technik
pomiar
pomiar
ó
ó
w wielko
w wielko
ś
ś
ci elektrycznych.
ci elektrycznych.
Kolejne wynalazki:
Kolejne wynalazki:
termoogniwo
termoogniwo
(1855 r.),
(1855 r.),
termorezystor (1875 r.), tensometr elektryczny
termorezystor (1875 r.), tensometr elektryczny
(lata 20
(lata 20
XXw
XXw
.), umo
.), umo
ż
ż
liwi
liwi
ł
ł
y przetwarzanie
y przetwarzanie
ro
ro
ż
ż
nych wielko
nych wielko
ś
ś
ci nieelektrycznych na sygna
ci nieelektrycznych na sygna
ł
ł
y
y
elektryczne, zapocz
elektryczne, zapocz
ą
ą
tkowuj
tkowuj
ą
ą
c nowy kierunek
c nowy kierunek
metrologii, miernictwo elektryczne wielko
metrologii, miernictwo elektryczne wielko
ś
ś
ci
ci
nieelektrycznych.
nieelektrycznych.
Post
Post
ę
ę
py elektroniki, a zw
py elektroniki, a zw
ł
ł
aszcza rozw
aszcza rozw
ó
ó
j techniki
j techniki
cyfrowej, wprowadzi
cyfrowej, wprowadzi
ł
ł
y metrologie w etap cyfrowej
y metrologie w etap cyfrowej
techniki pomiarowej, zapocz
techniki pomiarowej, zapocz
ą
ą
tkowany w ko
tkowany w ko
ń
ń
cu lat
cu lat
50, cech
50, cech
ą
ą
charakterystyczn
charakterystyczn
ą
ą
tego etapu jest:
tego etapu jest:
kwantyzacja sygnału pomiarowego za pomocą
przetwornika analogowo-cyfrowego,
zobrazowanie wyniku pomiaru na cyfrowym polu
odczytowym (co skróciło czas pomiaru do
milisekund, a w rozwiązaniach szybkich do
mikrosekund),
wyeliminowało błędy subiektywne pomiarów,
umożliwienie automatyzacji pomiarów i łatwej
rejestracji wyników.
Od 1974 r., kiedy to pojawi
Od 1974 r., kiedy to pojawi
ł
ł
si
si
ę
ę
na rynku
na rynku
mikroprocesor
mikroprocesor
Intel
Intel
8080, metrologia wesz
8080, metrologia wesz
ł
ł
a w etap
a w etap
skomputeryzowanej techniki pomiarowej, cech
skomputeryzowanej techniki pomiarowej, cech
ą
ą
charakterystyczn
charakterystyczn
ą
ą
tego etapu jest:
tego etapu jest:
sprz
sprz
ęż
ęż
enie proces
enie proces
ó
ó
w pomiarowych i obliczeniowych,
w pomiarowych i obliczeniowych,
ulepszenie
ulepszenie
parametrow
parametrow
metrologicznych znanych dot
metrologicznych znanych dot
ą
ą
d
d
przyrz
przyrz
ą
ą
d
d
ó
ó
w, np. korekt
w, np. korekt
ę
ę
nieliniowo
nieliniowo
ś
ś
ci, polepszenie
ci, polepszenie
dok
dok
ł
ł
adno
adno
ś
ś
ci przez wielokrotne powtarzanie pomiar
ci przez wielokrotne powtarzanie pomiar
ó
ó
w i
w i
ich u
ich u
ś
ś
rednienie oraz inne rodzaje cyfrowej obr
rednienie oraz inne rodzaje cyfrowej obr
ó
ó
bki
bki
sygna
sygna
ł
ł
ó
ó
w,
w,
organizacje komputerowo wspomaganych system
organizacje komputerowo wspomaganych system
ó
ó
w
w
pomiarowych (system pomiarowy jest zbiorem
pomiarowych (system pomiarowy jest zbiorem
przetwornik
przetwornik
ó
ó
w i przyrz
w i przyrz
ą
ą
d
d
ó
ó
w pomiarowych obj
w pomiarowych obj
ę
ę
tych
tych
wsp
wsp
ó
ó
lnym sterowaniem, tworz
lnym sterowaniem, tworz
ą
ą
cych ca
cych ca
ł
ł
o
o
ść
ść
organizacyjn
organizacyjn
ą
ą
)
)
.
.
Szczeg
Szczeg
ó
ó
lnie szerokie zastosowanie znalaz
lnie szerokie zastosowanie znalaz
ł
ł
y systemy
y systemy
o architekturze magistralowej, w kt
o architekturze magistralowej, w kt
ó
ó
rej przyrz
rej przyrz
ą
ą
dy
dy
pomiarowe i inne jednostki funkcjonalne, w tym
pomiarowe i inne jednostki funkcjonalne, w tym
komputer steruj
komputer steruj
ą
ą
cy, s
cy, s
ą
ą
pod
pod
łą
łą
czone do wsp
czone do wsp
ó
ó
lnej
lnej
wieloprzewodowej magistrali interfejsowej, kt
wieloprzewodowej magistrali interfejsowej, kt
ó
ó
r
r
ą
ą
przesy
przesy
ł
ł
a si
a si
ę
ę
sygna
sygna
ł
ł
y informacyjne (dane) i rozkazy
y informacyjne (dane) i rozkazy
steruj
steruj
ą
ą
ce.
ce.
