Opis stanu powierzchni

background image

OPIS STANU POWIERZCHNI

background image

n

i

i

l

r

y

n

dx

y

l

Ra

r

1

0

1

1

Średnie arytmetyczne odchylenie profilu od linii średniej: Ra –

ISO 4287:1999

l

r

R
z

linia
średnia

Największa wysokość profilu: Rz – ISO 4287:1999

l

r

– odcinek elementarny

Parametry chropowatości i falistości

background image

l

r

– odcinek elementarny, l

n

– odcinek pomiarowy

R
t

l

r

l

r

l

r

l

r

l

r

l

n

linia
średnia

Całkowita wysokość chropowatości: Rt – ISO 4287:1999

background image

n

i

wi

l

w

w

h

n

dx

h

l

Wa

w

1

0

1

1

l

w

– odcinek pomiarowy

n

i

wvi

n

i

wpi

C

h

n

h

n

W

1

1

1

1

Średnie arytmetyczne odchylenie profilu falistości: Wa – ISO

4287:1999

Średnia wysokość falistości: Wc – ISO 4287:1999

Maksymalna wysokość profilu falistości: Wz=Wp+Wv – ISO

4287:1999

background image

Wartości

chropowatości

Ra [m]

Odcinek

elementarn

y l

r

[mm]

Odcinek

pomiarowy

l

n

[mm]

(0.006)<Ra<0.02

0.08

0.4

0.02<Ra<0.1

0.25

1.25

0.1<Ra<2

0.8

4

2<Ra<10

2.5

12.5

10<Ra<80

8

40

Wartości

chropowatości

Rz, Rt [mm]

Odcinek

elementarn

y l

r

[mm]

Odcinek

pomiarowy

l

n

[mm]

(0.025)<Rz<0.1

0.08

0.4

0.1<Rz<0.5

0.25

1.25

0.5<Rz<10

0.8

4

10<Rz<50

2.5

12.5

50<Rz<200

8

40

Wartości

chropowatoś

ci

Ra [m]

Stopnie

chropowatośc

i

wg ISO1302

50

N12

25

N11

12,5

N10

6,3

N9

3,2

N8

1,6

N7

0,8

N6

0,4

N5

0,2

N4

0,1

N3

0,05

N2

0,025

N1

Stopnie chropowatości

(PN-EN ISO 1302:2004)

Wielkości odcinków elementarnych

i pomiarowych (ISO 4288:1997)

background image

Zasada maksimum

Jeśli wymagania określa się za pomocą wartości maksymalnej
sprawdzanego parametru, to żadna z wartości parametrów
zmierzonych

na

sprawdzanej

powierzchni

nie

powinna

przekraczać wartości podanej na rysunku (

PN-EN ISO 1302:2004).

Zasada 16%

Jeśli wymagania określa się za pomocą górnej (dolnej) granicy
danego parametru, to powierzchnia uważana jest za zgodną z
wymaganiami wówczas, gdy nie więcej niż 16% wszystkich
wartości zmierzonych wybranego parametru na jednym odcinku
pomiarowym jest większa (mniejsza) niż wartość podana na
rysunku (

PN-EN ISO 1302:2004).

background image

Filtr

chropowatości

długofalowy

c [mm]

Filtr chropowatości

krótkofalowy

s [mm]

c/ s

Promień wierzchołka

ostrza odwzorowującego

r

tip

[m]

0.08

2.5

30

2

0.25

2.5

100

2

0.8

2.5

300

2

2.5

8

300

5

8

25

300

10

Pasmo przenoszenia - filtr

krótkofalowy: s=0,008 mm, filtr

długofalowy (odcinek

elementarny): c=2,5 mm,

parametr chropowatości: Ra=6,3

m

PN-EN ISO 1302:2004

50%

Przenoszen
ie

Długość
fali

100%

s

c

f

chropowat
ość

falisto
ść

ISO 4287:1998

Zależność miedzy filtrami chropowatości , dla wartości

nominalnej statycznego nacisku pomiarowego 0,00075 N (PN-

ISO 3274:1997)

background image

Górna

granica

wymagania

Dolna granica

wymagania

Typ

filtra

Pasmo

przenoszeni

a

Profil

Cecha

charakterystyc

zna profilu

Odcinek

pomiarow

y

Zasada

maksimum

Wartość

graniczna

Kierunkowo

ść struktury

Naddate

k na

obróbkę

Rodzaj

metody

wytwarzani

a

Metoda

wytwarza

nia

Opis symbolu stanu powierzchni

a –

Pierwszy wymóg

dotyczący jakości

powierzchni
b – Drugi wymóg dotyczący jakości powierzchni
c – Rodzaj obróbki
d – Kierunkowość struktury
e – Naddatek na obróbkę w mm

background image

Rodzaje symboli stanu powierzchni

Wymagana obróbka skrawaniem

Dopuszczalny dowolny sposób wykonania

Niedopuszczalna obróbka ubytkowa

Powierzchnia

z

poprzedniego

procesu

technologicznego

Znak stosowany w oznaczeniu zbiorczym (w
nawiasach)

Jednakowy stan powierzchni na obwodzie

background image

3 .

7 .

4 .

5 .

6 .

1 .

2 .

Kierunkowość struktury

Kierunek śladów obróbki

1.Koncentryczne w stosunku do punktu środkowego (w przybliżeniu).
2.Promieniowe względem środka (w przybliżeniu).
3.Równolegle do płaszczyzny rzutu powierzchni.
4.Prostopadle do płaszczyzny rzutu powierzchni.
5.Krzyżujące się w dwóch ukośnych kierunkach.
6.Wielokierunkowe (nieuporządkowane).
7.Bez określonego kierunku (punktowe).

background image

Przykłady nanoszenia symboli stanu powierzchni na rysunkach

background image

Powierzchnie przedmiotu mają jednakową chropowatość

background image

Powierzchnie przedmiotu mają różną chropowatość

background image

Chropowatość przed i po nałożeniu powłoki

background image

Dane dotyczące obróbki cieplnej

background image

Dane dotyczące obróbki cieplnej


Document Outline


Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
opis tech powierz
OPIS STANU PSYCHICZNEGO 2
2 punkt, mgr, 2 Opis stanu technicznego
MAteriały na EGzaMin Anatomia, Skóra - opis, Skóra (cutis) - najbardziej powierzchowna warstwa ciała
roda , Wielkość i kształt powierzchni d-stanu
roda , Wielkość i kształt powierzchni d-stanu
Opis UAR w przestrzeni stanu
wody powierzchniowe opis, technologia wody i sciekow Jachimko
LAB06 Opis UAR w przestrzeni stanu
Analiza numeryczna stanu naprężeń własnych stopu Al Mg Mn Sc Zr poddanego umocnieniu powierzchniowem
Tabelaryczny opis przydatności do użytkowania elementów obiektu, ocena stanu technicznego, opis uszk
Spoleczno ekonomiczne uwarunkowania somatyczne stanu zdrowia ludnosci Polski
Ocena stanu czystosci wod Zalewu Szczecinskiego ppt
Najbardziej charakterystyczne odchylenia od stanu prawidłowego w badaniu
Analiza pracy Opis stanowiska pracy
Obliczanie powierzchni
opis techniczny

więcej podobnych podstron