Sprawozdanie 3 Metody Pomiaru Rezystancji i Impedancji

INSTYTUT SYSTEMÓW ELEKTRONICZNYCH

WYDZIAŁ ELEKTRONIKI WAT

Zakład Systemów Informacyjno-Pomiarowych

Sprawozdanie z Laboratorium Miernictwa Elektronicznego II

Ćwiczenie 3

Temat: METODY POMIARU REZYSTANCJI I IMPEDANCJI
Grupa: E2Y2S1

Zespól w składzie:

1. Axel Gocan

2. Paweł Olejniczak

Wykaz przyrządów znajdujących się na stanowiskach

Lp. Nazwa przyrządu Typ Producent
1 Generator 33120A HP
2 Mostek RLC ELC-3133A ESCORT
3 Mostek RLC LRC-821 GW INSTEK
4 Multimetr Cyfrowy DM3051 RIGOL
5 Opornik Dekadowy DR6-16 INCOPYSKOWICE

1. Zastosowanie Multimetru Cyfrowego

1.1 Pomiar Rezystancji i Pojemności

1.1.1. Układ Pomiarowy

1.1.2. Pomiar

A) Zmierzyć wartości wybranych wartości rezystora dekadowego

RN 10 100 1.000 10.000 100.000
ΔRN 0,5 5 50 500 5000
Zakres 400 400 4.000 40.000 400.000
RMM 10,04 100,054 1.000,17 10.001,9 100.015
ΔRMM 0,16 2,551 15,31 153,1 3036

B) Zmierzyć parametry dwójników biernych (zestaw nr. 1)

RL R1 R2
Zakres 400 40.000 400
RMM 0,745 15.033,5 88,929
ΔRMM 0,016 228,5 1,384
C1 C2
Zakres nF 4 4
CMM nF 0,3934 1,082
ΔCMM nF 0,8852 4,869

1.1.3. Wnioski

Przy pomiarze rezystancji i pojemności możemy zauważyć dość duży błąd bezwzględny, który jest związany z dodatkowym używaniem do odczytu i pomiaru multimetru cyfrowego DM-3052. Najbardziej obarczone błędem charakterystyki są małego rzędu wielkości Ω, na które mają wpływ nawet małe błędy samego pomiaru. Przy dużych wartościach Ω błędy pomiaru będące małego rzędu nie mają znaczącego wpływu. Lecz ogólny błąd odczytu dalej jest dużego stopnia.

2. Zastosowanie Cyfrowego Mostka Typ ELC-3133A

2.2. Pomiar parametrów wybranych elementów biernych

2.2.1. Układ Pomiarowy

2.2.2. Pomiar

A)Zmierzyć parametry wybranych wartości rezystora dekadowego przy częstotliwościach podanych w tabeli.

R [Ω] f kHz 0,1 1 10
10 R1 10,305 10,254 10,138
ΔR1 0,033 0,033 0,066
100 R2 100,33 100,25 100,21
ΔR2 0,32 0,32 0,65
1.000 R3 1.000,3 999,7 1.000,3
ΔR3 3,2 3,2 6,5
10.000 R4 10.001 9.993 10.009
ΔR4 30 30 60
100.000 R5 100.060 99.999 99.770
ΔR5 300 300 599

B) Zmierzyć parametry dwójników biernych (zestaw nr. 1) przy częstotliwościach podanych w tabeli.

a) Pomiar rezystancji
f kHz 0,1 1 10
R1 15,038 15,029 15,040
ΔR1 45 45 90
R2 88,7 88,7 88,7
ΔR2 0,3 0,3 0,6
b) Pomiar parametrów cewki indukcyjnej
f kHz 0,1 1 10
L mH 0,6 0,05 0,018
ΔL mH 0,002 0,002 0,0001
Q - 0,03 0,294 2,51
ΔQ - 0,19 0,032 0,1
c) Pomiar parametrów kondensatorów
f kHz 0,1 1 10
C1 F 1,015n 1.009,2p 1.016,2p
ΔC1 F 0,007n 4,1p 10,2p
D1 - 0,002 1,5 0,018
ΔD1 - 0,005 0,011 0,006
C2 pF 0,332 332,7 330,9
ΔC2 pF 0,005 1,4 3,3
D2 - 0,001 0,008 0,019
ΔD2 - 0,005 0,005 0,006