Opracowano standardy takich interfejs
Opracowano standardy takich interfejs
ó
ó
w, np. IEC
w, np. IEC
-
-
625, VME, VXI.
625, VME, VXI.
Aparatura pomiarowa obecnie produkowana posiada
Aparatura pomiarowa obecnie produkowana posiada
karty sprz
karty sprz
ę
ę
gu ze standardowymi magistralami
gu ze standardowymi magistralami
interfejsu, co umo
interfejsu, co umo
ż
ż
liwia jej prace w systemach,
liwia jej prace w systemach,
niezale
niezale
ż
ż
nie od pracy autonomicznej.
nie od pracy autonomicznej.
Obok system
Obok system
ó
ó
w organizowanych z konwencjonalnej
w organizowanych z konwencjonalnej
aparatury, upowszechniaj
aparatury, upowszechniaj
ą
ą
si
si
ę
ę
systemy organizowane
systemy organizowane
z przyrz
z przyrz
ą
ą
d
d
ó
ó
w wykonanych na jednej p
w wykonanych na jednej p
ł
ł
ycie
ycie
monta
monta
ż
ż
owej nazywanej karta pomiarowa.
owej nazywanej karta pomiarowa.
Systemy takie s
Systemy takie s
ą
ą
bardzo elastyczne i przez
bardzo elastyczne i przez
odpowiedni dob
odpowiedni dob
ó
ó
r kart mo
r kart mo
ż
ż
na je
na je
ł
ł
atwo przystosowa
atwo przystosowa
ć
ć
do r
do r
ó
ó
ż
ż
nych zada
nych zada
ń
ń
pomiarowych,
pomiarowych,
Na bazie takich kart projektowa
Na bazie takich kart projektowa
ć
ć
mo
mo
ż
ż
na tak zwane
na tak zwane
wirtualne przyrz
wirtualne przyrz
ą
ą
dy pomiarowe.
dy pomiarowe.
Post
Post
ę
ę
py elektroniki w ostatnich kilku latach
py elektroniki w ostatnich kilku latach
wprowadzaj
wprowadzaj
ą
ą
metrologie w etap mikrosystem
metrologie w etap mikrosystem
ó
ó
w
w
pomiarowych.
pomiarowych.
OBSERWACJA A POMIAR
Obserwacja
Najcz
Najcz
ęś
ęś
ciej informacje o
ciej informacje o
ś
ś
wiecie
wiecie
zewn
zewn
ę
ę
trznym cz
trznym cz
ł
ł
owiek otrzymuje za
owiek otrzymuje za
po
po
ś
ś
rednictwem obserwacji i wywo
rednictwem obserwacji i wywo
ł
ł
ywanymi
ywanymi
nimi wra
nimi wra
ż
ż
e
e
ń
ń
.
.
Zjawiskom b
Zjawiskom b
ę
ę
d
d
ą
ą
cym przedmiotem obserwacji
cym przedmiotem obserwacji
towarzysz
towarzysz
ą
ą
zmiany energetyczne (jako
zmiany energetyczne (jako
przyczyny lub skutki, kt
przyczyny lub skutki, kt
ó
ó
re wywo
re wywo
ł
ł
uj
uj
ą
ą
odpowiednie pole zjawiskowe dost
odpowiednie pole zjawiskowe dost
ę
ę
pne
pne
zmys
zmys
ł
ł
om obserwatora.
om obserwatora.
Obserwacja
Obserwacje, za pomoc
Obserwacje, za pomoc
ą
ą
kt
kt
ó
ó
rych buduje si
rych buduje si
ę
ę
obraz
obraz
ś
ś
wiata, s
wiata, s
ą
ą
jako
jako
ś
ś
ciowe, subiektywne i
ciowe, subiektywne i
niepe
niepe
ł
ł
ne.
ne.
Obserwacje dostarczaj
Obserwacje dostarczaj
ą
ą
tylko po
tylko po
ś
ś
rednio
rednio
informacji o rzeczach i istotach, a
informacji o rzeczach i istotach, a
bezpo
bezpo
ś
ś
rednio tylko o zjawiskach przez nie
rednio tylko o zjawiskach przez nie
wywo
wywo
ł
ł
ywanych.
ywanych.
Podstawow
Podstawow
ą
ą
wad
wad
ą
ą
obserwacji jest jej
obserwacji jest jej
charakter jako
charakter jako
ś
ś
ciowy.
ciowy.
