Radosław Radzikowski
Przemysław Miłkowski
Bartosz Kowieski
Daniel Sawczuk Gr. II Kl. IIIat
Właściwości bramek Logicznych
Poznanie własności i zasad działania różnych bramek logicznych
Zmierzenie napięcia wejściowego i wyjściowego bramek TTL i CMOS
Wykorzystane Elementy:
Moduł edukacyjny KL-22001
Moduł edukacyjny KL-260021
Multimetr
Zasilacz stabilizowany z regulacją napięcia stałego 0–15V
Cel ćwiczenia:
W sprawozdaniu omówiona zostanie zasada działania bramek logicznych.
Przedstawione zostaną zależności napięcia progowego bramek logicznych, wartości znamionowe prądów i napięć bramek. Dokonany zostanie również ich pomiar.
Pomiar napięć bramek w układzie TTL
Zależność napięcia wejściowego i wyjściowego bramki dla Uz=0 – 5V
Standardowa bramka NAND (TTL)
A1 | F1 | A1 | F1 | A1 | F1 | A1 | F1 | A1 | F1 |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
0 | 3,36V | 1,5V | 170mV | 2,5V | 170mV | 3,5V | 170mV | 4,5V | 170mV |
0,6V | 3,35V | 1,6V | 170mV | 2,6V | 170mV | 3,6V | 170mV | 4,6V | 170mV |
0,7V | 3,34V | 1,7V | 170mV | 2,7V | 170mV | 3,7V | 170mV | 4,7V | 170mV |
0,8V | 3,33V | 1,8V | 170mV | 2,8V | 170mV | 3,8V | 170mV | 4,8V | 170mV |
0,9V | 3,27V | 1,9V | 170mV | 2,9V | 170mV | 3,9V | 170mV | 4,9V | 170mV |
1V | 3V | 2V | 170mV | 3V | 170mV | 4V | 170mV | 5V | 170mV |
1,1V | 175mV | 2,1V | 170mV | 3,1V | 170mV | 4,1V | 170mV | ||
1,2V | 170mV | 2,2V | 170mV | 3,2V | 170mV | 4,2V | 170mV | ||
1,3V | 170mV | 2,3V | 170mV | 3,3V | 170mV | 4,3V | 170mV | ||
1,4V | 170mV | 2,4V | 170mV | 3,4V | 170mV | 4,4V | 170mV |
Bramka NAND zmienia swój stan gdy na wejściu A1 pojawia się napięcie około 1V a całkowitą zmianę stanu gwarantuje napięcie około 1.1V podane na wejście A1.
Szybka bramka NOR
A3 | F2 | A3 | F2 | A3 | F2 | A3 | F2 | A3 | F2 |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
1V | 4,9V | 2V | 152mV | 3V | 152mV | 4V | 152mV | 5V | 152mV |
1,1V | 4,8V | 2,1V | 152mV | 3,1V | 152mV | 4,1V | 152mV | ||
1,2V | 4,7V | 2,2V | 152mV | 3,2V | 152mV | 4,2V | 152mV | ||
1,3V | 1V | 2,3V | 152mV | 3,3V | 152mV | 4,3V | 152mV | ||
1,4V | 1V | 2,4V | 152mV | 3,4V | 152mV | 4,4V | 152mV | ||
1,5V | 160mV | 2,5V | 152mV | 3,5V | 152mV | 4,5V | 152mV | ||
1,6V | 153mV | 2,6V | 152mV | 3,6V | 152mV | 4,6V | 152mV | ||
1,7V | 152mV | 2,7V | 152mV | 3,7V | 152mV | 4,7V | 152mV | ||
1,8V | 152mV | 2,8V | 152mV | 3,8V | 152mV | 4,8V | 152mV | ||
1,9V | 152mV | 2,9V | 152mV | 3,9V | 152mV | 4,9V | 152mV |
Bramka NOR zmienia swój stan z wysokiego na niski gdy na wejściu A3 pojawia się napięcie około 1.4V a całkowitą zmianę stanu gwarantuje napięcie około 1.5V podane na wejście A3.