2.2.3. Wnioski

Podczas pomiaru charakterystyk rezystora dekadowego dla tych samych wartości co w ćwiczeniu wcześniej możemy zauważyć stałość wynikających dla małych jak i dużych wielkości wartości Ω. Przy małych wartościach błąd pozostaje prawie niezmieniony tego samego rzędu, lecz dla pomiaru większych wartości znacznie się zmniejsza. Wywołane to jest najprawdopodobniej większą czułością urządzenia oraz rozdzieleniem napięcia podawanego na dwójnik na dwa parametry (Force – natężenie, Sense – czułość) podawane przez urządzenie. Dużą rolę gra także w tym przypadku częstotliwość, która będąc mniejszą owy błąd zmniejsza. Może być to wywołane częstością próbkowania przez urządzenie.

Przy pomiarach impedancji i pojemności urządzenie wykazuje bardzo mały rząd błędu natomiast przy pomiarze dobroci błąd dla małych wartości impedancji czy pojemności dla małych częstotliwości jest za duży przez co nie możemy określić dobroci.

. Zastosowanie Cyfrowego Miernika Impedancji Typ LCR-821

3.2. Pomiar parametrów wybranych elementów biernych

3.2.1. Układ pomiarowy

3.2.2 Pomiary:

A) Zmierzyć parametry wybranych wartości rezystora dekadowego przy częstotliwościach podanych w tabeli.

RN f kHz 0,1 1 10
10 R1 10,456 10,284 10,251
ΔR1 0,008 0,007 0,007
Q - 0,0001 0,0012 0,0111
ΔQ - 0,0002 0,0002 0,0002
100 R2 100,47 100,26 100,29
ΔR2 0,07 0,07 0,07
Q - 0 0 0
ΔQ - 0,0002 0,0002 0,0002
1.000 R3 1.000,5 1.000,5 999,35
ΔR3 0,5 0,5 0,5
Q - -0,0003 -0,0027 -0,0267
ΔQ - 0,0002 0,0002 0,0002
10.000 R4 9.998,4 9.998,2 9.964,4
ΔR4 5,2 5,2 5,2
Q - -0,0006 -0,0058 -0,0585
ΔQ - 0,0002 0,0002 0,0002
100.000 R5 99.777 99.302 68.520
ΔR5 52 52 36
Q - -0,068 -0,0677 -0,6747
ΔQ - 0,0002 0,0002 0,0006

B) Zmierzyć parametry dwójnika (zestaw nr. 1) przy częstotliwościach podanych w tabeli.

Opornik 1 Opornik 2
f R ΔR
kHz kΩ kΩ
0,1 15,032 0,01
0,2 15,033 0,01
0,5 15,032 0,01
1 15,033 0,01
2 15,033 0,01
5 15,034 0,01
10 15,034 0,01
20 15,034 0,01
50 15,036 0,017
100 15,036 0,017
200 15,018 0,017
Cewka Indukcyjna
f
kHz
0,1
0,2
0,5
1
2
5
10
20
50
100
200
Kondensator 1
f
kHz
0,1
0,2
0,5
1
2
5
10
20
50
100
200
Kondensator 2
f
kHz
0,1
0,2
0,5
1
2
5
10
20
50
100
200

3.2.3 Wnioski

W trakcie pomiarów dwóch oporników wraz ze wzrostem częstotliwości można zaobserwować w jednym spadek a w drugim coraz większy wzrost dobroci. Opornik 2 przy dużych częstotliwościach charakteryzuje się bardzo dużą dobrocią, dzięki czemu możemy stwierdzić, iż mamy odczynienia z opornikiem drutowym.