Pomiar
Pomiary s
Pomiary s
ą
ą
ilo
ilo
ś
ś
ciow
ciow
ą
ą
ocen
ocen
ą
ą
zjawisk
zjawisk
zachodz
zachodz
ą
ą
cych w otoczeniu cz
cych w otoczeniu cz
ł
ł
owieka.
owieka.
Do jego realizacji konieczne jest utworzenie
Do jego realizacji konieczne jest utworzenie
wzorc
wzorc
ó
ó
w tych zjawisk (lub wytwarzanych
w tych zjawisk (lub wytwarzanych
przez nie efekt
przez nie efekt
ó
ó
w).
w).
Wzorce te powinny by
Wzorce te powinny by
ć
ć
powtarzalne,
powtarzalne,
niezale
niezale
ż
ż
ne od obserwatora.
ne od obserwatora.
Pomiar polega na por
Pomiar polega na por
ó
ó
wnaniu mierzonej
wnaniu mierzonej
warto
warto
ś
ś
ci ze znan
ci ze znan
ą
ą
warto
warto
ś
ś
ci
ci
ą
ą
tej wielko
tej wielko
ś
ś
ci
ci
przyjmowan
przyjmowan
ą
ą
za jednostk
za jednostk
ę
ę
miary.
miary.
Kontrola
Je
Je
ż
ż
eli pomiar odpowiada na pytanie
eli pomiar odpowiada na pytanie „
„
ile
ile
”
”
, to
, to
kontrola odpowiada na pytanie
kontrola odpowiada na pytanie „
„
tak czy nie
tak czy nie
”
”
,
,
tj. czy dany parametr mie
tj. czy dany parametr mie
ś
ś
ci si
ci si
ę
ę
w okre
w okre
ś
ś
lonych
lonych
granicach, czy obiekt jest sprawny, czy
granicach, czy obiekt jest sprawny, czy
niesprawny.
niesprawny.
Ka
Ka
ż
ż
dy pomiar mo
dy pomiar mo
ż
ż
e by
e by
ć
ć
wykorzystywany do
wykorzystywany do
kontroli, ale nie ka
kontroli, ale nie ka
ż
ż
da operacja kontrolna
da operacja kontrolna
mo
mo
ż
ż
e by
e by
ć
ć
uwa
uwa
ż
ż
ana za pomiar, np. wra
ana za pomiar, np. wra
ż
ż
enie
enie
smakowe, zapachowe, estetyczne itp.
smakowe, zapachowe, estetyczne itp.
Diagnostyka
Diagnostyka jest poj
Diagnostyka jest poj
ę
ę
ciem szerszym ni
ciem szerszym ni
ż
ż
pomiar
pomiar
Diagnostyka obejmuje wiele czynno
Diagnostyka obejmuje wiele czynno
ś
ś
ci
ci
kontrolnych, a tak
kontrolnych, a tak
ż
ż
e ustalenie
e ustalenie
ź
ź
r
r
ó
ó
d
d
ł
ł
a lub
a lub
przyczyny stwierdzonego stanu badanego
przyczyny stwierdzonego stanu badanego
obiektu.
obiektu.
ISTOTA POMIARU
Pomiar jest czynno
Pomiar jest czynno
ś
ś
ci
ci
ą
ą
do
do
ś
ś
wiadczaln
wiadczaln
ą
ą
, maj
, maj
ą
ą
c
c
ą
ą
na
na
celu wyznaczenie z odpowiedni
celu wyznaczenie z odpowiedni
ą
ą
dok
dok
ł
ł
adno
adno
ś
ś
ci
ci
ą
ą
warto
warto
ś
ś
ci wielko
ci wielko
ś
ś
ci mierzonej.
ci mierzonej.
Pomiar jest zespo
Pomiar jest zespo
ł
ł
em dzia
em dzia
ł
ł
a
a
ń
ń
i do
i do
ś
ś
wiadcze
wiadcze
ń
ń
obejmuj
obejmuj
ą
ą
cych:
cych:
•
•
teoretyczne i praktyczne przygotowanie,
teoretyczne i praktyczne przygotowanie,
•
•
techniczn
techniczn
ą
ą
realizacj
realizacj
ę
ę
,
,
•
•
opracowanie i interpretacj
opracowanie i interpretacj
ę
ę
wynik
wynik
ó
ó
w pomiar
w pomiar
ó
ó
w.
w.
Pomiar jest zbiorem czynno
Pomiar jest zbiorem czynno
ś
ś
ci maj
ci maj
ą
ą
cym na
cym na
celu wyznaczenie aktualnej warto
celu wyznaczenie aktualnej warto
ś
ś
ci
ci
wielko
wielko
ś
ś
ci fizycznej
ci fizycznej
(wielko
(wielko
ś
ś
ci mierzonej =
ci mierzonej =
mezurandu
mezurandu
)
)
.
.
