ikiMnU potttbn itrkMwJi nilu* linu lub im pta\kirh »hM*wfc prdbki iwhm w miknwkopH vkmrinso»u<k |v»«ta j.u H Minii |około "0*1 im p»minii-hiiŃ; próbki. l«or»> >v > |ii\ linii kikihliirfii^ klon i dokkiditwM do i«'vt stopnia nmo* linia okirdwir orientacji ■» obsram.
K HM' poleca im oskórowaniu ntnttioosei łt mikroskopu skaningoncgo. " pośmianiu i ni. komputerowsmi technikami obróbki danych. llkeyjne v» kieeonanc * koiwn do komputera* nr |M\nn»«V' dyfrakcję linii ,1
oomw ihiors nynikon