C - Statystyczna analiza wyników pomiarów, statystyczna analiza wynikow pomiarów(miern), Politechnika Wrocławska we Wrocławiu


Politechnika Wrocławska we Wrocławiu

Paweł Proń

Wydział Elektroniki

kierunek: EIT

data wykonania ćwiczenia:

98-04-07

Grupa:

I

rok akademicki:

97/98

Temat ćwiczenia: Statystyczna analiza wyników pomiarów

I. Cel ćwiczenia

Celem ćwiczenia jest zapoznanie ze statystyczną analizą wyników pomiarów, a w szczególności: sposobami znajdowania i eliminacji wyników obarczonych „błędami grubymi”, wyznaczanie i analizy składowej przypadkowej

II. Wyniki pomiarów.

  1. Pomiar boków a, b, c i wysokości ha, hb, hc trójkąta przez dwanaście osób.

0x08 graphic

Lp.

a [mm]

b [mm]

c [mm]

ha [mm]

hb [mm]

hc [mm]

Uwagi

1

95,08

85,33

76,35

65,37

72,67

81,29

błąd graniczny suwmiarki 0,03 [mm]

2

95,08

85,32

76,32

65,17

72,80

81,23

3

95,08

85,33

76,32

65,15

72,68

81,29

4

95,05

85,29

76,28

65,06

72,59

81,28

5

95,05

85,36

76,34

65,63

72,74

81,31

6

95,08

85,32

76,33

65,17

72,62

81,26

7

95,05

85,35

76,33

65,17

72,65

81,23

8

95,66

85,33

76,35

65,19

72,65

81,25

9

95,03

85,34

76,28

65,15

72,62

81,31

10

95,05

85,31

76,35

65,19

72,61

81,28

11

95,07

85,35

76,35

65,20

72,63

81,25

12

94,92

85,22

76,31

65,19

72,64

81,21

m

95,100

85,320

76,325

65,220

72,658

81,265

s

0,1818

0,0370

0,0254

0,1467

0,0592

0,0326

s - odchylenie standardowe średniej

  1. Po przeanalizowaniu wyników pomiarów nie stwierdziłem występowania błędów grubych.

  2. Na podstawie wartości średniej m, odchylenia standardowego średniej s i współczynnika Studenta-Fischera tN,, określam przedziały ufności wyników.

- dla N = 12,  = 0,95 - tN, = 1,8

a 0x01 graphic
< m - 0x01 graphic
;m + 0x01 graphic
>

a 0x01 graphic
< 95,1 - 0x01 graphic
; 95,1 + 0x01 graphic
>

a 0x01 graphic
< 95,1 - 0,4 ; 95,1 + 0,4 >

b 0x01 graphic
< 85,32 - 0,07 ; 85,32 + 0,07 >

c 0x01 graphic
< 76,33 - 0,05 ; 76,33 + 0,05 >

ha 0x01 graphic
< 65,22 - 0,27 ; 65,22 + 0,27 >

hb 0x01 graphic
< 72,66 - 0,11 ; 72,66 + 0,11 >

hc 0x01 graphic
< 81,27 - 0,06 ; 81,27 + 0,06 >

2. Na podstawie wzorów:

Pa = 0x01 graphic

Pb = 0x01 graphic

Pc = 0x01 graphic

Ph = 0x01 graphic
gdzie: p = 0x01 graphic

Lp.

Pa [mm2]

Pb [mm2]

Pc [mm2]

Ph [mm2]

1

3107,7

3100,5

3103,2

3094,5

2

3098,2

3105,6

3099,7

3093,2

3

3097,2

3100,9

3102,0

3093,5

4

3092,0

3095,6

3100,0

3090,7

5

3119,1

3104,5

3103,6

3094,4

6

3098,2

3098,0

3101,3

3093,5

7

3097,2

3100,3

3100,1

3093,9

8

3118,0

3099,6

3101,7

3103,4

9

3095,6

3098,7

3101,2

3091,7

10

3098,2

3097,2

3102,9

3093,5

11

3099,3

3099,5

3101,7

3094,8

12

3093,9

3095,2

3098,6

3087,8

m

3101,2

3099,6

3101,3

3093,7

s

8,9

3,1

1,5

3,6

  1. wyznaczam przedziały ufności wyników jak wyżej:

