Podstawy metr wykł01

background image

PODSTAWY

METROLOGII

Wykład 1

Dr in

Dr in

ż

ż

. Stanis

. Stanis

ł

ł

aw FITA

aw FITA

B4 p. 2.12 lub B9 p. 9

B4 p. 2.12 lub B9 p. 9

background image

Tematyka wykładów:





Podstawowe poj

Podstawowe poj

ę

ę

cia metrologiczne

cia metrologiczne





Jednostki miar i ich powi

Jednostki miar i ich powi

ą

ą

zanie (uk

zanie (uk

ł

ł

ad SI)

ad SI)





Wzorce jednostek miar

Wzorce jednostek miar





B

B

łę

łę

dy i metody pomiar

dy i metody pomiar

ó

ó

w

w





Niepewno

Niepewno

ść

ść

pomiarowa i jej wyznaczenie

pomiarowa i jej wyznaczenie





Sygna

Sygna

ł

ł

y i ich przetwarzanie

y i ich przetwarzanie





Przyrz

Przyrz

ą

ą

dy pomiarowe i ich w

dy pomiarowe i ich w

ł

ł

a

a

ś

ś

ciwo

ciwo

ś

ś

ci

ci





Opracowanie wynik

Opracowanie wynik

ó

ó

w pomiar

w pomiar

ó

ó

w

w





Zasady prowadzenia eksperyment

Zasady prowadzenia eksperyment

ó

ó

w

w

background image

Zasady zaliczania kursu



Obecność na wykładzie nie jest obowiązkowa.



Podstawą zaliczenia kursu jest kolokwium na
ostatnim wykładzie.



Formą zaliczenia jest „test z wyboru”.



Osoby niezadowolone z wyników testu mają
prawo do terminu poprawkowego.



Za obecność na wykładzie (sprawdzaną
wybiórczo) można uzyskać dodatkowe punkty
do zaliczenia.

background image

Literatura:





Jaworski

Jaworski

J.:

J.: Matematyczne podstawy

Matematyczne podstawy

metrologii,

metrologii,

WNT Warszawa, 1979, ss. 365

WNT Warszawa, 1979, ss. 365





Szyd

Szyd

ł

ł

owski

owski

H. i inni

H. i inni

:

: Teoria pomiar

Teoria pomiar

ó

ó

w

w

, PWN

, PWN

Warszawa, 1981, ss.441

Warszawa, 1981, ss.441





Piotrowski

Piotrowski

J.:

J.: Teoria pomiar

Teoria pomiar

ó

ó

w

w

, PWN

, PWN

Warszawa, 1986, ss. 281

Warszawa, 1986, ss. 281





Piotrowski

Piotrowski

J.:

J.: Pomiarowe zastosowanie analizy

Pomiarowe zastosowanie analizy

sygna

sygna

ł

ł

ó

ó

w

w

, PWN Warszawa, 1991, ss. 159

, PWN Warszawa, 1991, ss. 159





Abramowicz

Abramowicz

H.:

H.: Jak analizowa

Jak analizowa

ć

ć

wyniki

wyniki

pomiar

pomiar

ó

ó

w?

w?

,

,

PWN Warszawa, 1992, ss. 120

PWN Warszawa, 1992, ss. 120

background image





Jaworski

Jaworski

J., Morawski R.,

J., Morawski R.,

Ol

Ol

ę

ę

dzki

dzki

J.:

J.: Wst

Wst

ę

ę

p do

p do

metrologii i techniki eksperymentu

metrologii i techniki eksperymentu

, WNT

, WNT

Warszawa, 1992, ss. 212

Warszawa, 1992, ss. 212





Taylor

Taylor

J.R.:

J.R.: Wst

Wst

ę

ę

p do analizy b

p do analizy b

łę

łę

du

du

pomiarowego

pomiarowego

, Wydawnictwo Naukowe PWN

, Wydawnictwo Naukowe PWN

Warszawa, 1995, ss. 297

Warszawa, 1995, ss. 297





Mi

Mi

ę

ę

dzynarodowy s

dzynarodowy s

ł

ł

ownik podstawowych i

ownik podstawowych i

og

og

ó

ó

lnych termin

lnych termin

ó

ó

w metrologii

w metrologii

(t

(t

ł

ł

um. J.

um. J.

Dudziewicz

Dudziewicz

), GUM Warszawa, 1996

), GUM Warszawa, 1996





Guide

Guide

to

to

the Expression of Uncertainty in

the Expression of Uncertainty in

Measurement

Measurement

, II

, II

mi

mi

ę

ę

dzynarodowe wyd., ISO,

dzynarodowe wyd., ISO,

1995, polski tytu

1995, polski tytu

ł

ł

:

:

Wyrażanie niepewności

pomiaru. Przewodnik

, uzupe

, uzupe

ł

ł

niony o dodatek

niony o dodatek

J.

J.

Jaworskiego

Jaworskiego

Niedok

Niedok

ł

ł

adno

adno

ść

ść

, b

, b

łą

łą

d, niepewno

d, niepewno

ść

ść

background image





Bielski A.,

Bielski A.,

Ciury

Ciury

ł

ł

o

o

R.:

R.: Podstawy metod

Podstawy metod

opracowania pomiar

opracowania pomiar

ó

ó

w

w

, UMK Toru

, UMK Toru

ń

ń

, 1998, ss.

, 1998, ss.

210

210





Gajda

Gajda

J., Szyper M.:

J., Szyper M.: Modelowanie i badania

Modelowanie i badania

symulacyjne system

symulacyjne system

ó

ó

w pomiarowych

w pomiarowych

, AGH &

, AGH &

Jartek

Jartek

S.C. Krak

S.C. Krak

ó

ó

w, 1998, ss. 411

w, 1998, ss. 411





Gundlach

Gundlach

W.,

W.,

Ciep

Ciep

ł

ł

ucha

ucha

J.,

J.,

Kozanecka

Kozanecka

D.:

D.:

Podstawy metrologii

Podstawy metrologii

, cz

, cz

ęść

ęść

I

I

-

-

III, wyd. 2,

III, wyd. 2,

Politechnika

Politechnika

Ł

Ł

ó

ó

dzka, 1989, ss. 417

dzka, 1989, ss. 417





Zakrzewski

Zakrzewski

J.:

J.: Podstawy metrologii dla

Podstawy metrologii dla

kierunku mechanicznego

kierunku mechanicznego

, skrypt nr 1670,

, skrypt nr 1670,

Politechnika

Politechnika

Ś

Ś

l

l

ą

ą

ska, Gliwice, 1991, ss. 84

ska, Gliwice, 1991, ss. 84





Urban A.:

Urban A.: Podstawy miernictwa

Podstawy miernictwa

, skrypt

, skrypt

Politechniki Warszawskiej, 1992

Politechniki Warszawskiej, 1992

background image





Poprawski

Poprawski

R.,

R.,

Salejda

Salejda

W.:

W.: Podstawy rachunku

Podstawy rachunku

b

b

łę

łę

d

d

ó

ó

w i opracowania wynik

w i opracowania wynik

ó

ó

w pomiaru

w pomiaru

-

-

Ć

Ć

wiczenia laboratoryjne z fizyki, cz

wiczenia laboratoryjne z fizyki, cz

ęść

ęść

I, wyd.2,

I, wyd.2,

Politechnika Wroc

Politechnika Wroc

ł

ł

awska, 1998, ss. 99

awska, 1998, ss. 99





Turzeniecka

Turzeniecka

D.:

D.: Ocena niepewno

Ocena niepewno

ś

ś

ci wyniku

ci wyniku

pomiar

pomiar

ó

ó

w

w

, Politechnika Pozna

, Politechnika Pozna

ń

ń

ska, 1997

ska, 1997





Zawada J.:

Zawada J.: Wybrane zagadnienia z podstaw

Wybrane zagadnienia z podstaw

metrologii

metrologii

, Politechnika

, Politechnika

Ł

Ł

ó

ó

dzka, 1997, ss. 120

dzka, 1997, ss. 120





Piotrowski

Piotrowski

J.:

J.: Procedury pomiarowe i

Procedury pomiarowe i

estymacje sygna

estymacje sygna

ł

ł

ó

ó

w

w

, skrypt nr

, skrypt nr

1889, Politechnika

1889, Politechnika

Ś

Ś

l

l

ą

ą

ska, Gliwice, 1994, ss. 296

ska, Gliwice, 1994, ss. 296





Ł

Ł

ukaszek

ukaszek

W.:

W.: Podstawy statystycznego

Podstawy statystycznego

opracowania pomiar

opracowania pomiar

ó

ó

w

w

, wyd. 3, skrypt nr 1896,

, wyd. 3, skrypt nr 1896,

Politechnika

Politechnika

Ś

Ś

l

l

ą

ą

ska, Gliwice, 1995

ska, Gliwice, 1995

background image

METROLOGIA





Metrologia

Metrologia

jest nauk

jest nauk

ą

ą

o pomiarach.

o pomiarach.





