Elektronikawzad48

Elektronikawzad48



w. Ciitfyńaki - ELEKTRONIKA W ZADANIACH

Czę*ć 2- Analiz* wpływu zmian tempemmry nn pracę układów półprzewodnikowych

Mc(l + P 7T^7T>-</3+DA/„+(/, + lC3C)- P -^Ł-


rą+rc


R„ + Rr


A/c


I i


Af/.


</* + DA/a^H/, + lęto)&P - P —^


£ J


+ /?£

Oznaczając przez Wf. współczynnik podziału rezystancji pomiędzy obwody emitera i bazy:

W,=- R


Rb +Rz

oraz definiując współczynnik niestałości prądu kolektora S jako:

S=—2—

\ + p\V'

otrzymujemy:    AIC = S


aA/c„ł(/, + /CJ0)^


E


(2.2.4)


(2.2.5)


(2.2.6)


W warunkach zadania podstawiając dane tematowe i obliczone powyżej wartości: Ale bo = 1,5 pA; A/J = 15; A(/*£- = - 75 mV; /„ = 0,648 m Aotrzymujemy wartości współczynników:

WŁ = 0.0105: 5 = 32,8

oraz przyrost prądu kolektora:

A/c = 32,8 (—1.5 pA + —648 pA +    = 32,8 (1.53 +194.4 + 7.89) pA = 6.68 tnA
c 50    50    9,5 kii

Wynik ten różni się tylko o kilka % od uzyskanego w rozwiązaniu 1. Ostatnie równanie pozwala na wyraźne stwierdzenie, że wszystkie trzy wpływy się sumują i że dla rozpatrywanego zestawu danych główną przyczyną wzrostu prądu kolektora w wyższych temperaturach jest zmiana wartości fi.

Ad 3. Zmiana wartości rezystancji Rt: wpływa na prąd bazy Ib . a zatem powoduje zmianę punktu pracy określonego przez wartości Ic i Uer.- Dlatego wpływ wartości Rn na stałość temperaturową punktu pracy rozważymy ogólnie, zakładając że przy wybranej wartości Re (współczynnika We) pożądany punkt pracy jest zawsze osiągalny przez odpowiedni dobór wartości napięcia zasilania i rezystancji Re-W poniższej tabelce podano wartości współczynnika niestałości S w zależności od współczynnika We dla tranzystora o wrzmocnieniu prądowym P = 50:

WE

0

0,01

0.1

0.5

0,9

1

Podaną wartość W* osiąga się dla RB = 9,4k Pr/V Rr-

0

94,9D

l,04kD

9,4kD

84,6kH

00

S

iP-lf-ZO.,

33,3

8.33

1,92

1,09

0.98 (=a)

Dla H'e = 0 (czyli /?£ = 0, jak w zadaniu 2.1) współczynnik niestałości S = fi. Wzrostowi wartości Re przy stałym Rb (czyli wzrostowi współczynnika We) odpowiada poprawa stałości punktu pracy, wyrażająca się malejącą wartością współczynnika niestałości S. Maleje wtedy także udział w całkowitym przyroście Ale składowej wywołanej przez zmianę AU be (patrz    trzeci składnik w nawiasie

zależności 2.2.6).

Wartość Wg = 0, a zatem 5 = fi uzyskujemy także dla przypadku, gdy tranzystor jest polaryzowany prądem bazy pochodzącym ze źródła prądowego (o rezystancji wewnętrznej R, = oo), jak w zadaniu 2.3.

7. tabeli wynika, że współczynnik S rzędu 2 uzyskuje się dla Re = Rn. a dalszy spadek wartości S wymaga jeszcze większych rezystancji Re.

Zwróćmy jeszcze uwagę na fakt, żc rezystancja Rc w ogóle nic wpływa na niestałość Mc prądu kolektora. Wpływa ona oczywiście na niestałość AUęr napięcia kolektor-cmiter, gdyż rezystor Rc przetwarza zmiany prądu kolektora na zmiany tego napięcia. Z powyższych rozważań wynika także, dlaczego lepszy pod względem stałości punktu pracy jest układ zasilania bazy z rezystancyjncgo dzielnika napięcia, jak w zadaniu 2.4. Mianowicie w tym układzie uzyskuje się pożądany prąd bazy przy znacznie mniejszej wartości zastępczej rezystancji polaryzacji bazy Rn. a zatem można przy takiej samej wartości Re i Rc uzyskać znacznie lepsze wartości Wg i 5.