Pa 0x01 graphic
< 3101,2 - 16,1 ; 3101,2 +16,1 >

Pb 0x01 graphic
< 3099,6 - 5,6 ; 3099,6 +5,6 >

Pc 0x01 graphic
< 3101,3 - 2,7 ; 3101,3 +2,7 >

Ph 0x01 graphic
< 3093,7 - 6,5 ; 3093,7 +6,5 >

0x08 graphic

III. Wnioski.

Błędy przypadkowe pomiarów długości boków i wysokości trójkąta wynikają z faktu, że:

Na podstawie wyników pomiarów można wywnioskować, że w trójkącie dokładniej mierzy się długości boków w stosunku do długości wysokości. Wyjątkiem jest bok „a”, którego pomiar jest obarczony większym błędem w stosunku do pozostałych. Może to wynikać z własności geometrycznych tego boku (zaokrąglenia na wierzchołkach - duży promień „r”), należy także zauważyć, że wartość „a” jest największa.

Przy wyznaczaniu pola powierzchni, że duży wpływ na dokładność ma metoda pomiaru tzn. należy dążyć aby obliczenia zawierały jak najmniejszą liczbę pomiarów obarczonych błędem, oraz wybierać te pomiary które są obarczone najmniejszym błędem.

Jeżeli obliczymy pole z długości boku i wysokości i pomiary te są z małym błędem (c, hc), otrzymane pole jest najdokładniejsze ( Pc ). W przypadku obliczania pola ze wzoru Herona używamy trzech pomiarów obarczonych błędem, które się dodają. Warto też zauważyć, że pole to ma najmniejszą wartość w stosunku do pól liczonych z długości boku i wysokości, gdyż wartości wysokości przy pomiarze są zwykle zawyżone. Z wykresu widać, że pole to odbiega od pozostałych wskutek czego część wspólna jest nieduża. Pozostałe pola pokrywają się w środkach przedziałów ufności.

Politechnika Wrocławska - Instytut Metrologii © 1998

- 4 -

0x01 graphic

0x01 graphic



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
Struktura źródeł błędów w procesie pomiarowym, PWR Politechnika Wrocławska, podstawy metrologii, Wyk
Sprawozdanie I pomiary analogowe, POLITECHNIKA WROCŁAWSKA
Pomiar mocy, Pomiar mocy 2, Politechnika Wrocławska Instytut Metrologii Elektrycznej
Dyrektywa dot pomiarow, PWR Politechnika Wrocławska, podstawy metrologii, Wykłady 2011
Pomiar mocy, Pomiar mocy 1, Politechnika Wrocławska Instytut Metrologii Elektrycznej
ćwiczenie 2 Statystyczne opracowanie wyników pomiarów, ZiIP Politechnika Poznańska, Podstawy Metrolo
Metrologia-lab-Metodyka opracowań wyników pomiarowych, METPOM S, POLITECHNIKA RADOMSKA
METODYKA OPRACOWYWANIA WYNIKÓW POMIAROWYCH, MET0DY s G, POLITECHNIKA RADOMSKA
Analiza i Algebra liniowa semestr 2 Politechnika koszalińska kierunek informmatyka
Pomiary właściwości cieplnych materiałów izolacyjnych, Pim c7, Politechnika Wrocławska
Zastosowanie fotokomórki do pomiarów fotometrycznych, Politechnika Krakowska
Metrologia-lab-Rozszerzenie Zakresu Pomiarowego, ROZSZE 1, POLITECHNIKA RADOMSKA
Pomiary właściwości cieplnych materiałów izolacyjnych, PIM7, Politechnika Wrocławska Instytut
Pomiary właściwości cieplnych materiałów izolacyjnych, PIM7, Politechnika Wrocławska Instytut
Sprawozdanie 2 - analiza otrzymanej próbki soli, Politechika Białostocka, budownictwo semestr I 2013
Otrzymywanie i analiza brzeczki laboratoryjnej, BIOTECHNOLOGIA POLITECHNIKA ŁÓDZKA, PROCESY FERMENTA
Pomiar stratności, Pomiar stratności3, Politechnika Zielonogórska
Pomiary dlugosci, Politechnika Warszawska Wydział Transportu, Semestr VI, Technoka Pomiarowa Laborat

więcej podobnych podstron