Nazwa

Nazwa Metrologia

Metrologia

pochodzi od greckich

pochodzi od greckich

s

s

ł

ł

ó

ó

w:

w:

metro

metro

miara i

miara i

logia

logia

-

-

nauka.

nauka.





W

W

Ma

Ma

ł

ł

ej encyklopedii metrologii

ej encyklopedii metrologii

podano

podano

tak

tak

ą

ą

definicj

definicj

ę

ę

metrologii:

metrologii:

Dziedzina nauki i techniki zajmuj

Dziedzina nauki i techniki zajmuj

ą

ą

ca si

ca si

ę

ę

pomiarami i wszystkimi czynno

pomiarami i wszystkimi czynno

ś

ś

ciami

ciami

niezb

niezb

ę

ę

dnymi do wykonywania pomiar

dnymi do wykonywania pomiar

ó

ó

w

w

.

.

background image

METROLOGIA





Metrologia

Metrologia

jest nauk

jest nauk

ą

ą

z pogranicza techniki

z pogranicza techniki

i prawa i dzieli si

i prawa i dzieli si

ę

ę

j

j

ą

ą

na:

na:

1)

1)

metrologi

metrologi

ę

ę

techniczn

techniczn

ą

ą

, w kt

, w kt

ó

ó

rej wyr

rej wyr

ó

ó

ż

ż

nia

nia

si

si

ę

ę

metrologi

metrologi

ę

ę

naukow

naukow

ą

ą

,

, przemys

przemys

ł

ł

ow

ow

ą

ą

i

i

laboratoryjn

laboratoryjn

ą

ą

,

,

2)

2)

metrologi

metrologi

ę

ę

prawn

prawn

ą

ą

.

.

background image





Metrologia przemys

Metrologia przemys

ł

ł

owa

owa

zajmuje si

zajmuje si

ę

ę

wszystkimi

wszystkimi

us

us

ł

ł

ugami metrologicznymi, kt

ugami metrologicznymi, kt

ó

ó

re s

re s

ą

ą

zwi

zwi

ą

ą

zane z procesami

zane z procesami

produkcyjnymi w przemy

produkcyjnymi w przemy

ś

ś

le.

le.





Metrologia laboratoryjna

Metrologia laboratoryjna

zajmuje si

zajmuje si

ę

ę

pomiarami w

pomiarami w

laboratoriach badawczych i wzorcuj

laboratoriach badawczych i wzorcuj

ą

ą

cych w kt

cych w kt

ó

ó

rych

rych

wykonuje si

wykonuje si

ę

ę

wzorcownie przyrz

wzorcownie przyrz

ą

ą

d

d

ó

ó

w pomiarowych i

w pomiarowych i

badania typu (pe

badania typu (pe

ł

ł

ne) przyrz

ne) przyrz

ą

ą

d

d

ó

ó

w pomiarowych.

w pomiarowych.





Metrologia prawna

Metrologia prawna

jest dzia

jest dzia

ł

ł

em metrologii odnosz

em metrologii odnosz

ą

ą

cym

cym

si

si

ę

ę

do jednostek miar, metod pomiarowych i narz

do jednostek miar, metod pomiarowych i narz

ę

ę

dzi

dzi

pomiarowych z punktu widzenia urz

pomiarowych z punktu widzenia urz

ę

ę

dowo ustalonych

dowo ustalonych

wymaga

wymaga

ń

ń

technicznych i prawnych maj

technicznych i prawnych maj

ą

ą

cych na celu

cych na celu

zapewnienie jednolito

zapewnienie jednolito

ś

ś

ci miar, poprawno

ci miar, poprawno

ś

ś

ci uzyskiwanych

ci uzyskiwanych

wynik

wynik

ó

ó

w pomiar

w pomiar

ó

ó

w i nale

w i nale

ż

ż

ytej dok

ytej dok

ł

ł

adno

adno

ś

ś

ci pomiar

ci pomiar

ó

ó

w.

w.

background image

Metrologia współczesna dotyczy:





pomiar

pomiar

ó

ó

w warto

w warto

ś

ś

ci wielko

ci wielko

ś

ś

ci,

ci,





rozk

rozk

ł

ł

ad

ad

ó

ó

w (przestrzennych i czasowych)

w (przestrzennych i czasowych)

wielko

wielko

ś

ś

ci,

ci,





funkcjona

funkcjona

ł

ł

ó

ó

w lub transformat

w lub transformat

okre

okre

ś

ś

lonych na

lonych na

wielko

wielko

ś

ś

ciach lub rozk

ciach lub rozk

ł

ł

adach wielko

adach wielko

ś

ś

ci,

ci,





charakterystyk

charakterystyk

zale

zale

ż

ż

no

no

ś

ś

ci mi

ci mi

ę

ę

dzy wielko

dzy wielko

ś

ś

ciami,

ciami,

rozk

rozk

ł

ł

adami wielko

adami wielko

ś

ś

ci, funkcjona

ci, funkcjona

ł

ł

ami i

ami i

transformatami wielko

transformatami wielko

ś

ś

ci,

ci,





parametr

parametr

ó

ó

w reprezentacji rozk

w reprezentacji rozk

ł

ł

ad

ad

ó

ó

w transformat i

w transformat i

zale

zale

ż

ż

no

no

ś

ś

ci mi

ci mi

ę

ę

dzy nimi

dzy nimi

background image

Trochę historii





Metrologia

Metrologia

-

-

dziedzina wiedzy obejmuj

dziedzina wiedzy obejmuj

ą

ą

ca

ca

wszystko, co zwi

wszystko, co zwi

ą

ą

zane jest z pomiarami, ma

zane jest z pomiarami, ma

d

d

ł

ł

ug

ug

ą

ą

, nie

, nie

ź

ź

le udokumentowan

le udokumentowan

ą

ą

histori

histori

ę

ę

, si

, si

ę

ę

gaj

gaj

ą

ą

c

c

ą

ą

10 tys. lat.

10 tys. lat.





Historycznie najstarsze by

Historycznie najstarsze by

ł

ł

y pomiary d

y pomiary d

ł

ł

ugo

ugo

ś

ś

ci i

ci i

odleg

odleg

ł

ł

o

o

ś

ś

ci, obj

ci, obj

ę

ę

to

to

ś

ś

ci cia

ci cia

ł

ł

p

p

ł

ł

ynnych i sypkich, masy

ynnych i sypkich, masy

oraz czasu.

oraz czasu.





Wymiary przedmiot

Wymiary przedmiot

ó

ó

w mierzono pocz

w mierzono pocz

ą

ą

tkowo

tkowo

por

por

ó

ó

wnuj

wnuj

ą

ą

c je na przyk

c je na przyk

ł

ł

ad z elementami cia

ad z elementami cia

ł

ł

a

a

cz

cz

ł

ł

owieka, jego wydolno

owieka, jego wydolno

ś

ś

ci

ci

ą

ą

, otoczeniem.

