Sprawozdanie z wykonanego ¢wiczenia nr 451
Temat:
Wyznaczanie dªugo±ci fali ±wiatªa na pomoc¡ interferometru Michelsona.
Imi¦ i nazwisko:
Tomasz Pu±lednik
Rok studiów:
Wydziaª:
I
Wydziaª Informatyki
Zespóª:
Data wykonania:
Ocena:
Podpis:
21
29.10.2012
1 Wst¦p teoretyczny.
1.1 Zasada dziaªania interferometru Michelsona.
Zasada dziaªania interferometru Michelsona opiera si¦ na zjawisku interferencji fal. Przyrz¡d ten
pozwala wykonywa¢ pomiary odlegªo±ci i rozmiarów obiektów z dokªadno±ci¡ do dªugo±ci fali u»ytego
promieniowania.
Wi¡zka ±wiatªa lasera, po przej±ciu przez soczewk¦ S, pada na szklan¡ pªytk¦ póªprzepuszczaln¡
P, gdzie ulega podziaªowi na dwie wi¡zki (cz¦±¢ wi¡zki jest odbijana przez powierzchni¦ pªytki, a
reszta przechodzi przez ni¡). Podziaª mocy fali mi¦dzy wi¡zki odbywa si¦ w proporcji 50% : 50%.
Rozdzielone wi¡zki 1 i 2 s¡ kierowane do dwóch prostopadªych ramion interferometru zako«czo-
nych zwierciadªami Zr i Zs (Zr zwierciadªo ruchome, Zs zwierciadªo staªe) zawracaj¡cymi bieg
promieni. Zawrócone promienie ponownie padaj¡ na pªytk¦ póªprzepuszczaln¡ P, która ª¡czy je (na-
kªada na siebie) i kieruje na ekran. Na ekranie obserwujemy koncentryczne pr¡»ki interferencyjne,
powstaj¡ce na skutek interferencji obu promieni. Spotykaj¡ce si¦ fale pochodz¡ z tego samego ¹ró-
dªa, wi¦c s¡ spójne i mog¡ interferowa¢ ze sob¡. Gdy fale spotkaj¡ si¦ w zgodnej fazie, uzyskujemy
na ekranie wzmocnienie interferencyjne, natomiast gdy spotkaj¡ si¦ w przeciwnej fazie, uzyskujemy
ich wzajemne osªabienie. Zmian¦ fazy jednej z fal mo»emy wywoªa¢ np. przesuwaj¡c zwierciadªo Zr.
Zwierciadªo Zr jest poruszane za pomoc¡ d¹wigni o przeªo»eniu 1:10, poruszanej za pomoc¡ ±ruby
mikrometrycznej Sm. Sr s¡ pokr¦tªami regulacyjnymi.
Rysunek 1: Schemat ukªadu pomiarowego dªugo±ci fali ±wiatªa.
1
1.2 Wprowadzenie do ¢wiczenia.
Przy u»yciu ±ruby mikrometrycznej Sm mierzymy przesuni¦cie zwierciadªa ruchomego Zr (przy
uwzgl¦dnieniu d¹wigni 1:10 pomi¦dzy ±rub¡ mikrometryczn¡ i zwierciadªem ruchomym) i na
podstawie jednoczesnej obserwacji liczby zmiany pr¡»ków interferencyjnych i okre±lenia ich liczby
m
zmierzymy, o ile dªugo±ci fali zmieniªa si¦ droga przebyta przez ±wiatªo w jednym z ramion
interferometru. Poniewa» przesuni¦cie zwierciadªa o jedn¡ jednostk¦ dªugo±ci powoduje wydªu»enie
drogi geometrycznej ±wiatªa (promie« padaj¡cy i odbity), zmiana drogi s przebytej przez ±wiatªo dana
jest wyra»eniem s = 2·d. W celu zwi¦kszenia dokªadno±ci pomiaru zwi¦kszymy ró»nic¦ drogi przebytej
przez ±wiatªo do 159 dªugo±ci fali ±wiatªa. Dªugo±¢ fali ±wiatªa wyznaczymy z zale»no±ci: λ =
2·d
m
,
gdzie d przesuni¦cie ruchomego zwierciadªa, m liczba zmian centralnego pr¡»ka (ciemny-jasny-
ciemny = 1 pr¡»ek).
2
2 Tabelka pomiarowa oraz obliczenia.
Tabela 1: Wyniki pomiarów oraz obliczenia warto±ci u±rednionych.
Liczba pr¡»ków m Wskazanie
±ruby
mikrometrycznej
Pomiar
_
x
[mm] d =
_
x
10
[mm]
1
2
3
4
5
159
Pocz¡tkowe x
1
[mm] 5.00 5.50 6.00 6.50 7.00
Ko«cowe x
2
[mm]
5.53 6.04 6.52 7.07 7.51
Przesuni¦cie
x = |x
2
− x
1
|
[mm]
0.53 0.54 0.52 0.57 0.51 0.5340
0.0534
Obliczenia:
λ =
2 · d
m
=
2 · 0.0534
159
= 671.6981
nm
u
A
(x) =
v
u
u
u
u
t
n
P
i=1
(x
i
−
_
x)
2
n · (n − 1)
= 0.0103
, gdzie n ilo±¢ pomiarów, n = 5
u
B1
(x) =
∆x
1
√
3
=
0.1
√
3
= 0.0058
, gdzie ∆x
1
dokªadno±¢ odczytu nastawy x
1
mikrometru.
u
B2
(x) =
∆x
2
√
3
=
0.1
√
3
= 0.0058
, gdzie ∆x
2
dokªadno±¢ odczytu nastawy x
2
mikrometru.
u
B3
(x) =
∆x
3
√
3
=
0.1
√
3
= 0.0058
, gdzie ∆x
3
dokªadno±¢ mikrometru.
u
B
(x) =
q
u
2
B1
(x) + u
2
B2
(x) + u
2
B3
(x) = 0.01
u
C
(x) =
q
u
2
A
(x) + u
2
B
(x) = 0.1604
u
B
(m) =
∆m
√
3
=
7
√
3
= 4.0415
, gdzie ∆m szacowana pomyªka przy zliczaniu pr¡»ków. ∆m = 7
u
C
(m) =
q
u
2
B
(m) = 0.0415
u
C
(λ) =
1
5 · m
·
s
u
2
C
(x) + (
_
x
m
)
2
· u
2
C
(m) = 202.4821
nm
3
3 Wnioski wªasne.
Obliczona dªugo±¢ fali ±wiatªa lasera wynosi λ = 671.6981 nm. Warto±¢ ta nale»y do obszaru od-
powiadaj¡cego czerwonej barwie ±wiatªa. Pojawia si¦ jednak rozbie»no±¢ mi¦dzy obliczon¡ warto±ci¡,
a warto±ci¡ zapisan¡ na tabliczce znamionowej lasera, wynosz¡c¡ 632.8 nm, cho¢ obie warto±ci le»¡
w tym samym obszarze widma.
Caªkowita niepewno±¢ pomiarowa wynosz¡ca u
c
(λ) = 202.4821
nm wskazuje na wysok¡ dokªad-
no±¢ pomiaru.
4