Cw4LO, Politechnika Warszawska Wydział Transportu, Semestr VI, Technoka Pomiarowa Laboratoria, różności


POLITECHNIKA WARSZAWSKA

Laboratorium z przedmiotu:

PODSTAWY TECHNIKI POMIAROWEJ

Ćwiczenie nr 4.

Temat :

Wyznaczanie charakterystyk zmiennych losowych na podstawie danych eksperymentalnych .

Grupa LTS-2

sem VI

Zespół nr 3 :

1. KRUK TOMASZ

2. CHMIELEWSKI GRZEGORZ

3. BORKOWSKI MICHAŁ

4. ŁUKASZ DĘBSKI

CEL ĆWICZENIA

Zapoznanie się z podstawowymi metodami statystycznej oceny wyników pomiarów otrzymanych na stanowisku kontroli produkcji.

  1. OPIS TEORETYCZNY

Uzyskany w wyniku pomiarów ciąg n - elementowy wartości pewnej wielkości x, utożsamiamy ze zmienną losową. Wartości (x1, x2, ..., xn) zmiennej losowej x nazywamy próbą n - elementową. Zadaniem opracowującego wyniki pomiarów eksperymentalnych jest znalezienie ocen (wartości przybliżonych) dla charakterystyk liczbowych danej zmiennej losowej.

Charakterystykami tymi są :

Oceny tych charakterystyk, uzyskane na podstawie wyników badań

Eksperymentalnych, oznaczamy tymi samymi literami, co szukane charakterystyki, lecz z „wężykiem” u góry 0x01 graphic
, 0x01 graphic
, itp. Przy nieograniczonym wzroście liczebności próby n ocena powinna być zbieżna wg prawdopodobieństwa do ocenianego parametru.

Ocenę nazywamy nieobciążoną, jeśli przy dowolnej liczebności próby jej wartość oczekiwana pokrywa się z szukanym parametrem.

Średnia arytmetyczna z wyników n doświadczeń :

0x01 graphic

gdzie :

c - dowolna liczba (pozorne zero) jest oceną nieobciążonej wartości oczekiwanej.

Oceną nieobciążoną odchylenia standardowego jest :

0x01 graphic
,

gdzie :

0x01 graphic
- współczynnik będący funkcją n.

Mając liczną próbę, elementy próby łączymy, grupujemy w klasach, tworząc tzw. uporządkowany szereg rozdzielczy (x0, x1)(x1, x2), ...,(xk-1,xk). Oceny wartości oczekiwanej, wariancji i momentów wyższych rzędów dokonuje się wtedy w sposób przybliżony, korzystając ze wzorów :

0x01 graphic
,

0x01 graphic

gdzie :

0x01 graphic
- wartość średnia w j-tej klasie,

0x01 graphic
- częstość (prawdopodobieństwo) zdarzenia w j-tej klasie.

Korzystając z danych uzyskanych przy tworzeniu uporządkowanego szeregu rozdzielczego, wykonujemy histogram, czyli zależność 0x01 graphic
, oraz dystrybuantę empiryczną 0x01 graphic
.

  1. OPIS STANOWISKA POMIAROWEGO 0x01 graphic

Za pomocą czujnika indukcyjno - analogowego Vistronik A, dla wskazanego przez prowadzącego ćwiczenie, zbioru detali dokonaliśmy pomiaru odchyłek wymiaru podlegającego kontroli.

0x01 graphic

Wyniki pomiarów odchyłki przedstawia poniższa tabela:

Lp.

odchyłka

wymiar detalu

[mm]

Lp.

Odchyłka

[μm]

wymiar detalu

[mm]

[μm]

1

+60

15,060

31

-60

14,940

2

+40

15,040

32

-80

14,920

3

+20

15,020

33

-60

14,940

4

0

15,000

34

+40

15,040

5

-140

14,860

35

-100

14,900

6

+20

15,020

36

0

15,000

7

+40

15,040

37

+20

15,020

8

0

15,000

38

-200

14,800

9

-200

14,800

39

-120

14,880

10

+20

15,020

40

+60

15,060

11

+40

15,040

41

+160

15,160

12

+60

15,060

42

+120

15,120

13

-160

14,840

43

-200

14,800

14

-200

14,800

44

+20

15,020

15

+20

15,020

45

-20

14,980

16

-60

14,940

46

-140

14,860

17

0

15,000

47

-100

14,900

18

+400

15,400

48

-120

14,880

19

+40

15,040

49

+320

15,320

20

-40

14,960

50

+120

15,120

21

+120

15,120

51

-220

14,780

22

+20

15,020

52

+200

15,200

23

0

15,000

53

-20

14,980

24

-40

14,960

54

+60

15,060

25

-100

14,900

55

+160

15,160

26

0

15,000

27

+140

15,140

28

-180

14,820

29

+180

15,180

30

+80

15,080

Wartość nominalna wymiaru 15 mm.

Ustaliliśmy wartości minimalną i maksymalną pomiarów, które wynoszą:

  1. PRZYKŁADOWE WYLICZENIA 0x01 graphic

Tworzenie uporządkowanego szeregu rozdzielczego.