, otoczeniem.

background image

Wykszta

Wykszta

ł

ł

ci

ci

ł

ł

y si

y si

ę

ę

takie jednostki d

takie jednostki d

ł

ł

ugo

ugo

ś

ś

ci, jak:

ci, jak:





cal (szeroko

cal (szeroko

ść

ść

du

du

ż

ż

ego palca, szeroko

ego palca, szeroko

ś

ś

ci o

ci o

ś

ś

miu

miu

ziaren j

ziaren j

ę

ę

czmienia),

czmienia),





pi

pi

ę

ę

d

d

ź

ź

(odcinek miedzy czubkami kciuka i ma

(odcinek miedzy czubkami kciuka i ma

ł

ł

ego

ego

palca),

palca),





stopa,

stopa,

ł

ł

okie

okie

ć

ć

.

.

Odleg

Odleg

ł

ł

o

o

ś

ś

ci, czyli wi

ci, czyli wi

ę

ę

ksze d

ksze d

ł

ł

ugo

ugo

ś

ś

ci, mierzono

ci, mierzono

takimi jednostkami, jak:

takimi jednostkami, jak:





krok,

krok,





bruzda (d

bruzda (d

ł

ł

ugo

ugo

ść

ść

bruzdy, po zaoraniu, kt

bruzdy, po zaoraniu, kt

ó

ó

rej nale

rej nale

ż

ż

y

y

pozwoli

pozwoli

ć

ć

wo

wo

ł

ł

om odpocz

om odpocz

ąć

ąć

: 100 st

: 100 st

ó

ó

p w Grecji i

p w Grecji i

120 w Rzymie),

120 w Rzymie),





staje (grecki stadion

staje (grecki stadion

-

-

dystans, kt

dystans, kt

ó

ó

ry mo

ry mo

ż

ż

na

na

przebiec z maksymalna pr

przebiec z maksymalna pr

ę

ę

dko

dko

ś

ś

ci

ci

ą

ą

.

.

background image





Z czasem nast

Z czasem nast

ę

ę

powa

powa

ł

ł

a obiektywizacja jednostek droga

a obiektywizacja jednostek droga

wprowadzenia

wprowadzenia

ś

ś

redniej d

redniej d

ł

ł

ugo

ugo

ś

ś

ci stopy lub

ci stopy lub

ł

ł

okcia

okcia

pewnej zbiorowo

pewnej zbiorowo

ś

ś

ci ludzkiej.

ci ludzkiej.





Wg. definicji

Wg. definicji

ś

ś

redniej stopy, autorstwa

redniej stopy, autorstwa

Jacoba Kobela

Jacoba Kobela

z

z

1575 r. nale

1575 r. nale

ż

ż

a

a

ł

ł

o wyznaczy

o wyznaczy

ć

ć

ś

ś

redni

redni

ą

ą

z pomiaru st

z pomiaru st

ó

ó

p

p

"..16 m

"..16 m

ęż

ęż

czyzn ma

czyzn ma

ł

ł

ych i du

ych i du

ż

ż

ych, wybranych

ych, wybranych

przypadkowo w kolejno

przypadkowo w kolejno

ś

ś

ci wychodzenia z ko

ci wychodzenia z ko

ś

ś

cio

cio

ł

ł

a po

a po

mszy niedzielnej".

mszy niedzielnej".





Wobec oczywistych wad naturalnych wzorc

Wobec oczywistych wad naturalnych wzorc

ó

ó

w

w

d

d

ł

ł

ugo

ugo

ś

ś

ci, zachowuj

ci, zachowuj

ą

ą

c nazwy jednostek, wprowadzono

c nazwy jednostek, wprowadzono

ich wzorce sztuczne w postaci odcink

ich wzorce sztuczne w postaci odcink

ó

ó

w zaznaczonych

w zaznaczonych

na

na

ś

ś

cianach

cianach

ś

ś

wi

wi

ą

ą

ty

ty

ń

ń

i ratusz

i ratusz

ó

ó

w lub starannie

w lub starannie

przechowywanych sztabach i pr

przechowywanych sztabach i pr

ę

ę

tach.

tach.

background image

Jednostka długości





1875

1875

-

-

Podpisanie konwencji metrycznej

Podpisanie konwencji metrycznej

przez 30 pa

przez 30 pa

ń

ń

stw (zmiany d

stw (zmiany d

ł

ł

ugo

ugo

ś

ś

ci wzgl

ci wzgl

ę

ę

dne

dne

wzorca g

wzorca g

ł

ł

ó

ó

wnego

wnego

±

±

2

2

×

×

10

10

-

-

4 [m]), (

4 [m]), (20 maja

20 maja

)

)





1791

1791

-

-

Uchwa

Uchwa

ł

ł

a Francuskiego Zgromadzenia

a Francuskiego Zgromadzenia

Narodowego

Narodowego „

Metr jest to dziesi

Metr jest to dziesi

ę

ę

ciomilionowa

ciomilionowa

cz

cz

ęść

ęść

ć

ć

wiartki po

wiartki po

ł

ł

udnika ziemskiego.

udnika ziemskiego.





1799

1799

-

-

Wzorzec archiwalny

Wzorzec archiwalny

ko

ko

ń

ń

cowy

cowy

(platyna)

(platyna)

-

-

na podstawie pomiar

na podstawie pomiar

ó

ó

w po

w po

ł

ł

udnika

udnika

(zmiany d

(zmiany d

ł

ł

ugo

ugo

ś

ś

ci wzgl

ci wzgl

ę

ę

dne wzorca g

dne wzorca g

ł

ł

ó

ó

wnego

wnego

±

±

10

10

-

-

5 [m])

5 [m])

background image
background image





Naukowcy zajmuj

Naukowcy zajmuj

ą

ą

cy si

cy si

ę

ę

Metrologi

Metrologi

ą

ą

zawsze pr

zawsze pr

ó

ó

buj

buj

ą

ą

zdefiniowa

zdefiniowa

ć

ć

jednostki miar

jednostki miar

( obecnie np.

( obecnie np. kilogram

kilogram

)

)

w oparciu o sta

w oparciu o sta

ł

ł

e

e

fizyczne a nie przez artefakty .

fizyczne a nie przez artefakty .





Jedn

Jedn

ą

ą

z dr

z dr

ó

ó

g jest zdefiniowanie kilograma

g jest zdefiniowanie kilograma

zgodnie z relatywistyczn

zgodnie z relatywistyczn

ą

ą

teori

teori

ą

ą

Einstein

Einstein

a

a

okre

okre

ś

ś

laj

laj

ą

ą

c

c

ą

ą

zwi

zwi

ą

ą

zek masy z energi

zek masy z energi

ą

ą

.

.

Tak

Tak

wi

wi

ę

ę

c

c

kilogram

kilogram

mo

mo

ż

ż

e by

e by

ć

ć

zdefiniowany

zdefiniowany

przez mas

przez mas

ę

ę

okre

okre

ś

ś

lonej liczby foton

lonej liczby foton

ó

ó

w.

w.

background image

Odkrycia XVIII i XIX wieku wprowadzi

Odkrycia XVIII i XIX wieku wprowadzi

ł

ł

y

y

metrologie w okres nowoczesno

metrologie w okres nowoczesno

ś

ś

ci i dynamicznego

ci i dynamicznego

rozwoju.

rozwoju.





W 1718 r. gda

W 1718 r. gda

ń

ń

szczanin

szczanin

Fahrenheit

Fahrenheit

skonstruowa

skonstruowa

ł

ł

termometr rt

termometr rt

ę

ę

ciowy.

ciowy.





W 1820 r.

W 1820 r.

Oersted

Oersted

zbudowa

zbudowa

ł

ł

galwanometr,

galwanometr,

zapocz

zapocz

ą

ą

tkowuj

tkowuj

ą

ą

c rozw

c rozw

ó

ó

j elektromechanicznych

j elektromechanicznych

przyrz

przyrz

ą

ą

d

d

ó

ó

w pomiarowych oraz metod i technik

w pomiarowych oraz metod i technik

pomiar

pomiar

ó

ó

w wielko

w wielko

ś

ś

ci elektrycznych.

ci elektrycznych.





