background image

ANALIZA WYNIKÓW POMIARÓW 

(AWP)

Jednostka prowadz

ą

ca: 

Instytut Metrologii i In

Ŝ

ynierii Biomedycznej

Autor programu: 

dr in

Ŝ

. Jerzy Arendarski

INFORMACJE OGÓLNE

Rodzaj zaj

ęć

wykład (15 h) + laboratorium (15 h)

Termin zaj

ęć

:

zgodnie z rozkładem; 
wykład - sala 206

Prowadz

ą

cy wykłady: 

dr in

Ŝ

. Jerzy Arendarski

Tryb zaliczenia przedmiotu: 

EGZAMIN + zaliczenie laboratorium

Uzyskanie powy

Ŝ

ej 50% punktów 

jest podstaw

ą

do zaliczenia przedmiotu.

2

UWARUNKOWANIA MERYTORYCZNE

Przewidywane efekty kształcenia:

•Wzbogacenie wiedzy na temat:

zakłóce

ń

przebiegu procesów pomiarowych,

metod analizy czynników wpływaj

ą

cych na wiarygodno

ść

i u

Ŝ

yteczno

ść

uzyskiwanych wyników pomiarów.

•Nabycie umiej

ę

tno

ś

ci opracowywania bud

Ŝ

etów 

niepewno

ś

ci pomiarów dowolnych wielko

ś

ci fizycznych, ze 

szczególnym uwzgl

ę

dnieniem wielko

ś

ci geometrycznych. 

3

UWARUNKOWANIA MERYTORYCZNE

Wymagana jest znajomo

ść

zagadnie

ń

z zakresu przedmiotów: 

Zasady u

Ŝ

ytkowania i programowania komputerów, 

Podstawy metrologii, 

Metrologia techniczna,

Miernictwo wielko

ś

ci elektrycznych,

Statystyka matematyczna.

4

PROGRAM RAMOWY WYKŁADU

1. Formułowanie, interpretacja i u

Ŝ

yteczno

ść

wyniku pomiaru:

Formułowanie i interpretacja ko

ń

cowej postaci 

wyniku pomiaru. 

Istota niepewno

ś

ci pomiaru. 

Charakter zakłóce

ń

procesów pomiarowych. 

Model matematyczny wyniku pomiaru. 

Wiarygodno

ść

wyniku pomiaru. 

Znaczenie niepewno

ś

ci dla efektywnego 

wykorzystania wyniku pomiaru.

5

PROGRAM RAMOWY WYKŁADU

2. Podstawowe kategorie składowych wyniku 

pomiaru i metody ich wyznaczania:

Niepewno

ść

pomiaru a bł

ą

d pomiaru, 

ę

dy systematyczne i przypadkowe w procesie 

pomiarowym, 

Metoda propagacji bł

ę

dów systematycznych, 

Równanie pomiaru, obejmuj

ą

ce wszystkie istotne 

składowe, jako funkcja wielu zmiennych losowych, 

Formuły obliczanie warto

ś

ci oczekiwanej i wariancji funkcji 

wielu zmiennych losowych,

Wpływ zale

Ŝ

no

ś

ci stochastycznej mi

ę

dzy parami 

zmiennych  na formuł

ę

obliczania wariancji wypadkowej.

6

background image

PROGRAM RAMOWY WYKŁADU

3. Metody szacowania niepewno

ś

ci 

standardowych cz

ą

stkowych i zło

Ŝ

onych:

Szacowania niepewno

ś

ci standardowych 

metod

ą

typu A i metod

ą

typu B, 

Przykłady obliczania niepewno

ś

ci standardowych 

metodami typu A i B, 

Niepewno

ść

standardowa zło

Ŝ

ona bezwzgl

ę

dna i 

wzgl

ę

dna, 

Formuły obliczania niepewno

ś

ci 

standardowej zło

Ŝ

onej bezwzgl

ę

dnej i wzgl

ę

dnej.

PROGRAM RAMOWY WYKŁADU

4. Wyznaczanie niepewno

ś

ci rozszerzonej 

pomiaru:

Niepewno

ść

rozszerzona, 

Zasady ustalania współczynnika rozszerzenia przy 
obliczaniu niepewno

ś

ci rozszerzonej – metoda 

analityczna i metoda symulacji komputerowej (Metoda 
Monte Carlo), 

Bud

Ŝ

et niepewno

ś

ci pomiaru, 

Wykorzystania prostych aplikacji komputerowych do 
sporz

ą

dzania bud

Ŝ

etów niepewno

ś

ci pomiaru,

PROGRAM RAMOWY WYKŁADU

5. Procedura ogólna szacowania 

niepewno

ś

ci pomiaru:

Sformalizowany tryb post

ę

powania przy 

szacowaniu niepewno

ś

ci pomiaru, 

Realizacja procedury na przykładzie wybranych 

wielko

ś

ci fizycznych i wybranych metod 

pomiarowych.

PROGRAM RAMOWY WYKŁADU

6. Szacowanie niepewno

ś

ci pomiaru przy 

wzorcowaniu przyrz

ą

dów pomiarowych:

Formułowanie równa

ń

pomiaru i równa

ń

niepewno

ś

ci 

standardowych zło

Ŝ

onych dla wzorcowa

ń

wybranych 

rodzajów przyrz

ą

dów pomiarowych, 

Zastosowanie metody obliczania wariancji wspólnej 
do szacowania niepewno

ś

ci cz

ą

stkowej zwi

ą

zanej 

z rozrzutem wskaza

ń

wzorcowanego przyrz

ą

du, 

Przykładowy bud

Ŝ

et niepewno

ś

ci wzorcowania 

przyrz

ą

du pomiarowego.