Cewka indukcyjna cechuje się wzrostem dobroci wraz ze wzrostem częstotliwości. Znaczny wzrost zauważamy przy częstotliwości od 50Hz, a przy 100Hz można zaobserwować zjawisko rezonansu własnego.

W kondensatorach wraz ze wzrostem częstotliwości występuje coraz większa strata. Z pomiarów wynika, iż kondensatory o dużych pojemnościach mają większej rezystancję wewnętrznej.

4. Pomiar Składowych impedancji Nieznanego Dwójnika „ZX

4.1 Pomiar składowych impedancji nieznanego dwójnika „ZX” za pomocą cyfrowego miernika impedancji.

4.1.1. Układ Pomiarowy

Układ pomiarowy jak w punkcie 3.2.1.

4.1.2. Pomiar

Zx1 Zx2
f kHz 50 66,667
|Zx| kΩ 1,4802 1,4631
φ (..°) -9,91 -13,07
cosφ - -0,8846 0,8758
Rx -1,3093 1,2814
Xx­ 0,6904 0,7061

4.1.3 Wnioski

Po pomiarze widać, iż reaktancja nieznanego dwójnika wraz ze wzrostem częstotliwości maleje. Znacząco związane jest to z impedancja dla danej częstotliwości w ścisłej zależności od kąta odchylenia fazowego, które składają sie na dana wartość rezystancji.

4.2 Pomiar składowych impedancji metodą trzech woltomierzy

4.2.1 Układ Pomiarowy

4.2.2. Pomiar

Rw = 962 Zx1 Zx2
f kHz 50
U1 V 2,0787
U2 V 0,8217
U3 V 1,2487
cosφ - 1,0168
|Zx| 1461,9075
Rx 1486,4405
X­x -

4.2.3. Wnioski

Posiadając trzy napięcia zmierzone przez woltomierze mierzące trzy wartości dwójnika, można łatwo obliczyć cosinus konta odchylenia fazowego. W przypadku podsiania rezystor wzorcowego dla danego układu obliczamy przy pomocy stosunku napięć zmierzonych na rezystorze i dwójniku moduł impedancji. W naszym przypadku pierwszy dwójnik nie posiadał reaktancji ponieważ impedancja i rezystancja SA za duże dla i zbyt podobne wielkościowo aby ja wytworzyć. Zaś w drugim oporniku obserwujemy zmniejszanie się reaktancji wrz ze wzrostem częstotliwości. Wywołane to jest coraz mniejszym kontem przesunięcia fazowego.


Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
Ćwiczenie 3 (Wstęp) Metody Pomiaru Rezystancji i Impedancji
Labolatoria Metody Pomiaru Rezystancji i Impedancji
Opis metody pomiaru rezystancja skrośna i pow
METODY POMIARU REZYSTANCJI1, OPOLE 13-10-1994r.
Sprawozdanie Metody pomiaru
Wybrane metody pomiaru składowych impedancji, Wybrane metody pomiaru składowych impedancji
Sprawozdania przerobione, pomiary rezystancji omomierzami i metoda techniczna, Arkadiusz Szerszeń
Sprawozdania przerobione, pomiary rezystancji mostkiem wheatstone a, Arkadiusz Szerszeń
Sprawozdanie Metody Pomiaru Mocy
Metody pomiaru rezystancji
Metody pomiaru rezystancji , Laboratorium z
Opis metody pomiaru rezystancja skrośna i pow
1 Sprawozdanie$ 10 2014 Oscyloskopowe metody pomiaru częstotliwości i przesunięcia?zowego
2 Sprawozdanie" 10 2014 Pomiar rezystancji, indukcyjności i pojemności
gołembiewski,miernictwo L,Pomiar rezystancji sprawozdanie
Sprawo sem2 cwic.2 pomiary rezystancji, Studia!, Metrologia, pomiary, elektrotechnika
cw1-obwody pradu stalego pomiar rezystancji, Elektrotechnika, Sprawozdania elektrotechnika, Sprawozd

więcej podobnych podstron