Podstawowy aksjomat
meteorologii:
Nie ma pomiar
Nie ma pomiar
ó
ó
w bezb
w bezb
łę
łę
dnych !!!!
dnych !!!!
z ka
z ka
ż
ż
dym pomiarem wi
dym pomiarem wi
ąż
ąż
e si
e si
ę
ę
b
b
łą
łą
d, kt
d, kt
ó
ó
ry
ry
wyra
wyra
ż
ż
a niezgodno
a niezgodno
ść
ść
warto
warto
ś
ś
ci uzyskanej w
ci uzyskanej w
wyniku pomiaru z rzeczywist
wyniku pomiaru z rzeczywist
ą
ą
wielko
wielko
ś
ś
ci
ci
ą
ą
warto
warto
ś
ś
ci mierzonej.
ci mierzonej.
POMIAR
Pomiar to zbi
Pomiar to zbi
ó
ó
r czynno
r czynno
ś
ś
ci po wykonaniu,
ci po wykonaniu,
kt
kt
ó
ó
rych mo
rych mo
ż
ż
emy stwierdzi
emy stwierdzi
ć
ć
,
,
ż
ż
e w danej
e w danej
chwili w okre
chwili w okre
ś
ś
lonych warunkach wielko
lonych warunkach wielko
ść
ść
mierzona mia
mierzona mia
ł
ł
a warto
a warto
ść
ść
(x) spe
(x) spe
ł
ł
niaj
niaj
ą
ą
c
c
ą
ą
nast
nast
ę
ę
puj
puj
ą
ą
cy warunek:
cy warunek:
a <= x <= b
a <= x <= b
W wyniku pomiaru jeste
W wyniku pomiaru jeste
ś
ś
my w stanie
my w stanie
jedynie wskaza
jedynie wskaza
ć
ć
przedzia
przedzia
ł
ł < a,b >
< a,b >
,
,
w
w
kt
kt
ó
ó
rym znajduje si
rym znajduje si
ę
ę
faktyczna warto
faktyczna warto
ść
ść
wielko
wielko
ś
ś
ci mierzonej.
ci mierzonej.
Podstawowe pojęcia metrologiczne:
Metrologia
Metrologia
-
-
dziedzina wiedzy obejmuj
dziedzina wiedzy obejmuj
ą
ą
ca
ca
wszystko, co zwi
wszystko, co zwi
ą
ą
zane jest z pomiarami
zane jest z pomiarami
(og
(og
ó
ó
lna,
lna,
teoretyczna, stosowana, techniczna, bran
teoretyczna, stosowana, techniczna, bran
ż
ż
owa,
owa,
prawna)
prawna)
Pomiar
Pomiar
–
–
zbi
zbi
ó
ó
r operacji maj
r operacji maj
ą
ą
cych na celu
cych na celu
wyznaczenie warto
wyznaczenie warto
ś
ś
ci wielko
ci wielko
ś
ś
ci
ci
(
(
mezurandu
mezurandu
)
)
Wielko
Wielko
ść
ść
(mierzalna)
(mierzalna)
-
-
cecha zjawiska, cia
cecha zjawiska, cia
ł
ł
a lub
a lub
substancji, kt
substancji, kt
ó
ó
r
r
ą
ą
mo
mo
ż
ż
na wyr
na wyr
ó
ó
ż
ż
ni
ni
ć
ć
jako
jako
ś
ś
ciowo
ciowo
i
i
wyznaczy
wyznaczy
ć
ć
ilo
ilo
ś
ś
ciowo.
ciowo.
WIELKOŚĆ (
MIERZALNA
)
- cecha zjawiska,
ciała lub substancji, którą można wyróżnić
jakościowo i wyznaczyć ilościowo.
PRZYK
PRZYK
Ł
Ł
ADY
ADY
Wielko
Wielko
ś
ś
ci w znaczeniu og
ci w znaczeniu og
ó
ó
lnym: d
lnym: d
ł
ł
ugo
ugo
ść
ść
, czas, masa,
, czas, masa,
temperatura, op
temperatura, op
ó
ó
r elektryczny, st
r elektryczny, st
ęż
ęż
enie molowe;
enie molowe;
Wielko
Wielko
ś
ś
ci okre
ci okre
ś
ś
lone: d
lone: d
ł
ł
ugo
ugo
ść
ść
danego pr
danego pr
ę
ę
ta, op
ta, op
ó
ó
r
r
elektryczny danej pr
elektryczny danej pr
ó
ó
bki drutu, st
bki drutu, st
ęż
ęż
enie ilo
enie ilo
ś
ś
ci etanolu
ci etanolu
w danej pr
w danej pr
ó
ó
bce wina.
bce wina.
Wielko
Wielko
ś
ś
ci, kt
ci, kt
ó
ó
re mo
re mo
ż
ż
na klasyfikowa
na klasyfikowa
ć
ć
jedne wzgl
jedne wzgl
ę
ę
dem
dem
drugich w porz
drugich w porz
ą
ą
dku rosn
dku rosn
ą
ą
cym (lub malej
cym (lub malej
ą
ą
cym.
cym.