Pomiar napięć bramek w układzie CMOS
Układy te są budowane przy użyciu tranzystorów i inwerterów typu CMOS
Zależność napięcia wejściowego i wyjściowego bramki dla Udd = 0 – 12V
Standardowa bramka NAND
A5 | Y1 | A5 | Y1 | A5 | Y1 | A5 | Y1 |
---|---|---|---|---|---|---|---|
0V | 11,5V | 3,5V | 11,5V | 7V | 0,3mV | 10,5V | 0,1mV |
0,5V | 11,5V | 4V | 11,5V | 7,5V | 0,3mV | 11V | 0,1mV |
1V | 11,5V | 4,5V | 11,5V | 8V | 0,2mV | 11,5V | 0,1mV |
1,5V | 11,5V | 5V | 11,5V | 8,5V | 0,2mV | 12V | 0,1mV |
2V | 11,5V | 5,5V | 11,5V | 9V | 0,2mV | 0,1mV | |
2,5V | 11,5V | 6V | 3.2V | 9,5V | 0,1mV | ||
3V | 11,5V | 6,5V | 0,3mV | 10V | 0,1mV |
Bramka NAND zbudowana na tranzystorach CMOS zmienia swój stan gdy na wejscie A5 podane zostaje napięcie około 6V.
Całkowitą zmianę stanu z wysokiego na niski przy tego typu bramce gwarantuje napięcie 9,5V podane na wejście A8.
Bardzo szybka bramka NOR
A8 | Y2 | A8 | Y2 | A8 | Y2 | A8 | Y2 |
---|---|---|---|---|---|---|---|
0V | 11,5V | 3,5V | 11,5V | 7V | 7mV | 10,5V | 6.1mV |
0,5V | 11,5V | 4V | 11,5V | 7,5V | 6.2mV | 11V | 6.1mV |
1V | 11,5V | 4,5V | 11,5V | 8V | 6.2mV | 11,5V | 6.1mV |
1,5V | 11,5V | 5V | 11,5V | 8,5V | 6.2mV | 12V | 6.1mV |
2V | 11,5V | 5,5V | 11,5V | 9V | 6.2mV | ||
2,5V | 11,5V | 6V | 3V | 9,5V | 6.2mV | ||
3V | 11,5V | 6,5V | 8mV | 10V | 6.1mV |
Bramka NOR (b. szybka) zbudowana na tranzystorach CMOS zmienia swój stan gdy na wejscie A8 podane zostaje napięcie około 6V. Całkowitą zmianę stanu z wysokiego na niski przy tego typu bramce gwarantuje napięcie 10V podane na wejście A8.
Pomiary napięcia progowego bramek TTL i CMOS
Układ TTL
Po doprowadzeniu do układu napięcia 5V na wejściu A1 standardowej bramki NAND pojawiło się napięcie 1V a na wyjściu F1 1,2V. Napięcie progowe tej bramki wynosi poniżej 1V a powyżej 1,2V.
Po doprowadzeniu do układu napięcia 5V na wejściu A3 szybkiej bramki NOR pojawiło się napięcie 0,9V a na wyjściu F2 0,69V. Napięcie progowe tej bramki wynosi poniżej 0,9V a powyżej 0,69V
Układ CMOS
Po doprowadzeniu do układu napięcia 12V na wejściu A5 standardowej bramki NAND pojawiło się napięcie 5,4V a na wyjściu Y1 5,3V. Napięcie progowe tej bramki wynosi poniżej 5,4V a powyżej 5,3V
Po doprowadzeniu do układu napięcia 12V na wejściu A7 bardzo szybkiej bramki NOR pojawiło się napięcie 5V a na wyjściu Y2 5,14V. Napięcie progowe tej bramki wynosi poniżej 5V a powyżej 5,14V
Wnioski
Bramki z tranzystorami polowymi (CMOS) mają stosunkowo długi czas przełączania pomiędzy stanami wysokim i niskim
w porównaniu do bramek TTL. Ich zaletą jest duża rozpiętość napięć, z którymi te bramki mogą pracować.
Bramki zbudowane na tranzystorach bipolarnych (bramki TTL) przełaczają swoje stany w bardzo krótkim czasie co jest porządane. Ich wadą są niestety niskie napięcia w których mogą pracować bez uszkodzeń układu.