Badanie właściwości tranzystorów 1, Badanie właściwości tranzystorów


1. CELE ĆWICZENIA

Celem ćwiczenia jest:

-zapoznanie się z mechanizmem przepływu prądu w półprzewodnikach,

-poznanie właściwości złącza p-n i zasad działania tranzystora,

-pomiar charakterystyk tranzystora i wyznaczenie kilku jego podstawowych parametrów.

UWAGA: W sprawozdaniu używa się następujących oznaczeń:

B-baza, E-emiter C-kolektor,

UXX - napięcia na złączu (np. UBE)

IX- prąd (np.IC)

2. Wstęp teoretyczny

Ciała stałe ze względu na ich właściwości elektryczne można podzielić na trzy grupy: przewodniki, półprzewodniki i dielektryki (izolatory). Do półprzewodników należą ciała, których konduktywność jest mniejsza od konduktywności dobrych przewodników, ale znacznie większa od konduktywności dielektryków. Konduktywność półprzewodników mieści się w bardzo szerokich granicach od 10-8 do 105 Ω-1 m-1.

Tranzystor jest przyrządem półprzewodnikowym, umożliwiającym wzmacnianie mocy sygnałów elektrycznych. Tranzystor stanowi kryształ półprzewodnika (np. krzem, german) , w którym można wyróżnić dwa obszary o tym samym typie przewodnictwa, zwane emiterem i kolektorem, oraz oddzielającą te obszary warstwę o odmiennym typie przewodnictwa, zwan --> [Author:ZF] ą bazą. Na granicy tych obszarów istnieją dwa złącza p-n. Poszczególne obszary wytwarza się przez wprowadzenie (dyfuzyjne, stopowe) do półprzewodnika domieszek przeciwnego typu niż te, które już się w nim znajdują.

Istotną rolę w działaniu tranzystora odgrywają złącza p-n, powstające na granicy półprzewodników dwóch różnych typów. Złącza p-n mają własności prostownicze dzięki barierze energetycznej powstającej w warstwie zaporowej między obszarami p i n półprzewodnika. Jeżeli zewnętrznym napięciem UCB spolaryzujemy złącze baza-kolektor tranzystora p-n-p w ten sposób, że do kolektora przyłożymy potencjał niższy niż do bazy, to przyłożone zewnętrzne napięcie jest zgodne z biegunowością bariery potencjału i ją powiększa. Odpowiada to zaporowej polaryzacji złącza; w obwodzie kolektor-baza płynie mały prąd nośników mniejszościowych: dziur z bazy do kolektora i elektronów z kolektora do bazy. Prąd ten już dla niedużych napięć zaporowych osiąga stan nasycenia. Jeżeli natomiast złącze emiter-baza spolaryzujemy napięciem UEB w kierunku przepustowym (emiter na potencjale wyższym od potencjału bazy), to przez złącze popłynie prąd IE nośników większościowych z poszczególnych obszarów: elektronów z bazy do emitera i dziur z emitera do bazy. Zakładając liniowość charakterystyki można przyjąć, że przy stałym napięciu kolektor-baza (UCB=const)

prąd kolektora jest proporcjonalny do prądu emitera:

ICIE

Współczynnik α określa jaka część prądu emitera dopływa do kolektora. W dobrych tranzystorach jest on bliski jedności (od 0,95 do 0,99). Zgodnie z prawem rozpływu prądów mamy IE=IC+IB. Ponieważ prąd IC≅IE, więc IB jest stosunkowo mały.

Tranzystor może pracować w trzech układach, w zależności od tego, która z trzech elektrod tranzystora jest na wspólnym potencjale wejścia i wyjścia układu: ze wspólną bazą OB, ze wspólnym emiterem OE, ze wspólnym kolektorem OC.