Wielko
Wielko
ś
ś
ci tego samego rodzaju mo
ci tego samego rodzaju mo
ż
ż
na grupowa
na grupowa
ć
ć
w
w
kategorie wielko
kategorie wielko
ś
ś
ci
ci
,
,
na przyk
na przyk
ł
ł
ad: praca, ciep
ad: praca, ciep
ł
ł
o, energia,
o, energia,
grubo
grubo
ść
ść
, obw
, obw
ó
ó
d, d
d, d
ł
ł
ugo
ugo
ść
ść
fali.
fali.
WYMIAR WIELKOŚCI
- wyrażenie, które
reprezentuje wielkość danego układu wielkości
jako iloczyn potęg czynników oznaczających
wielkości podstawowe tego układu.
PRZYK
PRZYK
Ł
Ł
ADY
ADY
w uk
w uk
ł
ł
adzie, kt
adzie, kt
ó
ó
ry ma jako wielko
ry ma jako wielko
ś
ś
ci podstawowe
ci podstawowe
d
d
ł
ł
ugo
ugo
ść
ść
, mas
, mas
ę
ę
i czas i kt
i czas i kt
ó
ó
rych wymiary s
rych wymiary s
ą
ą
oznaczone odpowiednio przez L, M i T, wymiarem
oznaczone odpowiednio przez L, M i T, wymiarem
si
si
ł
ł
y jest LMT
y jest LMT
-
-
2
2
;
;
w tym samym uk
w tym samym uk
ł
ł
adzie wielko
adzie wielko
ś
ś
ci ML
ci ML
-
-
3
3
jest
jest
wymiarem st
wymiarem st
ęż
ęż
enia masowego, jak r
enia masowego, jak r
ó
ó
wnie
wnie
ż
ż
wymiarem g
wymiarem g
ę
ę
sto
sto
ś
ś
ci masy.
ci masy.
Czynnik, kt
Czynnik, kt
ó
ó
ry reprezentuje
ry reprezentuje
wielko
wielko
ść
ść
podstawow
podstawow
ą
ą
,
,
nazywa si
nazywa si
ę
ę
"wymiarem" tej wielko
"wymiarem" tej wielko
ś
ś
ci podstawowej.
ci podstawowej.
JEDNOSTKA (
MIARY
)
- wielkość określona,
zdefiniowana i przyjęta umownie, z którą
porównuje się inne wielkości tego samego rodzaju
w celu ich ilościowego wyrażania w stosunku do
tej wielkości przyjętej umownie.
Jednostki miar maj
Jednostki miar maj
ą
ą
umownie nadane nazwy i
umownie nadane nazwy i
oznaczenia.
oznaczenia.
Jednostki miar wielko
Jednostki miar wielko
ś
ś
ci o tym samym
ci o tym samym
wymiarze mog
wymiarze mog
ą
ą
mie
mie
ć
ć
te same nazwy i to samo
te same nazwy i to samo
oznaczenie, nawet je
oznaczenie, nawet je
ś
ś
li te wielko
li te wielko
ś
ś
ci nie s
ci nie s
ą
ą
tego
tego
samego rodzaju.
samego rodzaju.
MIĘDZYNARODOWY UKŁAD
JEDNOSTEK MIAR (SI)
International System of Units, SI
Uk
Uk
ł
ł
ad jednostek miar sp
ad jednostek miar sp
ó
ó
jny, przyj
jny, przyj
ę
ę
ty i
ty i
zalecany przez Generaln
zalecany przez Generaln
ą
ą
Konferencj
Konferencj
ę
ę
Miar
Miar
(CGPM).
(CGPM).
WARTOŚĆ (
WIELKOŚCI
)
- wyrażenie ilościowe wielkości określonej na
ogół w postaci iloczynu liczby i jednostki
miary.
PRZYK
PRZYK
Ł
Ł
ADY
ADY
d
d
ł
ł
ugo
ugo
ść
ść
pr
pr
ę
ę
ta 5,34 m lub 534 cm;
ta 5,34 m lub 534 cm;
masa cia
masa cia
ł
ł
a 0,152 kg lub 152 g;
a 0,152 kg lub 152 g;
liczno
liczno
ść
ść
materii pr
materii pr
ó
ó
bki wody (H
bki wody (H
2
2
0) 0,012 mol lub
0) 0,012 mol lub
12
12
mmol
mmol
.
.
Warto
Warto
ść
ść
wielko
wielko
ś
ś
ci mo
ci mo
ż
ż
e by
e by
ć
ć
dodatnia, ujemna lub
dodatnia, ujemna lub
zero
zero
.
.
WARTOŚĆ PRAWDZIWA (
WIELKOŚCI
)
- wartość zgodna z definicją wielkości określonej.
Jest to warto
Jest to warto
ść
ść
, jak
, jak
ą
ą
uzyska
uzyska
ł
ł
oby si
oby si
ę
ę
jako wynik
jako wynik
bezb
bezb
łę
łę
dnego pomiaru.
dnego pomiaru.
Warto
Warto
ś
ś
ci prawdziwe s
ci prawdziwe s
ą
ą
ze swej natury nieznane.
ze swej natury nieznane.
