PODSTAWY METROLOGII - LABORATORIUM |
WYDZIAŁ: BMiZ |
Data wykonania ćwiczenia: 15.10.2012r. |
WSTĘP TEORETYCZNY:
Rodzaje błędów:
Według prawdopodobieństwa pojawienia się:
Przypadkowe
Systematyczne
- znane
- nie znane
Grube
Według formy ujęcia liczbowego błędów:
Bezwzględne
- pozorne
- poprawne
Względne
Porównawcze
Maksymalne
Średnie kwadratowe
Średnie kwadratowe od wartości średniej
Średnie arytmetyczne
CEL ĆWICZENIA: Celem ćwiczenia było dokonanie pomiarów suwmiarką cyfrową i mikromierzem średnic wałeczków łożyskowych dużych i małych.
OBLICZENIA DLA 29 WAŁKÓW DUŻYCH MIERZONYCH SUWMIARKĄ:
Pomiary [mm]:
13,92 | 13,93 | 13,94 | 13,94 | 13,95 | 13,96 | 13,96 | 13,96 | 13,96 | 13,97 |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
13,92 | 13,93 | 13,94 | 13,94 | 13,95 | 13,96 | 13,96 | 13,96 | 13,96 | 13,98 |
13,93 | 13,93 | 13,94 | 13,95 | 13,95 | 13,96 | 13,96 | 13,96 | 13,96 |
Rozstęp i przedziały klasowe:
R = hmax- hmin=13,98 – 13,92 = 0,06 [mm]
zakładając długość przedziału ∆h=0,01 [mm]
liczba przedziałów
przyjęto c=7
Lp. | Przedział (mm) |
Liczność ni |
środek przedziału xi |
Częstotliwość względna m(n) | xi n | (xi-xśr)2 ni |
1 | 13,92 | 2 | 13,92 | 0,069 | 27,84 | 0,00171819 |
2 | 13,93 | 4 | 13,93 | 0,138 | 55,72 | 0,00149156 |
3 | 13,94 | 5 | 13,94 | 0,172 | 69,7 | 0,00043341 |
4 | 13,95 | 4 | 13,95 | 0,138 | 55,8 | 0,00001903 |
5 | 13,96 | 12 | 13,96 | 0,414 | 167,52 | 0,00137123 |
6 | 13,97 | 1 | 13,97 | 0,034 | 13,97 | 0,00042806 |
7 | 13,98 | 1 | 13,98 | 0,034 | 13,98 | 0,00094186 |
Σ | 29 | 404,53 | 0,00640334 |
wartość średnia:
xśr=(Σ xi ni /n) =(404,53):29 = 13,94931034 ≈ 13,95 [mm]
wariancja:
s2= (Σ(xi-xśr)2ni)/n = 0,0002208048276≈ 0,00023
odchylenie standardowe:
s= 0,01485950294 ≈ 0,015
wartość:
$\frac{\mathbf{S}_{\mathbf{n}}}{\sqrt{\mathbf{n}}}$ = 0,002785430073 ≈ 0,0028
Ostateczny wynik pomiaru (dla poziomu ufności 0,9973):
N= $\overset{\overline{}}{\mathbf{x}}$ ± 3· $\frac{\mathbf{S}_{\mathbf{n}}}{\sqrt{\mathbf{n}}}$ = 13,95 ± 0,01 [mm]
OBLICZENIA DLA 200 WAŁKÓW MAŁYCH MIERZONYCH SUWMIARKĄ:
Pomiary [mm]:
Pomiar: | Liczba pomiarów z tą odchyłką: |
---|---|
7,90 | 4 |
7,91 | 44 |
7,92 | 82 |
7,93 | 58 |
7,94 | 11 |
7,95 | 1 |
Rozstęp i przedziały klasowe:
R = hmax- hmin=7,95 – 7,90 = 0,05 [mm]
zakładając długość przedziału ∆h=0,01 [mm]
liczba przedziałów
przyjęto c=6
Lp. | Przedział | Liczność ηi |
Środek przedziału | Częstość względna | xi n | (xi-xśr)2 ni |