Otrzymane wyniki pomiarów pogrupowaliśmy w 8 klas i dokonaliśmy obliczeń częstości klasy, oraz dystrybuanty empirycznej

Nr klasy (grupy)

1

2

3

4

5

6

7

8

9

10

Granica klasy

14,800

14,860

14,920

14,980

15,040

15,100

15,160

15,220

15,280

15340

14,860

14,920

14,980

15,040

15,100

15,160

15,220

15,280

15,340

15,400

Wartość średnia klasy

14,830

14,890

14,950

15,010

15,070

15,130

15,190

15,250

15,310

15,370

Liczba elementów w klasie mj

7

6

8

19

6

5

1

1

1

1

Częstość klasy Pj

0,12

0,10

0,14

0,34

0,10

0,09

0,018

0,018

0,018

0,018

Dystrybuanta Wj

0,12

0,23

0,38

0,72

0,83

0,92

0,94

0,96

0,98

1

Wartości oczekiwaną i wariancję oceniliśmy korzystając ze wzorów :

0x08 graphic
0x08 graphic
Częstość klasy obliczyliśmy ze wzoru:

Dystrybuantę obliczyliśmy ze wzoru:

0x08 graphic

WYKRESY 0x01 graphic

Histogram częstości.

Wykres dystrybuanty.

Dobór rozkładu teoretycznego oraz weryfikacja hipotezy o zgodności.

Dokonaliśmy tego za pomocą programu LSP4, który realizuje następujące zadania :

0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic

0x08 graphic
0x08 graphic

0x08 graphic

WNIOSKI 0x01 graphic

W masowej produkcji jest niemożliwe sprawdzenie każdego detalu w zakresie dokładności jego wykonania, dlatego też sprawdza się dokładnie tylko pewną próbkę n - elementową wybraną w sposób losowy z całej produkcji. Ten sposób postępowania nazywa się statystyczną kontrolą jakości i stąd też wynika potrzeba nabycia umiejętności wyznaczania charakterystyk zmiennych losowych. W celu wyeliminowania błędów grubych posłużyliśmy się testem Romanowskiego, który w zależności od przyjętego poziomu istotności alfa decyduje o ilości danych eksperymentalnych dopuszczonych do dalszej analizy.

W naszym przypadku badany rozkład empiryczny okazał się niezgodny z teoretycznym rozkładem normalnym. Przy teście Romanowskiego dla poziomu istotności α=0,02 rozkład normalny nie został przyjęty.. Wyniki przeprowadzonych przez nas testów zawarte są w dołączonym przez nas wydruku komputerowym.Jak widać istotnym elementem testów jest dobór odpowiedniego poziomu istotności w teście Romanowskiego. Wiąże się on z liczbą danych przeznaczonych do dalszego testowania.

9

0x01 graphic

0x01 graphic

0x01 graphic

Stanowisko

przygotowane

zgodnie z rys.

Uzyskanie danych

z kontroli

wymiarów

Program

na IBM PC



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
Pomiary dlugosci, Politechnika Warszawska Wydział Transportu, Semestr VI, Technoka Pomiarowa Laborat
Charakterystyki dynamiczne, Politechnika Warszawska Wydział Transportu, Semestr VI, Technoka Pomiaro
Cześć, Politechnika Warszawska Wydział Transportu, Semestr VI, Technoka Pomiarowa Laboratoria, różno
Ocena błędów wyników pomiarów, Politechnika Warszawska Wydział Transportu, Semestr VI, Technoka Pomi
projekt-Kołodyński, Politechnika Warszawska Wydział Transportu, Semestr VI, Technologia Prac Ładunko
projekt-Tomek, Politechnika Warszawska Wydział Transportu, Semestr VI, Technologia Prac Ładunkowych
TECH. PRAC ŁAD. 2.sem VI, Politechnika Warszawska Wydział Transportu, Semestr VI, Technologia Prac Ł
TECH. PRAC ŁAD.sem VI, Politechnika Warszawska Wydział Transportu, Semestr VI, Technologia Prac Ładu
Wózek podnośnikowy, Politechnika Warszawska Wydział Transportu, Semestr VI, Technologia Prac Ładunko
Referat - Tecnologia Transportu i jej Rodzaje, Politechnika Warszawska Wydział Transportu, Semestr V
Telefony- odpowiedzi, Politechnika Warszawska Wydział Transportu, Semestr VI, Systemy Łączności w Tr
Sprawozdanie z Ćwicznia 4, Politechnika Warszawska Wydział Transportu, Semestr VI, Systemy Łączności
Techniologia Przewozów Samochodowych PROJEKT, Politechnika Warszawska Wydział Transportu, Semestr VI
EPS semestr VI, Politechnika Warszawska Wydział Transportu, Semestr VII, Eksploatacja Pojazdów Samoc
Prace +éadunkowe projekt 1, Politechnika Warszawska Wydział Transportu, Semestr V, Technologia praz
Krzysiek nawozy, Politechnika Warszawska Wydział Transportu, Semestr V, Technologia prac transportow
Projekt - Technologia Prac Transportowych, Politechnika Warszawska Wydział Transportu, Semestr V, Te

więcej podobnych podstron