Kolejne wynalazki:

Kolejne wynalazki:

termoogniwo

termoogniwo

(1855 r.),

(1855 r.),

termorezystor (1875 r.), tensometr elektryczny

termorezystor (1875 r.), tensometr elektryczny

(lata 20

(lata 20

XXw

XXw

.), umo

.), umo

ż

ż

liwi

liwi

ł

ł

y przetwarzanie

y przetwarzanie

ro

ro

ż

ż

nych wielko

nych wielko

ś

ś

ci nieelektrycznych na sygna

ci nieelektrycznych na sygna

ł

ł

y

y

elektryczne, zapocz

elektryczne, zapocz

ą

ą

tkowuj

tkowuj

ą

ą

c nowy kierunek

c nowy kierunek

metrologii, miernictwo elektryczne wielko

metrologii, miernictwo elektryczne wielko

ś

ś

ci

ci

nieelektrycznych.

nieelektrycznych.

background image

Post

Post

ę

ę

py elektroniki, a zw

py elektroniki, a zw

ł

ł

aszcza rozw

aszcza rozw

ó

ó

j techniki

j techniki

cyfrowej, wprowadzi

cyfrowej, wprowadzi

ł

ł

y metrologie w etap cyfrowej

y metrologie w etap cyfrowej

techniki pomiarowej, zapocz

techniki pomiarowej, zapocz

ą

ą

tkowany w ko

tkowany w ko

ń

ń

cu lat

cu lat

50, cech

50, cech

ą

ą

charakterystyczn

charakterystyczn

ą

ą

tego etapu jest:

tego etapu jest:



kwantyzacja sygnału pomiarowego za pomocą
przetwornika analogowo-cyfrowego,



zobrazowanie wyniku pomiaru na cyfrowym polu
odczytowym (co skróciło czas pomiaru do
milisekund, a w rozwiązaniach szybkich do
mikrosekund),



wyeliminowało błędy subiektywne pomiarów,



umożliwienie automatyzacji pomiarów i łatwej
rejestracji wyników.

background image

Od 1974 r., kiedy to pojawi

Od 1974 r., kiedy to pojawi

ł

ł

si

si

ę

ę

na rynku

na rynku

mikroprocesor

mikroprocesor

Intel

Intel

8080, metrologia wesz

8080, metrologia wesz

ł

ł

a w etap

a w etap

skomputeryzowanej techniki pomiarowej, cech

skomputeryzowanej techniki pomiarowej, cech

ą

ą

charakterystyczn

charakterystyczn

ą

ą

tego etapu jest:

tego etapu jest:





sprz

sprz

ęż

ęż

enie proces

enie proces

ó

ó

w pomiarowych i obliczeniowych,

w pomiarowych i obliczeniowych,





ulepszenie

ulepszenie

parametrow

parametrow

metrologicznych znanych dot

metrologicznych znanych dot

ą

ą

d

d

przyrz

przyrz

ą

ą

d

d

ó

ó

w, np. korekt

w, np. korekt

ę

ę

nieliniowo

nieliniowo

ś

ś

ci, polepszenie

ci, polepszenie

dok

dok

ł

ł

adno

adno

ś

ś

ci przez wielokrotne powtarzanie pomiar

ci przez wielokrotne powtarzanie pomiar

ó

ó

w i

w i

ich u

ich u

ś

ś

rednienie oraz inne rodzaje cyfrowej obr

rednienie oraz inne rodzaje cyfrowej obr

ó

ó

bki

bki

sygna

sygna

ł

ł

ó

ó

w,

w,





organizacje komputerowo wspomaganych system

organizacje komputerowo wspomaganych system

ó

ó

w

w

pomiarowych (system pomiarowy jest zbiorem

pomiarowych (system pomiarowy jest zbiorem

przetwornik

przetwornik

ó

ó

w i przyrz

w i przyrz

ą

ą

d

d

ó

ó

w pomiarowych obj

w pomiarowych obj

ę

ę

tych

tych

wsp

wsp

ó

ó

lnym sterowaniem, tworz

lnym sterowaniem, tworz

ą

ą

cych ca

cych ca

ł

ł

o

o

ść

ść

organizacyjn

organizacyjn

ą

ą

)

)

.

.

background image





Szczeg

Szczeg

ó

ó

lnie szerokie zastosowanie znalaz

lnie szerokie zastosowanie znalaz

ł

ł

y systemy

y systemy

o architekturze magistralowej, w kt

o architekturze magistralowej, w kt

ó

ó

rej przyrz

rej przyrz

ą

ą

dy

dy

pomiarowe i inne jednostki funkcjonalne, w tym

pomiarowe i inne jednostki funkcjonalne, w tym

komputer steruj

komputer steruj

ą

ą

cy, s

cy, s

ą

ą

pod

pod

łą

łą

czone do wsp

czone do wsp

ó

ó

lnej

lnej

wieloprzewodowej magistrali interfejsowej, kt

wieloprzewodowej magistrali interfejsowej, kt

ó

ó

r

r

ą

ą

przesy

przesy

ł

ł

a si

a si

ę

ę

sygna

sygna

ł

ł

y informacyjne (dane) i rozkazy

y informacyjne (dane) i rozkazy

steruj

steruj

ą

ą

ce.

ce.





Opracowano standardy takich interfejs

Opracowano standardy takich interfejs

ó

ó

w, np. IEC

w, np. IEC

-

-

625, VME, VXI.

625, VME, VXI.





Aparatura pomiarowa obecnie produkowana posiada

Aparatura pomiarowa obecnie produkowana posiada

karty sprz

karty sprz

ę

ę

gu ze standardowymi magistralami

gu ze standardowymi magistralami

interfejsu, co umo

interfejsu, co umo

ż

ż

liwia jej prace w systemach,

liwia jej prace w systemach,

niezale

niezale

ż

ż

nie od pracy autonomicznej.

nie od pracy autonomicznej.

background image





Obok system

Obok system

ó

ó

w organizowanych z konwencjonalnej

w organizowanych z konwencjonalnej

aparatury, upowszechniaj

aparatury, upowszechniaj

ą

ą

si

si

ę

ę

systemy organizowane

systemy organizowane

z przyrz

z przyrz

ą

ą

d

d

ó

ó

w wykonanych na jednej p

w wykonanych na jednej p

ł

ł

ycie

ycie

monta

monta

ż

ż

owej nazywanej karta pomiarowa.

owej nazywanej karta pomiarowa.





Systemy takie s

Systemy takie s

ą

ą

bardzo elastyczne i przez

bardzo elastyczne i przez

odpowiedni dob

odpowiedni dob

ó

ó

r kart mo

r kart mo

ż

ż

na je

na je

ł

ł

atwo przystosowa

atwo przystosowa

ć

ć

do r

do r

ó

ó

ż

ż

nych zada

nych zada

ń

ń

pomiarowych,

pomiarowych,





Na bazie takich kart projektowa

Na bazie takich kart projektowa

ć

ć

mo

mo

ż

ż

na tak zwane

na tak zwane

wirtualne przyrz

wirtualne przyrz

ą

ą

dy pomiarowe.

dy pomiarowe.





Post

Post

ę

ę

py elektroniki w ostatnich kilku latach

py elektroniki w ostatnich kilku latach

wprowadzaj

wprowadzaj

ą

ą

metrologie w etap mikrosystem

metrologie w etap mikrosystem

ó

ó

w

w

pomiarowych.

pomiarowych.

background image
background image
background image

OBSERWACJA A POMIAR

Obserwacja





Najcz

Najcz

ęś

ęś

ciej informacje o

ciej informacje o

ś

ś

wiecie

wiecie

zewn

zewn

ę

ę

trznym cz

trznym cz

ł

ł

owiek otrzymuje za

owiek otrzymuje za

po

po

ś

ś

rednictwem obserwacji i wywo

rednictwem obserwacji i wywo

ł

ł

ywanymi

ywanymi

nimi wra

nimi wra

ż

ż

e

e

ń

ń

.

.