1 | 7,90 | 4 | 7,9 | 0,02 | 31,6 | 0,00185761 |
2 | 7,91 | 44 | 7,91 | 0,22 | 348,04 | 0,00586971 |
3 | 7,92 | 82 | 7,92 | 0,41 | 649,44 | 0,000197005 |
4 | 7,93 | 58 | 7,93 | 0,29 | 459,94 | 0,004141345 |
5 | 7,94 | 11 | 7,94 | 0,055 | 87,34 | 0,0037444275 |
6 | 7,95 | 1 | 7,95 | 0,005 | 7,95 | 0,0008094025 |
Σ | 200 | 1584,31 | 0,0166195 |
wartość średnia:
xśr=(Σ xi ni /n) =(1584,31):200 = 7,92155 ≈ 7,92 [mm]
wariancja:
s2= (Σ(xi-xśr)2ni)/n = 0,0000830975
odchylenie standardowe:
s= 0,009115783016 ≈ 0,00912
wartość:
$\frac{\mathbf{S}_{\mathbf{n}}}{\sqrt{\mathbf{n}}}$ = 0,0006448813844 ≈ 0,00065
Ostateczny wynik pomiaru (dla poziomu ufności 0,9973):
N= $\overset{\overline{}}{\mathbf{x}}$ ± 3· $\frac{\mathbf{S}_{\mathbf{n}}}{\sqrt{\mathbf{n}}}$ = 7,92 ± 0,002 [mm]
OBLICZENIA DLA 29 WAŁKÓW DUŻYCH MIERZONYCH MIKROMETREM:
Rozstęp i przedziały klasowe:
R = hmax- hmin=15,01 – 14,97 = 0,04 [mm]
zakładając długość przedziału ∆h=0,01 [mm]
liczba przedziałów
przyjęto c=5
Lp. | Przedział | Liczność ηi |
Środek przedziału | Częstość względna | xi n | (xi-xśr)2 ni |
1 | 14,97 | 3 | 14,97 | 0,1 | 44,91 | 0,0016895 |
2 | 14,98 | 3 | 14,98 | 0,1 | 44,94 | 0,0005656 |
3 | 14,99 | 9 | 14,99 | 0,31 | 134,91 | 0,0002253 |
4 | 15,00 | 8 | 15,00 | 0,28 | 120 | 0,0003144 |
5 | 15,01 | 6 | 15,91 | 0,21 | 90,6 | 0,0015881 |
Σ | 29 | 435,36 | 0,0043829 |
wartość średnia:
xśr=(Σ xi ni /n) =(434,82):29 = 14,993731 ≈ 14,99 [mm]
wariancja:
s2= (Σ(xi-xśr)2ni)/n = 0,0001511345
odchylenie standardowe:
s ≈ 0,0123
wartość:
$\frac{\mathbf{S}_{\mathbf{n}}}{\sqrt{\mathbf{n}}}$ = 0,0022828786 ≈ 0,0023
Ostateczny wynik pomiaru (dla poziomu ufności 0,9973):
N= $\overset{\overline{}}{\mathbf{x}}$ ± 3· $\frac{\mathbf{S}_{\mathbf{n}}}{\sqrt{\mathbf{n}}}$ = 14,99 ± 0,007 [mm]
WNIOSKI:
Pomiar tych samych wałków (29 wałków dużych) dwiema metodami dał różne wyniki, mimo że oba urządzenia miały tę samą klasę dokładności (0,01 mm). W takim przypadku jedno z urządzeń musi być wadliwe. Sądzę iż jest to suwmiarka cyfrowa, a powodem złych wyników jest jej nieprawidłowe użycie (podczas pomiaru zbyt mocno dociskałyśmy urządzenie). Suwmiarka cyfrowa jest bardzo czuła na siłę docisku i zniekształciła przez to wyniki naszych pomiarów. Z tego powodu bardziej rozsądne jest moim zdaniem użycie do tego typu pomiarów mikrometru.
Ponadto w przypadku pomiaru 200 wałków małych nie była potrzebna tak duża liczba pomiarów.