0x08 graphic
E C B C B E

l2

l1

U1 U2

B E C

OB OE OC

Charakterystyki tranzystora w szerokim zakresie przebiegają liniowo, wobec tego składowe zmienne napięcia i prądu występujące na zaciskach wejściowych i wyjściowych są ze sobą powiązane pewnymi zależnościami liniowymi. Ogólnie, można ułożyć sześć par takich równań w zależności od tego jakie napięcia i prądy przyjmuje się za zmienne niezależne. Duże znaczenie praktyczne ma para równań, tzw. mieszanych:

U1=h11I1+h12U2

I2=h21I1+h22U2, w których U1, U2, I1, I2 oznaczają składowe zmienne napięć i prądów.

Dla układu OE:

U1=UBE, U2=UCE, I1=IB, I2=IC, hij=hije przy czym i, j=1, 2.

3. UKŁAD POMIAROWY I WYNIKI POMIARÓW

Układ pomiaru charakterystyk tranzystora w układzie OE składa się z dwóch zasilaczy

jako źródeł regulowanych napięć UCE i UBE , dwóch woltomierzy elektronicznych do pomiaru tych napięć, mikroamperomierza do pomiaru prądu bazy IB oraz miliamperomierza do pomiaru prądu kolektora IC.

0x08 graphic
C

B mA

uA

dla p-n-p - dla p-n-p -

dla n-p-n + VL VL dla n-p-n +

E

UBE UCE

Wykonaliśmy pomiary następujących charakterystyk:

IC = f(UCE) - dwie wartości IB=30μA i IB=100μA,

IC =f(IB) - dwie wartości UCE=2V i UCE=5V,

IB =f(UBE) - dwie wartości UCE=2V i UCE=5V

Tabela pomiarów dla wartości IB=30μA:

UCE[mV]

IC[mA]

P[mW]

0,023

0,130

0,003

0,030

0,196

0,006

0,049

0,482

0,024

0,198

5,46

1,081

0,403

7,68

3,095

0,695

7,98

5,546

1,582

8,19

12,957

2,99

8,54

25,535

4,00

8,60

34,400

4,51

8,86

39,959

Tabela pomiarów dla wartości IB=100μA:

UCE[mV]

IC[mA]

P[mW]

0,11

4,07

0,448

0,20

9,91

1,982

0,30

16,32

4,896

0,50

20,5

10,250

0,99

25,6

25,344

1,54

27,1

41,734

1,99

28,3

56,317

2,20

28,8

63,360

2,49

29,3

72,957

3,01

30,4

91,504

Tabela pomiarów dla wartości UCE=2V:

IB[μA]

IC[mA]

1,28

0,35

4,16

1,16

6,44

1,60

7,47

2,09

10,32

2,89

11,06

3,11

12,16

3,41

13,08

3,66

14,03

3,91

16,37

4,56

Tabela pomiarów dla wartości UCE=5V:

IB[μA]

IC[mA]

1,00

0,27

2,11

0,32

3,22

0,81

4,26

0,92

5,28

1,01

6,26

1,13

8,41

1,80

10,98

2,41

13,18

4,35

15,16

5,08

Tabela pomiarów dla wartości UCE=2V:

UBE[mV]

IB[μA]

66,5

1,28

70,7

4,16

72,1

6,44

72,4

7,47

73,4

10,32

73,3

11,06

73,6

12,16

73,8

13,08

73,9

14,03

74,4

16,37

Tabela pomiarów dla wartości UCE=5V:

UBE[mV]

IB[μA]

86,5

1,00

90,7

2,11

92,1

3,22

92,3

4,26

93,5

5,28

93,7

6,26

94,2

9,41

94,5

11,98

94,8

14,18

95,1

17,16

Wykresy charakterystyki tranzystora przedstawiono na dołączonej kartce.