Zjawiskom b

Zjawiskom b

ę

ę

d

d

ą

ą

cym przedmiotem obserwacji

cym przedmiotem obserwacji

towarzysz

towarzysz

ą

ą

zmiany energetyczne (jako

zmiany energetyczne (jako

przyczyny lub skutki, kt

przyczyny lub skutki, kt

ó

ó

re wywo

re wywo

ł

ł

uj

uj

ą

ą

odpowiednie pole zjawiskowe dost

odpowiednie pole zjawiskowe dost

ę

ę

pne

pne

zmys

zmys

ł

ł

om obserwatora.

om obserwatora.

background image

Obserwacja





Obserwacje, za pomoc

Obserwacje, za pomoc

ą

ą

kt

kt

ó

ó

rych buduje si

rych buduje si

ę

ę

obraz

obraz

ś

ś

wiata, s

wiata, s

ą

ą

jako

jako

ś

ś

ciowe, subiektywne i

ciowe, subiektywne i

niepe

niepe

ł

ł

ne.

ne.





Obserwacje dostarczaj

Obserwacje dostarczaj

ą

ą

tylko po

tylko po

ś

ś

rednio

rednio

informacji o rzeczach i istotach, a

informacji o rzeczach i istotach, a

bezpo

bezpo

ś

ś

rednio tylko o zjawiskach przez nie

rednio tylko o zjawiskach przez nie

wywo

wywo

ł

ł

ywanych.

ywanych.





Podstawow

Podstawow

ą

ą

wad

wad

ą

ą

obserwacji jest jej

obserwacji jest jej

charakter jako

charakter jako

ś

ś

ciowy.

ciowy.

background image

Pomiar





Pomiary s

Pomiary s

ą

ą

ilo

ilo

ś

ś

ciow

ciow

ą

ą

ocen

ocen

ą

ą

zjawisk

zjawisk

zachodz

zachodz

ą

ą

cych w otoczeniu cz

cych w otoczeniu cz

ł

ł

owieka.

owieka.





Do jego realizacji konieczne jest utworzenie

Do jego realizacji konieczne jest utworzenie

wzorc

wzorc

ó

ó

w tych zjawisk (lub wytwarzanych

w tych zjawisk (lub wytwarzanych

przez nie efekt

przez nie efekt

ó

ó

w).

w).





Wzorce te powinny by

Wzorce te powinny by

ć

ć

powtarzalne,

powtarzalne,

niezale

niezale

ż

ż

ne od obserwatora.

ne od obserwatora.





Pomiar polega na por

Pomiar polega na por

ó

ó

wnaniu mierzonej

wnaniu mierzonej

warto

warto

ś

ś

ci ze znan

ci ze znan

ą

ą

warto

warto

ś

ś

ci

ci

ą

ą

tej wielko

tej wielko

ś

ś

ci

ci

przyjmowan

przyjmowan

ą

ą

za jednostk

za jednostk

ę

ę

miary.

miary.

background image

Kontrola





Je

Je

ż

ż

eli pomiar odpowiada na pytanie

eli pomiar odpowiada na pytanie „

ile

ile

, to

, to

kontrola odpowiada na pytanie

kontrola odpowiada na pytanie „

tak czy nie

tak czy nie

,

,

tj. czy dany parametr mie

tj. czy dany parametr mie

ś

ś

ci si

ci si

ę

ę

w okre

w okre

ś

ś

lonych

lonych

granicach, czy obiekt jest sprawny, czy

granicach, czy obiekt jest sprawny, czy

niesprawny.

niesprawny.





Ka

Ka

ż

ż

dy pomiar mo

dy pomiar mo

ż

ż

e by

e by

ć

ć

wykorzystywany do

wykorzystywany do

kontroli, ale nie ka

kontroli, ale nie ka

ż

ż

da operacja kontrolna

da operacja kontrolna

mo

mo

ż

ż

e by

e by

ć

ć

uwa

uwa

ż

ż

ana za pomiar, np. wra

ana za pomiar, np. wra

ż

ż

enie

enie

smakowe, zapachowe, estetyczne itp.

smakowe, zapachowe, estetyczne itp.

background image

Diagnostyka





Diagnostyka jest poj

Diagnostyka jest poj

ę

ę

ciem szerszym ni

ciem szerszym ni

ż

ż

pomiar

pomiar





Diagnostyka obejmuje wiele czynno

Diagnostyka obejmuje wiele czynno

ś

ś

ci

ci

kontrolnych, a tak

kontrolnych, a tak

ż

ż

e ustalenie

e ustalenie

ź

ź

r

r

ó

ó

d

d

ł

ł

a lub

a lub

przyczyny stwierdzonego stanu badanego

przyczyny stwierdzonego stanu badanego

obiektu.

obiektu.

background image

ISTOTA POMIARU

Pomiar jest czynno

Pomiar jest czynno

ś

ś

ci

ci

ą

ą

do

do

ś

ś

wiadczaln

wiadczaln

ą

ą

, maj

, maj

ą

ą

c

c

ą

ą

na

na

celu wyznaczenie z odpowiedni

celu wyznaczenie z odpowiedni

ą

ą

dok

dok

ł

ł

adno

adno

ś

ś

ci

ci

ą

ą

warto

warto

ś

ś

ci wielko

ci wielko

ś

ś

ci mierzonej.

ci mierzonej.





Pomiar jest zespo

Pomiar jest zespo

ł

ł

em dzia

em dzia

ł

ł

a

a

ń

ń

i do

i do

ś

ś

wiadcze

wiadcze

ń

ń

obejmuj

obejmuj

ą

ą

cych:

cych:

teoretyczne i praktyczne przygotowanie,

teoretyczne i praktyczne przygotowanie,

techniczn

techniczn

ą

ą

realizacj

realizacj

ę

ę

,

,

opracowanie i interpretacj

opracowanie i interpretacj

ę

ę

wynik

wynik

ó

ó

w pomiar

w pomiar

ó

ó

w.

w.

background image

Pomiar jest zbiorem czynno

Pomiar jest zbiorem czynno

ś

ś

ci maj

ci maj

ą

ą

cym na

cym na

celu wyznaczenie aktualnej warto

celu wyznaczenie aktualnej warto

ś

ś

ci

ci

wielko

wielko

ś

ś

ci fizycznej

ci fizycznej

(wielko

(wielko

ś

ś

ci mierzonej =

ci mierzonej =

mezurandu

mezurandu

)

)

.

.

background image

Podstawowy aksjomat

meteorologii:

Nie ma pomiar

Nie ma pomiar

ó

ó

w bezb

w bezb

łę

łę

dnych !!!!

dnych !!!!





z ka

z ka

ż

ż

dym pomiarem wi

dym pomiarem wi

ąż

ąż

e si

e si

ę

ę

b

b

łą

łą

d, kt

d, kt

ó

ó

ry

ry

wyra

wyra

ż

ż

a niezgodno

a niezgodno

ść

ść

warto

warto

ś

ś

ci uzyskanej w

ci uzyskanej w

wyniku pomiaru z rzeczywist

wyniku pomiaru z rzeczywist

ą

ą

wielko

wielko

ś

ś

ci

ci

ą

ą

warto

warto

ś

ś

ci mierzonej.

ci mierzonej.

background image

POMIAR





Pomiar to zbi

Pomiar to zbi

ó

ó

r czynno

r czynno

ś

ś

ci po wykonaniu,

ci po wykonaniu,

kt

kt

ó

ó

rych mo

rych mo

ż

ż

emy stwierdzi

emy stwierdzi

ć

ć

,

,

ż

ż

e w danej

e w danej

chwili w okre

chwili w okre

ś

ś

lonych warunkach wielko

lonych warunkach wielko

ść

ść

mierzona mia

mierzona mia

ł

ł

a warto

a warto

ść

ść

(x) spe

(x) spe

ł

ł

niaj

niaj

ą

ą

c

c

ą

ą

nast

nast

ę

ę

puj

puj

ą

ą

cy warunek:

cy warunek:

a <= x <= b

a <= x <= b





W wyniku pomiaru jeste

W wyniku pomiaru jeste

ś

ś

my w stanie

my w stanie

jedynie wskaza

jedynie wskaza

ć

ć

przedzia

przedzia

ł

ł < a,b >

< a,b >

,

,

w

w

kt

kt

ó

ó

rym znajduje si

rym znajduje si

ę

ę

faktyczna warto

faktyczna warto

ść

ść

wielko

wielko

ś

ś

ci mierzonej.