t'-‘mprądowe, ^re^yę

Włączenie rezystora Re W obwodzie emitera, tranzystora poprawia < w porównaniu z

ukiadenr WE)? stałość punktu pracy .{ratóystó^i j^ zmiartach;

niestety zmniejsza też wzm<xmienb napięciowe vrż#n3«mtóCźa>Zanwązmy boWi<^'::

wzrost, ptaiu ^rcżyljr<^«»ćteż |M;&;

pla - ^gnału zrnWnńegb jcst tó zatem i abyńtne: Sprzężenie: to^ także

invcłi np, zmianami temperatury otoczenia i właśnie jego wynikiem jes

§§§§

1 [fi

mm

W*Wr

’&*My

|oM<u,J

Chcąc zachować korzystny wpływ sprzężenia zwrotnego ną stałość punktu pncyy& uniknąć zmniejszenia wzmocnienia dla sygnału zmiennego należy równolegle do . rezystora R? tyłączyć kondensator o ódfwviedmp: dpżęji    i

oajmmejsżcj cżęstćuiwóści: sygnału impedancja tówndlćgfegó połąc^ńa ^c ii CK


Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
Elektronikawzad53 W. Ciążyńslu - ELEKTRONIKA W ZADANIACH Czcić 2: Analiza wpływu zmian temperatury n
Elektronikawzad69 w. Ciąłyńiki ELEKTRONIKA W ZADANIACH CiikH 2; Analiza wpływu zmian temperatury na
Elektronikawzad45 w Ciitfyń&ki - ELEKTRONIKA W 7ADANIACH Część 2: Analiza wpływu zmian lonpcrabn
Elektronikawzad49 w. Ciotki - ELEKTRONIKA W ZADANIACH Część 2. Analiza wpływu zmian Icmpenrtwy iu jn
Elektronikawzad56 W. Ctązyfelci FI.PKTRONIKA W ZADANIACH C«!>C 2: Analiza wpływu zmian trmpcratii
Elektronikawzad68 W Ci^ński - ELEKTRONIKA W ZADANIACH Część 2: Analiza wpływu zmian temperatury na p
Elektronikawzad75 w. Ciążymki EMKTRONKA W ZADANIACH Część 2: .Analiz* wpływu zmian temperatuiy na pr
Elektronikawzad61 W. CiąłymU ELEKTRONIKA W ZADANIACH C*ę4Ć 2: Analiza wpływu Tmian tCTnpcrłtwy tu pr
Elektronikawzad62 W Ciażyóik: - ELEKTRONIKA W ZADANIACH Część 2: Analiza wpływu amiai trmperamry na
Elektronikawzad72 w. Ciążyńiki - ELEKTRONIKA W ZADANIACH C?<łć 2 Aułli/4 wpływu zmian temperatury
Elektronikawzad74 w. CUiyńakj - ELEKTRONIKA W ZADANIACH Część 2: Analizo wpływu minii temperatury na
Elektronikawzad54 w «VyAfki - ELEKTRONIKA W ZADANIACH Czę44 2: Analiza wpływu zmito temperatury na p
Elektronikawzad43 W. Ciwylukj - ELEKTRONIKA W ZADANIACH Cifie 2. Analiza wpływu oman trmpcramn- im p
Elektronikawzad55 w. Ci^yiiO-i - HLKK.TRONIKA W ZADANIACH Cxęić 2: Analiza wpływu zmian temperatury
Elektronikawzad51 W. r.i**ymki - ELEKTRONIKA W ZADANIACH Częii 2: Analirn wpływu zmian temperatury n
Elektronikawzad59 W. OątyfStki F.I.FKTRON1KA W ZADANIACH Częić 2: Analizo wpływu mian temperatury na
Elektronikawzad66 W. Ciążytuki n.l-KTROKlKA W ZADAŃLACH Częić 2: Analiza wpływu zmian temperatury na
Elektronikawzad76 W. Ciąrymkł ELEKTRONIKA W ZADANIACH Ozęić 2 Anilira wpływu zmian temperatury na pr
Elektronikawzad77 w C Iłży teki - fcLKKTRONIKA W ZADANIACH Część 2: Analiza wptywi zmian temperami)

więcej podobnych podstron