WARTOŚĆ UMOWNIE PRAWDZIWA
(
WIELKOŚCI
), WARTOŚĆ POPRAWNA
(
WIELKOŚCI
)
Warto
Warto
ść
ść
przypisana wielko
przypisana wielko
ś
ś
ci okre
ci okre
ś
ś
lonej i uznana,
lonej i uznana,
niekiedy umownie, jako warto
niekiedy umownie, jako warto
ść
ść
wyznaczona z
wyznaczona z
niepewno
niepewno
ś
ś
ci
ci
ą
ą
akceptowaln
akceptowaln
ą
ą
w danym
w danym
zastosowaniu.
zastosowaniu.
Warto
Warto
ść
ść
umownie prawdziwa jest niekiedy nazywana
umownie prawdziwa jest niekiedy nazywana
warto
warto
ś
ś
ci
ci
ą
ą
przypisan
przypisan
ą
ą
, najlepszym oszacowaniem
, najlepszym oszacowaniem
warto
warto
ś
ś
ci, warto
ci, warto
ś
ś
ci
ci
ą
ą
umown
umown
ą
ą
lub warto
lub warto
ś
ś
ci
ci
ą
ą
odniesienia.
odniesienia.
METODA POMIAROWA
- logiczny ciąg
wykonywanych podczas pomiaru operacji,
opisanych w sposób ogólny.
Metody pomiarowe mog
Metody pomiarowe mog
ą
ą
by
by
ć
ć
okre
okre
ś
ś
lane w r
lane w r
ó
ó
ż
ż
ny
ny
spos
spos
ó
ó
b, na przyk
b, na przyk
ł
ł
ad:
ad:
metoda podstawienia;
metoda podstawienia;
metoda r
metoda r
ó
ó
ż
ż
nicowa;
nicowa;
metoda zerowa.
metoda zerowa.
ZASADA POMIARU-
naukowa podstawa
pomiaru.
PRZYK
PRZYK
Ł
Ł
ADY
ADY
zjawisko termoelektryczne wykorzystane do
zjawisko termoelektryczne wykorzystane do
pomiaru temperatury;
pomiaru temperatury;
zjawisko
zjawisko
Josephsona
Josephsona
wykorzystane do pomiaru
wykorzystane do pomiaru
napi
napi
ę
ę
cia elektrycznego;
cia elektrycznego;
zjawisko Dopplera wykorzystane do pomiaru
zjawisko Dopplera wykorzystane do pomiaru
pr
pr
ę
ę
dko
dko
ś
ś
ci;
ci;
zjawisko
zjawisko
Ramana
Ramana
wykorzystane do pomiaru
wykorzystane do pomiaru
liczby falowej drga
liczby falowej drga
ń
ń
molekularnych.
molekularnych.
PROCEDURA POMIAROWA-
zbiór operacji
opisanych w sposób szczegółowy i
realizowanych podczas wykonywania
pomiarów zgodnie z daną metodą.
Procedura pomiarowa jest zazwyczaj opisana w
Procedura pomiarowa jest zazwyczaj opisana w
dokumencie, kt
dokumencie, kt
ó
ó
ry sam nosi nazw
ry sam nosi nazw
ę
ę
"procedura
"procedura
pomiarowa" (albo "metoda pomiarowa") i kt
pomiarowa" (albo "metoda pomiarowa") i kt
ó
ó
ry
ry
jest wystarczaj
jest wystarczaj
ą
ą
co szczeg
co szczeg
ó
ó
ł
ł
owy, aby operator
owy, aby operator
m
m
ó
ó
g
g
ł
ł
przeprowadzi
przeprowadzi
ć
ć
pomiar bez potrzeby
pomiar bez potrzeby
dodatkowych informacji.
dodatkowych informacji.
WIELKOŚĆ MIERZONA
(measurand)
- wielkość określona, stanowiąca przedmiot
pomiaru.
PRZYK
PRZYK
Ł
Ł
AD
AD
Ci
Ci
ś
ś
nienie party wodnej pr
nienie party wodnej pr
ó
ó
bki wody przy 20
bki wody przy 20
°
°
C.
C.
Ś
Ś
rednica pr
rednica pr
ę
ę
ta, jego d
ta, jego d
ł
ł
ugo
ugo
ść
ść
itp.
itp.
Okre
Okre
ś
ś
lenie wielko
lenie wielko
ś
ś
ci mierzonej mo
ci mierzonej mo
ż
ż
e wymaga
e wymaga
ć
ć
wskazania innych wielko
wskazania innych wielko
ś
ś
ci, takich jak czas,
ci, takich jak czas,
temperatura i ci
temperatura i ci
ś
ś
nienie
nienie
.
.
WIELKOŚĆ WPŁYWAJĄCA
- wielkość
nie będąca wielkością mierzoną, która ma
jednak wpływ na wynik pomiaru.