ci mierzonej.

background image

Podstawowe pojęcia metrologiczne:





Metrologia

Metrologia

-

-

dziedzina wiedzy obejmuj

dziedzina wiedzy obejmuj

ą

ą

ca

ca

wszystko, co zwi

wszystko, co zwi

ą

ą

zane jest z pomiarami

zane jest z pomiarami

(og

(og

ó

ó

lna,

lna,

teoretyczna, stosowana, techniczna, bran

teoretyczna, stosowana, techniczna, bran

ż

ż

owa,

owa,

prawna)

prawna)





Pomiar

Pomiar

zbi

zbi

ó

ó

r operacji maj

r operacji maj

ą

ą

cych na celu

cych na celu

wyznaczenie warto

wyznaczenie warto

ś

ś

ci wielko

ci wielko

ś

ś

ci

ci

(

(

mezurandu

mezurandu

)

)





Wielko

Wielko

ść

ść

(mierzalna)

(mierzalna)

-

-

cecha zjawiska, cia

cecha zjawiska, cia

ł

ł

a lub

a lub

substancji, kt

substancji, kt

ó

ó

r

r

ą

ą

mo

mo

ż

ż

na wyr

na wyr

ó

ó

ż

ż

ni

ni

ć

ć

jako

jako

ś

ś

ciowo

ciowo

i

i

wyznaczy

wyznaczy

ć

ć

ilo

ilo

ś

ś

ciowo.

ciowo.

background image

WIELKOŚĆ (

MIERZALNA

)

- cecha zjawiska,

ciała lub substancji, którą można wyróżnić
jakościowo i wyznaczyć ilościowo.

PRZYK

PRZYK

Ł

Ł

ADY

ADY





Wielko

Wielko

ś

ś

ci w znaczeniu og

ci w znaczeniu og

ó

ó

lnym: d

lnym: d

ł

ł

ugo

ugo

ść

ść

, czas, masa,

, czas, masa,

temperatura, op

temperatura, op

ó

ó

r elektryczny, st

r elektryczny, st

ęż

ęż

enie molowe;

enie molowe;





Wielko

Wielko

ś

ś

ci okre

ci okre

ś

ś

lone: d

lone: d

ł

ł

ugo

ugo

ść

ść

danego pr

danego pr

ę

ę

ta, op

ta, op

ó

ó

r

r

elektryczny danej pr

elektryczny danej pr

ó

ó

bki drutu, st

bki drutu, st

ęż

ęż

enie ilo

enie ilo

ś

ś

ci etanolu

ci etanolu

w danej pr

w danej pr

ó

ó

bce wina.

bce wina.





Wielko

Wielko

ś

ś

ci, kt

ci, kt

ó

ó

re mo

re mo

ż

ż

na klasyfikowa

na klasyfikowa

ć

ć

jedne wzgl

jedne wzgl

ę

ę

dem

dem

drugich w porz

drugich w porz

ą

ą

dku rosn

dku rosn

ą

ą

cym (lub malej

cym (lub malej

ą

ą

cym.

cym.





Wielko

Wielko

ś

ś

ci tego samego rodzaju mo

ci tego samego rodzaju mo

ż

ż

na grupowa

na grupowa

ć

ć

w

w

kategorie wielko

kategorie wielko

ś

ś

ci

ci

,

,

na przyk

na przyk

ł

ł

ad: praca, ciep

ad: praca, ciep

ł

ł

o, energia,

o, energia,

grubo

grubo

ść

ść

, obw

, obw

ó

ó

d, d

d, d

ł

ł

ugo

ugo

ść

ść

fali.

fali.

background image

WYMIAR WIELKOŚCI

- wyrażenie, które

reprezentuje wielkość danego układu wielkości
jako iloczyn pot
ęg czynników oznaczających
wielko
ści podstawowe tego układu.

PRZYK

PRZYK

Ł

Ł

ADY

ADY





w uk

w uk

ł

ł

adzie, kt

adzie, kt

ó

ó

ry ma jako wielko

ry ma jako wielko

ś

ś

ci podstawowe

ci podstawowe

d

d

ł

ł

ugo

ugo

ść

ść

, mas

, mas

ę

ę

i czas i kt

i czas i kt

ó

ó

rych wymiary s

rych wymiary s

ą

ą

oznaczone odpowiednio przez L, M i T, wymiarem

oznaczone odpowiednio przez L, M i T, wymiarem

si

si

ł

ł

y jest LMT

y jest LMT

-

-

2

2

;

;





w tym samym uk

w tym samym uk

ł

ł

adzie wielko

adzie wielko

ś

ś

ci ML

ci ML

-

-

3

3

jest

jest

wymiarem st

wymiarem st

ęż

ęż

enia masowego, jak r

enia masowego, jak r

ó

ó

wnie

wnie

ż

ż

wymiarem g

wymiarem g

ę

ę

sto

sto

ś

ś

ci masy.

ci masy.





Czynnik, kt

Czynnik, kt

ó

ó

ry reprezentuje

ry reprezentuje

wielko

wielko

ść

ść

podstawow

podstawow

ą

ą

,

,

nazywa si

nazywa si

ę

ę

"wymiarem" tej wielko

"wymiarem" tej wielko

ś

ś

ci podstawowej.

ci podstawowej.

background image

JEDNOSTKA (

MIARY

)

- wielkość określona,

zdefiniowana i przyjęta umownie, z którą
porównuje się inne wielkości tego samego rodzaju
w celu ich ilo
ściowego wyrażania w stosunku do

tej wielkości przyjętej umownie.





Jednostki miar maj

Jednostki miar maj

ą

ą

umownie nadane nazwy i

umownie nadane nazwy i

oznaczenia.

oznaczenia.





Jednostki miar wielko

Jednostki miar wielko

ś

ś

ci o tym samym

ci o tym samym

wymiarze mog

wymiarze mog

ą

ą

mie

mie

ć

ć

te same nazwy i to samo

te same nazwy i to samo

oznaczenie, nawet je

oznaczenie, nawet je

ś

ś

li te wielko

li te wielko

ś

ś

ci nie s

ci nie s

ą

ą

tego

tego

samego rodzaju.

samego rodzaju.

background image

MIĘDZYNARODOWY UKŁAD
JEDNOSTEK MIAR (SI)

International System of Units, SI





Uk

Uk

ł

ł

ad jednostek miar sp

ad jednostek miar sp

ó

ó

jny, przyj

jny, przyj

ę

ę

ty i

ty i

zalecany przez Generaln

zalecany przez Generaln

ą

ą

Konferencj

Konferencj

ę

ę

Miar

Miar

(CGPM).

(CGPM).

background image

WARTOŚĆ (

WIELKOŚCI

)

- wyrażenie ilościowe wielkości określonej na
ogół w postaci iloczynu liczby i jednostki

miary.

PRZYK

PRZYK

Ł

Ł

ADY

ADY





d

d

ł

ł

ugo

ugo

ść

ść

pr

pr

ę

ę

ta 5,34 m lub 534 cm;

ta 5,34 m lub 534 cm;





masa cia

masa cia

ł

ł

a 0,152 kg lub 152 g;

a 0,152 kg lub 152 g;





liczno

liczno

ść

ść

materii pr

materii pr

ó

ó

bki wody (H

bki wody (H

2

2

0) 0,012 mol lub

0) 0,012 mol lub

12

12

mmol

mmol

.

.





Warto

Warto

ść

ść

wielko

wielko

ś

ś

ci mo

ci mo

ż

ż

e by

e by

ć

ć

dodatnia, ujemna lub

dodatnia, ujemna lub

zero

zero

.

