Elektronikawzad71

Elektronikawzad71



W. Cią*yńxki PJ.P.KTttONlKA W ZADANIACH

C-zęśii 2: Analiz*    ntiiłn temperatury na pi*sę układów półprzewodnikowych

UCB2 = Vci “    = 10.05 v - 3 V = 7,05 V

potwierdza, że także tranzystor T2 pracuje w stanie aktywnym.

Ad 2. Przy zmianach temperatury o 10 K napięcie UBE2 zmienia się o kilkadziesiąt mV, czyli tranzystor Tl na pewno pozostanie w stanie aktywnym, a takie założenie dla T2 zweryfikują uzyskane wyniki. W temperaturze 310 K mamy dla każdego z tranzystorów:

UBE = U BE + eBEAT = 600mV-2,5(mV/K)10K = 575 mV 0 =)3 + A0 = 0 + 10%/? = 100 + 10= 110

Podstawiając te nowe wartości parametrów do zależności (2.17.1) - (2.17.5) otrzymujemy kolejno:

V5V-0.575V Rb 1.44 MCI ^

(2.17.r)

lcl = 1E2 = ■/1, =110 10,02 pA = 1,102 mA

(2.17.2’)

/a2 =^-^—=U02 mA——=9,927 pA **&+! 110+1 ^

(2.17.3’)

lc2 =P2I12=[ 10-9,927 pA = 1,092 mA

(2.17.4’)

UWY = Bcc - 1'ci • =15 v -1,092 mA 5 kn = 9,540 V A U1, =Um -Uwt = 9.54 V -10.05 V =-0.51 V

(2.17.5’)

Tak więc obydwa tranzystory pozostają w stanie aktywnym (gdyż, jak łatwo sprawdzić dla obydwu tranzystorów napięcie Urn pozostaje dodatnie), a napięcie wyjściowe zmniejsza się o 0,51 V.


Rozwiązanie 2

Ad 2. Schemat zastępczy układu dla zmian temperatury przedstawia rysunek 2.17.2.

Dla przyrostu prądu bazy tranzystora Tl mamy kolejno:


AU*

Rys. 2.17.4


rysunek 2.17.4). Zauważmy, że to rozwarcie powoduje odcięcie obwodu bazy Tl od pozostałych 2 źródeł wymuszających, a więc jest to jedyna składowa różna od

zera:

(2.17.6)


AU.

Ostatnią zależność (2.17.6) wstawiamy do wyprowadzonego we „Wprowadzeniu” równania W2.7 „słusznego zawsze” (gdy tylko mamy do czynienia z tranzystorem w sianie aktywnym), które w rozpatrywanym przypadku (dla Al cm = 0) przyjmuje postać:

(2.17.7)


Alc=l„ Ap + p A/,

Po podstawieniu wartości liczbowych, otrzymujemy dla tranzystora Tl: A/„ = /„ A/J, + /?, A/„ =/„ A/J-/3    =

(2.17.8)


= 10 pA 10 +1    = 100 pA +1,7 pA = 101,7py\

1,44 Mn

Dla przyrostu prądu bazy tranzystora T2 SEM równe AUbei i AUbe2 nie dają składowych, gdyż działają w obwodzie szeregowym z SPM równą Ala- Natomiast SPM równe Ala i d/a przy zwartych SEM płyną przez bazę T2 w całości, ale w przeciwnych kierunkach (patrz rys. 1.17.3), czyli mamy:

AlB2=AIct-AlC2    (2.17.9)

Po podstawieniu wartości liczbowych dla tranzystora T2 do wyrażenia 2.17.7, otrzymujemy:

A/c, = Aft + ft ' A/„ = /« Ap + Py AICi - P2 A1C2    (2.17.10)

Po prawrej stronie pojawił się ze znakiem minus składnik zależny od Ale2. który przenosimy na lewą stronę i wyciągamy przed nawias:

A/c2(l + /y=/„2-A/} + /?,-A/c,

Dzieląc obie strony równania przez wyrażenie w nawiasie mamy ostatecznie:

Alr


lK2Ap + P2Ala 1 + ft


(2.17.11)


Podstawiając wartości liczbowe otrzymujemy wartość przyrostu prądu kolektora T2: lB2Ap + p2AlCi 9,9pA 10+100 101,7 pA,^

°    \ + P2    1 + 100

Przyrost składowej stałej napięcia wyjściowego wynosi (patrz np. rysunek 2.17.2):

AU„


•— R(:2AICI =-5 kQ 101,7 pA=-0,51 V


(2.17.12)


co pokrywa się dokładnie z wynikiem uzyskanym w rozwiązaniu 1.

1

   składową Alm ' pochodzącą od zmiany ICi (liczoną przy zwarciu SEM równej AUbei, patrz rysunek 2.17.3), która jest równa zeru, gdyż cały prąd Ale płynie w obwodzie o zerowej rezystancji przez zwartą SEM AUBei\

   składową Alm pochodzącą od zmiany Ubbi (zgodnie z regułą obowiązującą przy stosowaniu zasady superpozycji liczoną przy rozwarciu SPM równej Alei - patrz


Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
Elektronikawzad44 W. Ciązyńdci Ft.F.KT ROMKA W ZADANIACH C»f3ć 2: Analiza w-plywj zmian ccmpciaiuiy
Elektronikawzad55 w. Ci^yiiO-i - HLKK.TRONIKA W ZADANIACH Cxęić 2: Analiza wpływu zmian temperatury
drKisiel 2 Zadanie 1 Przeprowadź analizę prognozowania zapotrzebowania na produkt A dla danych zawar
Laboratorium Elektroniki cz I 1 158 158 159 7.7. Literatura 3. Określenie wpływu temperatury na wł
Elektronika W Zad cz 2 0 w Cią?yAski - ELEKTRONIKA W ZADANIACH Część 3 Analiza mnlojygnalowa ukła
Elektronikawzad41 w. Ciążytulu - fcLtKTKONIKA W ZADANIACH Cięit 2: Analiza wpływu anim lemptralui)
Elektronikawzad46 w. Ciązyrwki - ELEKTRONIKA W ZADANIACH Czcić 2: Analiza wpływu zmiin (cmpcraluiy n
Elektronikawzad48 w. Ciitfyńaki - ELEKTRONIKA W ZADANIACH Czę*ć 2- Analiz* wpływu zmian tempemmry nn
Elektronikawzad49 w. Ciotki - ELEKTRONIKA W ZADANIACH Część 2. Analiza wpływu zmian Icmpenrtwy iu jn
Elektronikawzad52 W. Cutfytuki - ELEKTRONIKA W ZADANIACH Częić 2 Analiza wpływu thumi icmpmfluy n*
Elektronikawzad53 W. Ciążyńslu - ELEKTRONIKA W ZADANIACH Czcić 2: Analiza wpływu zmian temperatury n
Elektronikawzad56 W. Ctązyfelci FI.PKTRONIKA W ZADANIACH C«!>C 2: Analiza wpływu zmian trmpcratii
Elektronikawzad59 W. OątyfStki F.I.FKTRON1KA W ZADANIACH Częić 2: Analizo wpływu mian temperatury na
Elektronikawzad60 W CiązyAaki - ELEKTRONIKA W ZADANIACH Część 2- Analiz* v»plv<.vu zmian tctapcrt
Elektronikawzad61 W. CiąłymU ELEKTRONIKA W ZADANIACH C*ę4Ć 2: Analiza wpływu Tmian tCTnpcrłtwy tu pr
Elektronikawzad62 W Ciażyóik: - ELEKTRONIKA W ZADANIACH Część 2: Analiza wpływu amiai trmperamry na
Elektronikawzad64 W. Ciążyński - ELEKTRONIKA W ZADANIACH Ozęić 2: Analizi wpływu rmian tempera rury

więcej podobnych podstron