PRZYK
PRZYK
Ł
Ł
ADY
ADY
temperatura mikrometru podczas pomiaru
temperatura mikrometru podczas pomiaru
d
d
ł
ł
ugo
ugo
ś
ś
ci;
ci;
cz
cz
ę
ę
stotliwo
stotliwo
ść
ść
podczas pomiaru amplitudy
podczas pomiaru amplitudy
przemiennego napi
przemiennego napi
ę
ę
cia elektrycznego;
cia elektrycznego;
st
st
ęż
ęż
enie bilirubiny podczas pomiaru st
enie bilirubiny podczas pomiaru st
ęż
ęż
enia
enia
hemoglobiny w pr
hemoglobiny w pr
ó
ó
bce plazmy krwi ludzkiej
bce plazmy krwi ludzkiej
WYNIK POMIARU
- wartość przypisana
wielkości mierzonej, uzyskana drogą
pomiaru.
Gdy podaje si
Gdy podaje si
ę
ę
wynik, nale
wynik, nale
ż
ż
y wyra
y wyra
ź
ź
nie zaznaczy
nie zaznaczy
ć
ć
,
,
czy dotyczy on:
czy dotyczy on:
-
-
wskazania wyniku surowego
wskazania wyniku surowego
-
-
wyniku poprawionego i czy jest
wyniku poprawionego i czy jest
ś
ś
redni
redni
ą
ą
uzyskan
uzyskan
ą
ą
z
z
wielu obserwacji.
wielu obserwacji.
Ca
Ca
ł
ł
kowite wyra
kowite wyra
ż
ż
enie wyniku pomiaru zawiera dane
enie wyniku pomiaru zawiera dane
dotycz
dotycz
ą
ą
ce niepewno
ce niepewno
ś
ś
ci pomiaru
ci pomiaru
WSKAZANIE (
PRZYRZĄDU POMIAROWEGO
)
- wartość wielkości podawana jest przez
przyrząd pomiarowy.
Warto
Warto
ść
ść
odczytana na urz
odczytana na urz
ą
ą
dzeniu wskazuj
dzeniu wskazuj
ą
ą
cym
cym
mo
mo
ż
ż
e by
e by
ć
ć
nazywana wskazaniem bezpo
nazywana wskazaniem bezpo
ś
ś
rednim,
rednim,
nale
nale
ż
ż
y j
y j
ą
ą
pomno
pomno
ż
ż
y
y
ć
ć
przez sta
przez sta
łą
łą
przyrz
przyrz
ą
ą
du w celu
du w celu
uzyskania wskazania.
uzyskania wskazania.
Wielko
Wielko
ś
ś
ci
ci
ą
ą
mo
mo
ż
ż
e by
e by
ć
ć
warto
warto
ść
ść
mierzona, sygna
mierzona, sygna
ł
ł
pomiarowy lub inna wielko
pomiarowy lub inna wielko
ść
ść
zastosowana do
zastosowana do
okre
okre
ś
ś
lenia warto
lenia warto
ś
ś
ci wielko
ci wielko
ś
ś
ci mierzonej.
ci mierzonej.
Wskazanie wzorca miary stanowi przypisana mu
Wskazanie wzorca miary stanowi przypisana mu
warto
warto
ść
ść
.
.
WYNIK SUROWY-
wynik pomiaru przed
korektą błędu systematycznego.
WYNIK POPRAWIONY
- wynik pomiaru po
korekcji błędu systematycznego.
DOKŁADNOŚĆ POMIARU
- stopień
zgodności wyniku pomiaru z wartością
rzeczywistą wielkości mierzonej.
POWTARZALNOŚĆ (
WYNIKÓW
POMIARÓW
)
- stopień zgodności wyników
kolejnych pomiarów tej samej wielkości
mierzonej, wykonywanych w tych samych
warunkach pomiarowych.
Warunki powtarzalno
Warunki powtarzalno
ś
ś
ci obejmuj
ci obejmuj
ą
ą
:
:
-
-
t
t
ą
ą
same procedur
same procedur
ę
ę
pomiarow
pomiarow
ą
ą
i tego samego
i tego samego
obserwatora,
obserwatora,
-
-
ten sam przyrz
ten sam przyrz
ą
ą
d pomiarowy stosowany w tych
d pomiarowy stosowany w tych
samych warunkach i to samo miejsce,
samych warunkach i to samo miejsce,
-
-
powtarzanie pomiaru w kr
powtarzanie pomiaru w kr
ó
ó
tkich odst
tkich odst
ę
ę
pach czasu.
pach czasu.
Powtarzalno
Powtarzalno
ść
ść
mo
mo
ż
ż
na wyra
na wyra
ż
ż
a
a
ć
ć
ilo
ilo
ś
ś
ciowo za pomoc
ciowo za pomoc
ą
ą
charakterystyk rozrzutu wynik
charakterystyk rozrzutu wynik
ó
ó
w
w
ODTWARZALNOŚĆ (
WYNIKÓW POMIARÓW
)-
stopień zgodności wyników pomiarów tej samej
wielkości mierzonej, wykonywanych w
zmienionych warunkach pomiarowych.