.

background image

WARTOŚĆ PRAWDZIWA (

WIELKOŚCI

)

- wartość zgodna z definicją wielkości określonej.





Jest to warto

Jest to warto

ść

ść

, jak

, jak

ą

ą

uzyska

uzyska

ł

ł

oby si

oby si

ę

ę

jako wynik

jako wynik

bezb

bezb

łę

łę

dnego pomiaru.

dnego pomiaru.





Warto

Warto

ś

ś

ci prawdziwe s

ci prawdziwe s

ą

ą

ze swej natury nieznane.

ze swej natury nieznane.

background image

WARTOŚĆ UMOWNIE PRAWDZIWA
(

WIELKOŚCI

), WARTOŚĆ POPRAWNA

(

WIELKOŚCI

)

Warto

Warto

ść

ść

przypisana wielko

przypisana wielko

ś

ś

ci okre

ci okre

ś

ś

lonej i uznana,

lonej i uznana,

niekiedy umownie, jako warto

niekiedy umownie, jako warto

ść

ść

wyznaczona z

wyznaczona z

niepewno

niepewno

ś

ś

ci

ci

ą

ą

akceptowaln

akceptowaln

ą

ą

w danym

w danym

zastosowaniu.

zastosowaniu.

Warto

Warto

ść

ść

umownie prawdziwa jest niekiedy nazywana

umownie prawdziwa jest niekiedy nazywana

warto

warto

ś

ś

ci

ci

ą

ą

przypisan

przypisan

ą

ą

, najlepszym oszacowaniem

, najlepszym oszacowaniem

warto

warto

ś

ś

ci, warto

ci, warto

ś

ś

ci

ci

ą

ą

umown

umown

ą

ą

lub warto

lub warto

ś

ś

ci

ci

ą

ą

odniesienia.

odniesienia.

background image

METODA POMIAROWA

- logiczny ciąg

wykonywanych podczas pomiaru operacji,

opisanych w sposób ogólny.

Metody pomiarowe mog

Metody pomiarowe mog

ą

ą

by

by

ć

ć

okre

okre

ś

ś

lane w r

lane w r

ó

ó

ż

ż

ny

ny

spos

spos

ó

ó

b, na przyk

b, na przyk

ł

ł

ad:

ad:





metoda podstawienia;

metoda podstawienia;





metoda r

metoda r

ó

ó

ż

ż

nicowa;

nicowa;





metoda zerowa.

metoda zerowa.

background image

ZASADA POMIARU-

naukowa podstawa

pomiaru.

PRZYK

PRZYK

Ł

Ł

ADY

ADY





zjawisko termoelektryczne wykorzystane do

zjawisko termoelektryczne wykorzystane do

pomiaru temperatury;

pomiaru temperatury;





zjawisko

zjawisko

Josephsona

Josephsona

wykorzystane do pomiaru

wykorzystane do pomiaru

napi

napi

ę

ę

cia elektrycznego;

cia elektrycznego;





zjawisko Dopplera wykorzystane do pomiaru

zjawisko Dopplera wykorzystane do pomiaru

pr

pr

ę

ę

dko

dko

ś

ś

ci;

ci;





zjawisko

zjawisko

Ramana

Ramana

wykorzystane do pomiaru

wykorzystane do pomiaru

liczby falowej drga

liczby falowej drga

ń

ń

molekularnych.

molekularnych.

background image

PROCEDURA POMIAROWA-

zbiór operacji

opisanych w sposób szczegółowy i
realizowanych podczas wykonywania

pomiarów zgodnie z daną metodą.





Procedura pomiarowa jest zazwyczaj opisana w

Procedura pomiarowa jest zazwyczaj opisana w

dokumencie, kt

dokumencie, kt

ó

ó

ry sam nosi nazw

ry sam nosi nazw

ę

ę

"procedura

"procedura

pomiarowa" (albo "metoda pomiarowa") i kt

pomiarowa" (albo "metoda pomiarowa") i kt

ó

ó

ry

ry

jest wystarczaj

jest wystarczaj

ą

ą

co szczeg

co szczeg

ó

ó

ł

ł

owy, aby operator

owy, aby operator

m

m

ó

ó

g

g

ł

ł

przeprowadzi

przeprowadzi

ć

ć

pomiar bez potrzeby

pomiar bez potrzeby

dodatkowych informacji.

dodatkowych informacji.

background image

WIELKOŚĆ MIERZONA

(measurand)

- wielkość określona, stanowiąca przedmiot

pomiaru.

PRZYK

PRZYK

Ł

Ł

AD

AD





Ci

Ci

ś

ś

nienie party wodnej pr

nienie party wodnej pr

ó

ó

bki wody przy 20

bki wody przy 20

°

°

C.

C.





Ś

Ś

rednica pr

rednica pr

ę

ę

ta, jego d

ta, jego d

ł

ł

ugo

ugo

ść

ść

itp.

itp.

Okre

Okre

ś

ś

lenie wielko

lenie wielko

ś

ś

ci mierzonej mo

ci mierzonej mo

ż

ż

e wymaga

e wymaga

ć

ć

wskazania innych wielko

wskazania innych wielko

ś

ś

ci, takich jak czas,

ci, takich jak czas,

temperatura i ci

temperatura i ci

ś

ś

nienie

nienie

.

.

background image

WIELKOŚĆ WPŁYWAJĄCA

- wielkość

nie będąca wielkością mierzoną, która ma

jednak wpływ na wynik pomiaru.

PRZYK

PRZYK

Ł

Ł

ADY

ADY





temperatura mikrometru podczas pomiaru

temperatura mikrometru podczas pomiaru

d

d

ł

ł

ugo

ugo

ś

ś

ci;

ci;





cz

cz

ę

ę

stotliwo

stotliwo

ść

ść

podczas pomiaru amplitudy

podczas pomiaru amplitudy

przemiennego napi

przemiennego napi

ę

ę

cia elektrycznego;

cia elektrycznego;





st

st

ęż

ęż

enie bilirubiny podczas pomiaru st

enie bilirubiny podczas pomiaru st

ęż

ęż

enia

enia

hemoglobiny w pr

hemoglobiny w pr

ó

ó

bce plazmy krwi ludzkiej

bce plazmy krwi ludzkiej

background image

WYNIK POMIARU

- wartość przypisana

wielkości mierzonej, uzyskana drogą

pomiaru.

Gdy podaje si

Gdy podaje si

ę

ę

wynik, nale

wynik, nale

ż

ż

y wyra

y wyra

ź

ź

nie zaznaczy

nie zaznaczy

ć

ć

,

,

czy dotyczy on:

czy dotyczy on:

-

-

wskazania wyniku surowego

wskazania wyniku surowego

-

-

wyniku poprawionego i czy jest

wyniku poprawionego i czy jest

ś

ś

redni

redni

ą

ą

uzyskan

uzyskan

ą

ą

z

z

wielu obserwacji.

wielu obserwacji.

Ca

Ca

ł

ł

kowite wyra

kowite wyra

ż

ż

enie wyniku pomiaru zawiera dane

enie wyniku pomiaru zawiera dane

dotycz

dotycz

ą

ą

ce niepewno

ce niepewno

ś

ś

ci pomiaru

ci pomiaru

background image

WSKAZANIE (

PRZYRZĄDU POMIAROWEGO

)

- wartość wielkości podawana jest przez
przyrz
ąd pomiarowy.





Warto

Warto

ść

ść

odczytana na urz

odczytana na urz

ą

ą

dzeniu wskazuj

dzeniu wskazuj

ą

ą

cym

cym

mo

mo

ż

ż

e by

e by

ć

ć

nazywana wskazaniem bezpo

nazywana wskazaniem bezpo

ś

ś

rednim,

rednim,

nale

nale

ż

ż

y j

y j

ą

ą

pomno

pomno

ż

ż

y

y

ć

ć

przez sta

przez sta

łą

łą

przyrz

przyrz

ą

ą

du w celu

du w celu

uzyskania wskazania.

uzyskania wskazania.