Pomiary wykonano miernikami cyfrowymi o błędzie systematycznym mniejszym od najmniejszej działki. Błąd bezwzględny:

- dla pomiaru UBE wynosi 1 mV,

- dla pomiaru prądu IB wynosi 0,1 μA,

- dla pomiaru prądu IC wynosi 0-2 mA - μA; 2-20 mA - 10 μA; 20 - 200 mA - 100 μA,

- dla pomiaru napięcia UCE wynosi 0-2 V - 1 mV; 2-5 V 10 mV,

Dla punktów pracy, leżących na odcinkach charakterystyk zbliżonych do liniowych, obliczyliśmy następujące parametry tranzystora:

h11e-rezystancja wejściowa przy UCE = const,

rwe =470,19Ω

h21e-wzmocnienie tranzystora przy UCE = const,

α - sprawność tranzystora,

h22e-konduktancja wyjściowa IB = const,

rwy =7,38•102

Wyznaczanie błędów dla obliczonych parametrów tranzystora:

Obliczenie błędów metoda różniczki logarytmicznej:

Błąd względny obliczenia Rwe wynosi:

Błąd bezwzględny wynosi:

Błąd względny wyznaczenia wartości β wynosi:

Błąd bezwzględny:

Błąd względny wyznaczenia wartości Rwy wynosi:

Błąd bezwzględny wynosi:

Błąd względny wyznaczenia α wynosi:

Błąd bezwzględny:

Tabela otrzymanych wyników:

Parametr

Błąd względny

Błąd bezwzględny

Rwe=470,19 Ω

δRwe=0,406 %

bbRwe=0,845 Ω

β=294,38

δβ=0,182 %

bbβ=0,493

α=0,996

δα=0,182 %

bbα=0,002

Rwy=7,38•102 Ω

δRwy=0,538 %

bbRwy=18,01 Ω

Wyznaczone wartości są obarczone pewnym błędem ponieważ przy obliczaniu błędów z różnicy powinno się brać błąd bezwzględny odniesiony do dwóch rożnych wartości, a nie do jednej wartości oraz przemnożeniu przez 2, lecz ponieważ obie wartości bliskie są sobie wiec dla uproszczenia obliczeń przyjąłem to założenie upraszczające.

4. ANALIZA BŁĘDÓW I WNIOSKI

Podczas przeprowadzania pomiarów wynikły pewne błędy powstałe w wyniku braku możliwości utrzymania odpowiedniego napięcia prądu.Wyniki przedstawione w tabeli są obarczone błędami na które pewien wpływ miała jakość połączeń układu, a także przyrządy pomiarowe. Oczywiście dla przyrządów cyfrowych wielkości tych błędów możemy pominąć. Jednakże suma tych błędów w istotny sposób wpłynęła na wyniki i na dokładność charakterystyki badanego tranzystora. W czasach współczesnych tranzystor znalazł szerokie zastosowanie w technice dzięki właściwościom wzmacniania prądu. Zastąpił on wcześniej stosowaną lampę.



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
Laborki z elektroniki, ED 4 - Badanie właściwości impulsowych tranzystora, Politechnika Lubelska
Badanie właściwości impulsowych tranzystora11, Politechnika Lubelska_
Ćw. 2 - Badanie właściwości impulsowych tranzystora, Politechnika Lubelska
Badanie właściwości impulsowych tranzystora v2, SPRAWOZDANIA czyjeś
Badanie właściwości impulsowych Tranzystora, SPRAWOZDANIA czyjeś
Badanie właściwości impulsowych tranzystora 2, Politechnika Lubelska
Badanie właściwości impulsowych tranzystora v4, POLITECHNIKA LUBELSKA w LUBLINIE
Badanie właściwości impulsowych tranzystora 1, Politechnika Lubelska
Ćw. 2 - Badanie właściwości impulsowych tranzystora, POLITECHNIKA LUBELSKA
Ćw. 2 -Badanie właściwości impulsowych tranzystora, Politechnika Lubelska
Badanie właściwości impulsowych tranzystora v3, SPRAWOZDANIA czyjeś
Cw 07 E 01 Badanie właściwości elektrycznych kondensatora pł
Badanie tranzystorów unipolarnych typu JFET i MOSFET
BADANIE STATYCZNYCH I DYNAMICZNYCH WŁAŚCIWOŚCI REGULATORÓW PID
Cw 02 M 04A Badanie wlasciwos Nieznany
Badanie właściwości minerałów i skał
Badanie właściwości aplikacyjnych i eksploatacyjnych powłok polimerowych - sprawozdanie, metody bada

więcej podobnych podstron