OPIS STANU POWIERZCHNI
n
i
i
l
r
y
n
dx
y
l
Ra
r
1
0
1
1
Średnie arytmetyczne odchylenie profilu od linii średniej: Ra –
ISO 4287:1999
l
r
R
z
linia
średnia
Największa wysokość profilu: Rz – ISO 4287:1999
l
r
– odcinek elementarny
Parametry chropowatości i falistości
l
r
– odcinek elementarny, l
n
– odcinek pomiarowy
R
t
l
r
l
r
l
r
l
r
l
r
l
n
linia
średnia
Całkowita wysokość chropowatości: Rt – ISO 4287:1999
n
i
wi
l
w
w
h
n
dx
h
l
Wa
w
1
0
1
1
l
w
– odcinek pomiarowy
n
i
wvi
n
i
wpi
C
h
n
h
n
W
1
1
1
1
Średnie arytmetyczne odchylenie profilu falistości: Wa – ISO
4287:1999
Średnia wysokość falistości: Wc – ISO 4287:1999
Maksymalna wysokość profilu falistości: Wz=Wp+Wv – ISO
4287:1999
Wartości
chropowatości
Ra [m]
Odcinek
elementarn
y l
r
[mm]
Odcinek
pomiarowy
l
n
[mm]
(0.006)<Ra<0.02
0.08
0.4
0.02<Ra<0.1
0.25
1.25
0.1<Ra<2
0.8
4
2<Ra<10
2.5
12.5
10<Ra<80
8
40
Wartości
chropowatości
Rz, Rt [mm]
Odcinek
elementarn
y l
r
[mm]
Odcinek
pomiarowy
l
n
[mm]
(0.025)<Rz<0.1
0.08
0.4
0.1<Rz<0.5
0.25
1.25
0.5<Rz<10
0.8
4
10<Rz<50
2.5
12.5
50<Rz<200
8
40
Wartości
chropowatoś
ci
Ra [m]
Stopnie
chropowatośc
i
wg ISO1302
50
N12
25
N11
12,5
N10
6,3
N9
3,2
N8
1,6
N7
0,8
N6
0,4
N5
0,2
N4
0,1
N3
0,05
N2
0,025
N1
Stopnie chropowatości
(PN-EN ISO 1302:2004)
Wielkości odcinków elementarnych
i pomiarowych (ISO 4288:1997)
Zasada maksimum
Jeśli wymagania określa się za pomocą wartości maksymalnej
sprawdzanego parametru, to żadna z wartości parametrów
zmierzonych
na
sprawdzanej
powierzchni
nie
powinna
przekraczać wartości podanej na rysunku (
PN-EN ISO 1302:2004).
Zasada 16%
Jeśli wymagania określa się za pomocą górnej (dolnej) granicy
danego parametru, to powierzchnia uważana jest za zgodną z
wymaganiami wówczas, gdy nie więcej niż 16% wszystkich
wartości zmierzonych wybranego parametru na jednym odcinku
pomiarowym jest większa (mniejsza) niż wartość podana na
rysunku (
PN-EN ISO 1302:2004).
Filtr
chropowatości
długofalowy
c [mm]
Filtr chropowatości
krótkofalowy
s [mm]
c/ s
Promień wierzchołka
ostrza odwzorowującego
r
tip
[m]
0.08
2.5
30
2
0.25
2.5
100
2
0.8
2.5
300
2
2.5
8
300
5
8
25
300
10
Pasmo przenoszenia - filtr
krótkofalowy: s=0,008 mm, filtr
długofalowy (odcinek
elementarny): c=2,5 mm,
parametr chropowatości: Ra=6,3
m
PN-EN ISO 1302:2004
50%
Przenoszen
ie
Długość
fali
100%
s
c
f
chropowat
ość
falisto
ść
ISO 4287:1998
Zależność miedzy filtrami chropowatości , dla wartości
nominalnej statycznego nacisku pomiarowego 0,00075 N (PN-
ISO 3274:1997)
Górna
granica
wymagania
Dolna granica
wymagania
Typ
filtra
Pasmo
przenoszeni
a
Profil
Cecha
charakterystyc
zna profilu
Odcinek
pomiarow
y
Zasada
maksimum
Wartość
graniczna
Kierunkowo
ść struktury
Naddate
k na
obróbkę
Rodzaj
metody
wytwarzani
a
Metoda
wytwarza
nia
Opis symbolu stanu powierzchni
a –
Pierwszy wymóg
dotyczący jakości
powierzchni
b – Drugi wymóg dotyczący jakości powierzchni
c – Rodzaj obróbki
d – Kierunkowość struktury
e – Naddatek na obróbkę w mm
Rodzaje symboli stanu powierzchni
Wymagana obróbka skrawaniem
Dopuszczalny dowolny sposób wykonania
Niedopuszczalna obróbka ubytkowa
Powierzchnia
z
poprzedniego
procesu
technologicznego
Znak stosowany w oznaczeniu zbiorczym (w
nawiasach)
Jednakowy stan powierzchni na obwodzie
3 .
7 .
4 .
5 .
6 .
1 .
2 .
Kierunkowość struktury
Kierunek śladów obróbki
1.Koncentryczne w stosunku do punktu środkowego (w przybliżeniu).
2.Promieniowe względem środka (w przybliżeniu).
3.Równolegle do płaszczyzny rzutu powierzchni.
4.Prostopadle do płaszczyzny rzutu powierzchni.
5.Krzyżujące się w dwóch ukośnych kierunkach.
6.Wielokierunkowe (nieuporządkowane).
7.Bez określonego kierunku (punktowe).
Przykłady nanoszenia symboli stanu powierzchni na rysunkach
Powierzchnie przedmiotu mają jednakową chropowatość
Powierzchnie przedmiotu mają różną chropowatość
Chropowatość przed i po nałożeniu powłoki
Dane dotyczące obróbki cieplnej
Dane dotyczące obróbki cieplnej