PROGRAM RAMOWY WYKŁADU

7. Niepewno

ść

pomiaru w aspekcie orzekania 

zgodno

ś

ci wielko

ś

ci mierzonej z 

wymaganiami:

Znaczenie niepewno

ś

ci pomiaru 

w kontek

ś

cie orzekania o zgodno

ś

ci z wymaganiami, 

Ryzyko podj

ę

cia bł

ę

dnej decyzji, 

Niepewno

ść

dopuszczalna (wymagana),  

Zasady i kryteria potwierdzania zgodno

ś

ci 

wg normy PN-EN ISO 14253-1, 

Zasady zarz

ą

dzania niepewno

ś

ci

ą

wg normy PN –ENV ISO 14253-2. 

PROGRAM RAMOWY WYKŁADU

8. Podsumowanie i sprawdzian kontrolny:

Podsumowanie – podstawowe problemy 

wyst

ę

puj

ą

ce przy szacowaniu niepewno

ś

ci 

pomiarów. 

background image

1. Wyznaczanie niepewno

ś

ci pomiaru 

bezpo

ś

redniego

2. Analiza niepewno

ś

ci pomiaru rozstawienia 

otworów za pomoc

ą

mikroskopu pomiarowego

3. Analiza niepewno

ś

ci pomiaru lepko

ś

ci cieczy 

wiskozymetrem Höpplera

ZAKRES 

Ć

WICZE

Ń

LABORATORYJNYCH

4. Wyznaczanie niepewno

ś

ci pomiarów 

z uwzgl

ę

dnieniem korelacji 

mi

ę

dzy parami wielko

ś

ci wej

ś

ciowych

5. Wyznaczanie niepewno

ś

ci pomiarów 

porównawczych  ró

Ŝ

nicowych

6. Wyznaczanie niepewno

ś

ci pomiarów 

przy  wzorcowaniu przyrz

ą

dów 

suwmiarkowych i mikrometrycznych

14

ZAKRES 

Ć

WICZE

Ń

LABORATORYJNYCH

7. Aproksymacja liniowa niepewno

ś

ci 

wzorcowania kompletu płytek 

wzorcowych

8. Podsumowanie wyników laboratorium 

(Ko

ń

cowa merytoryczna i formalna ocena 

przebiegu laboratorium)

15

ZAKRES 

Ć

WICZE

Ń

LABORATORYJNYCH

FORMA ZALICZENIA PRZEDMIOTU

WYK

Ł

AD:

Egzamin

LABORATORIUM:

Suma punktów z poszczególnych 

ć

wicze

ń

ocenianych w skali 0 

÷

5. 

PRZEDMIOT:

Maksymalne liczby punktów za egzamin i za laboratorium s

ą

jednakowe i 

wynosz

ą

35. Warunkiem zaliczenia przedmiotu jest uzyskanie 

z ka

Ŝ

dej cz

ęś

ci powy

Ŝ

ej 50 % mo

Ŝ

liwych do uzyskania punktów. 

Ocen

ę

ogóln

ą

wyznacza si

ę

na podstawie sumy punktów uzyskanych 

z obu cz

ęś

ci, wg zasady:  uzyskanie:

•ponad 50 % do 60 % 

-

ocena 3,0

•ponad 60 % do 70 % 

-

ocena 3,5; 

•ponad 70 % do 80 %  

-

ocena 4,0;

ponad 80 % do 90 % 

-

ocena 4,5; 

•ponad 90 % 

-

ocena 5,0

LITERATURA:

1.

J. Arendarski: Niepewno

ść

pomiarów, Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, 

Warszawa 2006

2.

W. Jakubiec, J. MalinowskiMetrologia wielko

ś

ci geometrycznych, WNT, Warszawa 2004

3.

J. Jó

ź

wiak, J. Podgórski:  Statystyka od podstaw, PWE, Warszawa 2006

4.

J. Tomasik i inni: Sprawdzanie przyrz

ą

dów do pomiaru długo

ś

ci i k

ą

ta, Oficyna 

Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, Warszawa 2003

5.

PN-EN ISO 14253-1Specyfikacja geometrii wyrobów (GPS), Kontrola wyrobów i sprz

ę

tu 

pomiarowego za pomoc

ą

pomiarów, Reguły orzekania zgodno

ś

ci lub niezgodno

ś

ci ze 

specyfikacj

ą

6.

PN-EN ISO 14253 –2Specyfikacja geometrii wyrobów (GPS), Kontrola wyrobów i sprz

ę

tu 

pomiarowego za pomoc

ą

pomiarów, Przewodnik szacowania niepewno

ś

ci w pomiarach 

GPS, przy wzorcowaniu sprz

ę

tu pomiarowego i kontroli wyrobów

7.

Mi

ę

dzynarodowy słownik podstawowych i ogólnych terminów metrologii, GUM,  Warszawa 

1996

8.

Przewodnik ISO: Wyra

Ŝ

anie niepewno

ś

ci pomiaru, GUM , 1999