Wielko

Wielko

ś

ś

ci

ci

ą

ą

mo

mo

ż

ż

e by

e by

ć

ć

warto

warto

ść

ść

mierzona, sygna

mierzona, sygna

ł

ł

pomiarowy lub inna wielko

pomiarowy lub inna wielko

ść

ść

zastosowana do

zastosowana do

okre

okre

ś

ś

lenia warto

lenia warto

ś

ś

ci wielko

ci wielko

ś

ś

ci mierzonej.

ci mierzonej.





Wskazanie wzorca miary stanowi przypisana mu

Wskazanie wzorca miary stanowi przypisana mu

warto

warto

ść

ść

.

.

background image

WYNIK SUROWY-

wynik pomiaru przed

korektą ędu systematycznego.

WYNIK POPRAWIONY

- wynik pomiaru po

korekcji błędu systematycznego.

DOKŁADNOŚĆ POMIARU

- stopień

zgodności wyniku pomiaru z wartością
rzeczywistą wielkości mierzonej.

background image

POWTARZALNOŚĆ (

WYNIKÓW

POMIARÓW

)

- stopień zgodności wyników

kolejnych pomiarów tej samej wielkości
mierzonej, wykonywanych w tych samych
warunkach pomiarowych.

Warunki powtarzalno

Warunki powtarzalno

ś

ś

ci obejmuj

ci obejmuj

ą

ą

:

:

-

-

t

t

ą

ą

same procedur

same procedur

ę

ę

pomiarow

pomiarow

ą

ą

i tego samego

i tego samego

obserwatora,

obserwatora,

-

-

ten sam przyrz

ten sam przyrz

ą

ą

d pomiarowy stosowany w tych

d pomiarowy stosowany w tych

samych warunkach i to samo miejsce,

samych warunkach i to samo miejsce,

-

-

powtarzanie pomiaru w kr

powtarzanie pomiaru w kr

ó

ó

tkich odst

tkich odst

ę

ę

pach czasu.

pach czasu.

Powtarzalno

Powtarzalno

ść

ść

mo

mo

ż

ż

na wyra

na wyra

ż

ż

a

a

ć

ć

ilo

ilo

ś

ś

ciowo za pomoc

ciowo za pomoc

ą

ą

charakterystyk rozrzutu wynik

charakterystyk rozrzutu wynik

ó

ó

w

w

background image

ODTWARZALNOŚĆ (

WYNIKÓW POMIARÓW

)-

stopień zgodności wyników pomiarów tej samej
wielko
ści mierzonej, wykonywanych w
zmienionych warunkach pomiarowych.





Warunki podlegaj

Warunki podlegaj

ą

ą

ce zmianom mog

ce zmianom mog

ą

ą

obejmowa

obejmowa

ć

ć

:

:

zasad

zasad

ę

ę

pomiaru, metod

pomiaru, metod

ę

ę

pomiaru, obserwatora,

pomiaru, obserwatora,

przyrz

przyrz

ą

ą

d pomiarowy,

d pomiarowy,

etalon

etalon

odniesienia,

odniesienia,

miejsce, warunki stosowania, czas

miejsce, warunki stosowania, czas

.

.





Odtwarzalno

Odtwarzalno

ść

ść

mo

mo

ż

ż

na wyra

na wyra

ż

ż

a

a

ć

ć

ilo

ilo

ś

ś

ciowo za

ciowo za

pomoc

pomoc

ą

ą

charakterystyk rozrzutu wynik

charakterystyk rozrzutu wynik

ó

ó

w

w

background image

NIEPEWNOŚĆ POMIARU

- parametr,

związany z wynikiem pomiaru, charakteryzujący
rozrzut warto
ści, które można w uzasadniony

sposób przypisać wielkości mierzonej.





Parametrem mo

Parametrem mo

ż

ż

e by

e by

ć

ć

na przyk

na przyk

ł

ł

ad odchylenie

ad odchylenie

standardowe albo po

standardowe albo po

ł

ł

owa szeroko

owa szeroko

ś

ś

ci przedzia

ci przedzia

ł

ł

u

u

odpowiadaj

odpowiadaj

ą

ą

cego okre

cego okre

ś

ś

lonemu poziomowi ufno

lonemu poziomowi ufno

ś

ś

ci.

ci.





Przyjmuje si

Przyjmuje si

ę

ę

, ze wynik pomiaru stanowi najlepsze

, ze wynik pomiaru stanowi najlepsze

oszacowanie warto

oszacowanie warto

ś

ś

ci wielko

ci wielko

ś

ś

ci mierzonej i

ci mierzonej i

ż

ż

e

e

wszystkie sk

wszystkie sk

ł

ł

adniki niepewno

adniki niepewno

ś

ś

ci, w

ci, w

łą

łą

cznie z tymi,

cznie z tymi,

kt

kt

ó

ó

re pochodz

re pochodz

ą

ą

od efekt

od efekt

ó

ó

w systematycznych, jak na

w systematycznych, jak na

przyk

przyk

ł

ł

ad sk

ad sk

ł

ł

adniki zwi

adniki zwi

ą

ą

zane z poprawkami lub z

zane z poprawkami lub z

etalonami

etalonami

odniesienia, wnosz

odniesienia, wnosz

ą

ą

sw

sw

ó

ó

j udzia

j udzia

ł

ł

do

do

rozrzutu.

rozrzutu.

background image

ĄD POMIARU

- różnica miedzy

wynikiem pomiaru a wartością prawdziwą
wielkości mierzonej.





Poniewa

Poniewa

ż

ż

warto

warto

ść

ść

prawdziwa nie mo

prawdziwa nie mo

ż

ż

e by

e by

ć

ć

okre

okre

ś

ś

lona, stosuje si

lona, stosuje si

ę

ę

w praktyce

w praktyce warto

warto

ść

ść

umownie prawdziw

umownie prawdziw

ą

ą

.

.





Je

Je

ż

ż

eli trzeba rozr

eli trzeba rozr

ó

ó

ż

ż

nia

nia

ć

ć

mi

mi

ę

ę

dzy

dzy "b

"b

łę

łę

dem"

dem"

i

i

"b

"b

łę

łę

dem wzgl

dem wzgl

ę

ę

dnym",

dnym",

to pierwszy bywa

to pierwszy bywa

niekiedy nazywany "

niekiedy nazywany "b

b

łę

łę

dem bezwzgl

dem bezwzgl

ę

ę

dnym

dnym

pomiaru

pomiaru

". Nie nale

". Nie nale

ż

ż

y go myli

y go myli

ć

ć

z

z warto

warto

ś

ś

ci

ci

ą

ą

bezwzgl

bezwzgl

ę

ę

dn

dn

ą

ą

b

b

łę

łę

du

du

, kt

, kt

ó

ó

ra jest modu

ra jest modu

ł

ł

em b

em b

łę

łę

du.

du.

background image

ĄD WZGLĘDNY

- stosunek błędu pomiaru

do wartości prawdziwej wielkości mierzonej.

ĄD PRZYPADKOWY-

żnica między

wynikiem pomiaru a średnią z nieskończonej
liczby wyników pomiarów tej samej wielko
ści
mierzonej, wykonanych w warunkach

powtarzalności.

ĄD SYSTEMATYCZNY-

żnica między

ś

rednią z nieskończonej liczby wyników

pomiarów tej samej wielkości mierzonej,
wykonanych w warunkach powtarzalno
ści, a

wartością prawdziwą wielkości mierzonej.


Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
Podstawy metr wykł 7 2010 WMP1
Podstawy metr wykł05
Podstawy metr wykł 5 2010 niepewnosc bledy
Podstawy metr wykł11 2008
Podstawy metr wykł1 2008
Podstawy metr wykł10
Podstawy metr wykł14
Podstawy metr wykł6 2008
Podstawy metr wykł13 2008 Gwinty, koła zębate
Podstawy metr wykl1
Podstawy metr wykł13 2008
Podstawy metr wykł 6 2010 sprzet pom

więcej podobnych podstron