Warunki podlegaj
Warunki podlegaj
ą
ą
ce zmianom mog
ce zmianom mog
ą
ą
obejmowa
obejmowa
ć
ć
:
:
zasad
zasad
ę
ę
pomiaru, metod
pomiaru, metod
ę
ę
pomiaru, obserwatora,
pomiaru, obserwatora,
przyrz
przyrz
ą
ą
d pomiarowy,
d pomiarowy,
etalon
etalon
odniesienia,
odniesienia,
miejsce, warunki stosowania, czas
miejsce, warunki stosowania, czas
.
.
Odtwarzalno
Odtwarzalno
ść
ść
mo
mo
ż
ż
na wyra
na wyra
ż
ż
a
a
ć
ć
ilo
ilo
ś
ś
ciowo za
ciowo za
pomoc
pomoc
ą
ą
charakterystyk rozrzutu wynik
charakterystyk rozrzutu wynik
ó
ó
w
w
NIEPEWNOŚĆ POMIARU
- parametr,
związany z wynikiem pomiaru, charakteryzujący
rozrzut wartości, które można w uzasadniony
sposób przypisać wielkości mierzonej.
Parametrem mo
Parametrem mo
ż
ż
e by
e by
ć
ć
na przyk
na przyk
ł
ł
ad odchylenie
ad odchylenie
standardowe albo po
standardowe albo po
ł
ł
owa szeroko
owa szeroko
ś
ś
ci przedzia
ci przedzia
ł
ł
u
u
odpowiadaj
odpowiadaj
ą
ą
cego okre
cego okre
ś
ś
lonemu poziomowi ufno
lonemu poziomowi ufno
ś
ś
ci.
ci.
Przyjmuje si
Przyjmuje si
ę
ę
, ze wynik pomiaru stanowi najlepsze
, ze wynik pomiaru stanowi najlepsze
oszacowanie warto
oszacowanie warto
ś
ś
ci wielko
ci wielko
ś
ś
ci mierzonej i
ci mierzonej i
ż
ż
e
e
wszystkie sk
wszystkie sk
ł
ł
adniki niepewno
adniki niepewno
ś
ś
ci, w
ci, w
łą
łą
cznie z tymi,
cznie z tymi,
kt
kt
ó
ó
re pochodz
re pochodz
ą
ą
od efekt
od efekt
ó
ó
w systematycznych, jak na
w systematycznych, jak na
przyk
przyk
ł
ł
ad sk
ad sk
ł
ł
adniki zwi
adniki zwi
ą
ą
zane z poprawkami lub z
zane z poprawkami lub z
etalonami
etalonami
odniesienia, wnosz
odniesienia, wnosz
ą
ą
sw
sw
ó
ó
j udzia
j udzia
ł
ł
do
do
rozrzutu.
rozrzutu.
BŁĄD POMIARU
- różnica miedzy
wynikiem pomiaru a wartością prawdziwą
wielkości mierzonej.
Poniewa
Poniewa
ż
ż
warto
warto
ść
ść
prawdziwa nie mo
prawdziwa nie mo
ż
ż
e by
e by
ć
ć
okre
okre
ś
ś
lona, stosuje si
lona, stosuje si
ę
ę
w praktyce
w praktyce warto
warto
ść
ść
umownie prawdziw
umownie prawdziw
ą
ą
.
.
Je
Je
ż
ż
eli trzeba rozr
eli trzeba rozr
ó
ó
ż
ż
nia
nia
ć
ć
mi
mi
ę
ę
dzy
dzy "b
"b
łę
łę
dem"
dem"
i
i
"b
"b
łę
łę
dem wzgl
dem wzgl
ę
ę
dnym",
dnym",
to pierwszy bywa
to pierwszy bywa
niekiedy nazywany "
niekiedy nazywany "b
b
łę
łę
dem bezwzgl
dem bezwzgl
ę
ę
dnym
dnym
pomiaru
pomiaru
". Nie nale
". Nie nale
ż
ż
y go myli
y go myli
ć
ć
z
z warto
warto
ś
ś
ci
ci
ą
ą
bezwzgl
bezwzgl
ę
ę
dn
dn
ą
ą
b
b
łę
łę
du
du
, kt
, kt
ó
ó
ra jest modu
ra jest modu
ł
ł
em b
em b
łę
łę
du.
du.
BŁĄD WZGLĘDNY
- stosunek błędu pomiaru
do wartości prawdziwej wielkości mierzonej.
BŁĄD PRZYPADKOWY-
różnica między
wynikiem pomiaru a średnią z nieskończonej
liczby wyników pomiarów tej samej wielkości
mierzonej, wykonanych w warunkach
powtarzalności.
BŁĄD SYSTEMATYCZNY-
różnica między
ś
rednią z nieskończonej liczby wyników
pomiarów tej samej wielkości mierzonej,
wykonanych w warunkach powtarzalności, a
wartością prawdziwą wielkości mierzonej.