Elementy XP


0x01 graphic

ELEKTROTECHNIKA I ELEKTRONIKA

LABORATORIUM

POMIARY CHARAKTERYSTYK EEMENTÓW ELEKTRONICZNYCH

Skład grupy wykonującej doświadczenie:

Wykonanie niniejszego sprawozdania

CEL ĆWICZENIA

Celem ćwiczenia było zapoznanie się ze sposobem opracowania wyników pomiarowych, obliczeniem niepewności wyniku pomiaru pośredniego, a także zwrócenie uwagi na fakt, że niepewność pomiaru pośredniego zależy od dokładności pomiarów bezpośrednich i od mierzonej wielkości. Ponadto cel stanowiło zapoznanie się z elementami liniowymi i nieliniowymi oraz wybranymi układami do pomiaru rezystancji.

ZASTOSOWANE PRZYRZĄDY POMIAROWE

SCHEMAT UKŁADU DO POMIARU REZYSTANCJI STATYCZNEJ I PRZYROSTOWEJ

0x01 graphic

ZASTOSOWANE WZORY

  1. Błąd pomiaru natężenia:

Bezwzględny: ΔI=(0,5% rdg+3dgt)

Względny: δI=ΔI/I*100%

  1. Błąd bezwzględny pomiaru napięcia:

Bezwzględny: ΔU=(0,05% rdg+3dgt)

Względny: δU=ΔU/U*100%

  1. Rezystancja statyczna: Rs = UV/IA

błąd bezwzględny: ΔRs=ΔU/I+-U/I2*ΔI

błąd względny: δRs=ΔRs/Rs

  1. Rezystancja przyrostowa: Rp = ΔU/ΔI

niepewności pomiary rezystancji przyrostowej wyznaczono metodą różniczki zupełnej:

błąd bezwzględny: ΔRp=ΔU/Ip+- Up/Ip2*ΔI

błąd względny: δRp=ΔU1 +ΔU2/U1-U2+ΔI1+ΔI 2/I1-I2= ΔRp/Rp*100%;

gdzie Ip - średnie natężenie prądu z danego przedziału: Ip=1/2(I1+I2)

WYNIKI POMIARÓW