Elektronikawzad53

Elektronikawzad53



W. Ciążyńslu - ELEKTRONIKA W ZADANIACH

Czcić 2: Analiza wpływu zmian temperatury nn pracę układów półprzewodnikowych

Przeniesienie połowy rezystora R do obwodu emitera nic spowodowało więc poprawy stałości prądu kolektora tranzystora. Inny podział rezystancji R na części, lub przeniesienie całej rezystancji R do obwodu emitera nie zmienia słuszności tego wniosku. W schemacie zastępczym z rysunku 2.5.4 zmienia się wtedy tylko punkt wewnątrz rezystancji R podłączony do masy, co nie zmienia wartości prądów wynikających z tego schematu.

W. Ciążyńslu - ELEKTRONIKA W ZADANIACH

Czcić 2: Analiza wpływu zmian temperatury nn pracę układów półprzewodnikowych


Lu tranzygor, znajdujesic „głębiej' w ■nasyccnhł” tym napicie t'a- tranzystor stanowi lepsze zwarcie. Prawidłowość ta ulega


v    mmśm,,

•    przez zwiększenie prądtt bazy'/g (np.

(nr ab a tf.ch ? a y.,,cm ya; !!. •■,

•    przy stałym prądzie bazy przeż zmniejszenie-------'~

Mniejsze wahuści^.łą^nóy-ch- toSy •'*~ w tak» sposób aby emiter i kolektor tranzystora zamieni^ się rolami •*


Duże głębokości nasycenia;:    P^w!

tranzy stora. Rośnie *tcdy czas uswania z obszaru bazy tranzystora do^gp zgromadzonych nóśmków inhiejszościowych t duźy;cza$ \vychodzenia tranzystor .-.

Zadanie 2.6



Dla tranzystora krzemowego w układzie wzmacniacza ze sprzężeniami zwrotnymi dla prądu stałego pokazanym na rysunku 2.6.1 można przyjąć, że w temperaturze To - 300 K:

-    spadek napięcia Ube nie zależy od wartości prądu bazy Ib i wynosi 0,6 V;

-    prąd zerowy Icbo wynosi 100 nA;

-    współczynnik wzmocnienia prądowego w układzie wspólnego emitera p = 50.

Przy zmianach temperatury otoczenia w zakresie kilkudziesięciu stopni można przyjąć, że:

-    spadek napięcia Ube maleje o 2,5 mV przy wzroście temperatury o 1 K;

-    temperatura podwojenia prądu zerowego Icbo wynosi 7.5 K;

-    współczynnik wzmocnienia prądowego fi przy wzroście temperatury o 1 K rośnie o 1 % swojej wartości w temperaturze To.

Przy powyższych założeniach należy:

1.    określić punkt pracy tranzystora w temperaturze To = 300 K;

2.    określić zmiany prądu kolektora Ic i napięcia kolcktor-emiter Uce odpowiadające zwiększeniu temperatury do wartości Ti = 330 K;

Rozwiązanie

Ad 1. Dla prądu stałego wszystkie pojemności w układzie możemy traktować jak rozwarcie, co powoduje że układ jest równoważny przedstawionemu na rysunku 2.6.2. Jeśli teraz przeniesiemy RE = 50 £2 łącząc go szeregowo z rezystorem R, to otrzymamy układ identyczny jak obliczony w zadaniu 2.5.

Wszystkie wyniki dla temperatury T = 300 K uzyskane w zadaniu 2.5 odnoszą się więc i do tego układu. Tranzystor znajduje się w punkcie pracy określonym przez Ic= 32,4 mA i Uce = 6,69 V.

Ad 2. Schemat zastępczy układu z rysunku 2.6.2 (a zatem i układu z rysunku 2.6.1) dla zmian temperatury przedstawia rysunek 2.5.4 z poprzedniego zadania. Postępując identycznie jak w zadaniu 2.5 otrzymamy:


=


R + R<


o.i kn


= 0.0105


R' + R + Re 9,4+ 0,1 kH P    50    50

1+ P-WF 1 + 50 0,0105    1.526

Ap    A U,


(2.6.1)


= 32,8


(2.6.2)


A/r=5|-A/ow+(/. + /cw) a


P R. + R + Rt


(2.6.3)



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
Elektronikawzad48 w. Ciitfyńaki - ELEKTRONIKA W ZADANIACH Czę*ć 2- Analiz* wpływu zmian tempemmry nn
Elektronikawzad69 w. Ciąłyńiki ELEKTRONIKA W ZADANIACH CiikH 2; Analiza wpływu zmian temperatury na
Elektronikawzad68 W Ci^ński - ELEKTRONIKA W ZADANIACH Część 2: Analiza wpływu zmian temperatury na p
Elektronikawzad72 w. Ciążyńiki - ELEKTRONIKA W ZADANIACH C?<łć 2 Aułli/4 wpływu zmian temperatury
Elektronikawzad75 w. Ciążymki EMKTRONKA W ZADANIACH Część 2: .Analiz* wpływu zmian temperatuiy na pr
Elektronikawzad74 w. CUiyńakj - ELEKTRONIKA W ZADANIACH Część 2: Analizo wpływu minii temperatury na
Elektronikawzad54 w «VyAfki - ELEKTRONIKA W ZADANIACH Czę44 2: Analiza wpływu zmito temperatury na p
Elektronikawzad49 w. Ciotki - ELEKTRONIKA W ZADANIACH Część 2. Analiza wpływu zmian Icmpenrtwy iu jn
Elektronikawzad55 w. Ci^yiiO-i - HLKK.TRONIKA W ZADANIACH Cxęić 2: Analiza wpływu zmian temperatury
Elektronikawzad56 W. Ctązyfelci FI.PKTRONIKA W ZADANIACH C«!>C 2: Analiza wpływu zmian trmpcratii
Elektronikawzad45 w Ciitfyń&ki - ELEKTRONIKA W 7ADANIACH Część 2: Analiza wpływu zmian lonpcrabn
Elektronikawzad51 W. r.i**ymki - ELEKTRONIKA W ZADANIACH Częii 2: Analirn wpływu zmian temperatury n
Elektronikawzad59 W. OątyfStki F.I.FKTRON1KA W ZADANIACH Częić 2: Analizo wpływu mian temperatury na
Elektronikawzad61 W. CiąłymU ELEKTRONIKA W ZADANIACH C*ę4Ć 2: Analiza wpływu Tmian tCTnpcrłtwy tu pr
Elektronikawzad62 W Ciażyóik: - ELEKTRONIKA W ZADANIACH Część 2: Analiza wpływu amiai trmperamry na
Elektronikawzad66 W. Ciążytuki n.l-KTROKlKA W ZADAŃLACH Częić 2: Analiza wpływu zmian temperatury na
Elektronikawzad76 W. Ciąrymkł ELEKTRONIKA W ZADANIACH Ozęić 2 Anilira wpływu zmian temperatury na pr
Elektronikawzad77 w C Iłży teki - fcLKKTRONIKA W ZADANIACH Część 2: Analiza wptywi zmian temperami)
Elektronikawzad43 W. Ciwylukj - ELEKTRONIKA W ZADANIACH Cifie 2. Analiza wpływu oman trmpcramn- im p

więcej podobnych podstron