Elektronikawzad69

Elektronikawzad69



w. Ciąłyńiki ELEKTRONIKA W ZADANIACH

CiikH 2; Analiza wpływu zmian temperatury na pracę układów półprzewodnikowych

uwr = U7AS - !ci ■ RC2 =10 v "W pA • 50 kn = 5.050 V Zauważmy jeszcze tylko w tym miejscu, że w powyższych zależnościach nic występuje wartość spadku napięcia na złączu baza-cmitcr.

Ad 2. Dla temperatury otoczenia zwiększonej o 30 °C do wykorzystanych powyżej zależności należy podstawić obowiązujące wtedy nowe wartości:

-    prądu źródła, dla którego mamy:

AJ = E-AT / =2-10_s— 30K 200pA = l2pA K

/'= / + AJ = 200 uA + 12pA=212pA,a prądy emiterów wynoszą po 106 pA: prądu zerowego tranzystora:

Icbo’ = Icbo + AIcbo = 1 nA + 15 nA = 16 nA

-    wzmocnienia prądowego tranzystora:

=    + 40 = 99 + 30 = 129

I tak mamy kolejno:

— 16 n A = 799 nA


_/__7    212 pA

2(fi +1) cao 2(129+1)

~ P    + ^Vcao “ Jj + Icao


16 nA «105,2 pA


212pA    129

2    129 + 1

Um =Uząs-IC2RC2 = ! 0 V -105.2 pA • 50 kto = 10 V -5,259 V = 4,741 V

6000


co oznacza, że w podwyższonej temperaturze prąd kolektora każdego z tranzystorów rośnie o 6,2 pA, a napięcie wyjściowe zmniejsza się o 309 mV.

Rozwiązanie 2

Rys 2.16.3


Ad 2. Schemat zastępczy rozpatrywanego układu dla przyrostów temperatury przedstawia rysunek 2.16.2. Dla małych przyrostów możemy ten schemat uważać za liniowy i na podstawie zasady superpozycji obliczyć kolejne składowe prądów bazy pochodzące od poszczególnych wymuszeń. 1 tak dla działających obydwu SEM (przy rozwartych SPM jak na schemacie cząstkowym z rysunku 2.16.3, gdzie są one przedstawione , linią przerywaną) mamy:

A,ii = Wni


_ML = .


■AU,

(2.16.2)

Te składowe prądów' baz obydwu tranzystorów są równe zeru wobec tego, że tranzystory znajdują się w jednakowej temperaturze i mają jednakowe współczynniki temperaturowe zmian napięcia Cbe- Potwierdza się w ten sposób wniosek rozwiązania 1 o całkowitym uniezależnieniu prądu bazy (a jak zobaczymy później także i prądu kolektora) w rozpatrywanym układzie wzmacniacza symetrycznego od

temperaturowych zmian napięcia Ube- Nawet jeśli w rzeczywistym układzie kompensacja zmian Ube obydwu tranzystorów nie jest pełna, to taki układ zapewnia zawsze lepszą stałość niż stopień na pojedynczym tranzystorze.



Zwierając jednocześnie obydwie SEM uzyskujemy schematy cząstkowe pokazane na rysunkach 2.16.4 i 2.16.5 pozwalające na obliczenie wpływu SPM równej odpowiednio Ala i Ala na prądy baz (dla każdej z tych SPM rezystory Rsl i Rg2 okazują się połączone równolegle:

A/fll =AIB2



(2.16.3)


Możemy w tym miejscu założyć Ala-Ala. gdyż jak widać na schemacie zastępczym jedyna nicsymclria, tj. fakt że w tematowym układzie przyjęto Ra = 0, a Ra = 50 kCl nie ma znaczenia dla rozpływ prądu. Każdy z rezystorów Rc jest bowiem włączony szeregowo ze swoją SPM (o

nicskońezonej rezystancji wewnętrznej) i jego wartość nie wpływa na prąd w tej gałęzi.

Ostatnią składową pochodzącą od przyrostu prądu AI wyznaczamy ze schematu cząstkowego pokazanego na rysunku 2.16.6 jako:

Al'.. - AI~C1 =    (2.16.4)

Sumaryczne przyrosty prądów bazy obydwu tranzystorów są równe i wynoszą:

(2.16.5)


A/t. + — c 2

Teraz przywołujemy wyrażenie (W2.7) słuszne dla stanu aktywnego tranzystora:

uc = Pm;+(Ib + icbo)aP+{P + \)uc*o

wiążące przyrost prądu kolektora tranzystora z jego przy czynami w postaci &P. AJb i AIcbo- Podstawiając do niego otrzymaną zależność (2.16.5) otrzymujemy wyrażenie:

AJc~(P + l)Al + 1CM)AP + P~-P-Alr    (2.16.6)

Po prawej stronie równania pojawi! się ze znakiem ujemnym składnik zależny od poszukiwanego prądu Ale• Po przeniesieniu na lewą stronę zwiększy on wartość współczynnika, przez który mnożony jest przyrost Ale, aby zrównoważyć sumę trzech składników pochodzących od trzech przyczyn niestałości (AIcbo, Afi i Al).


Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
Elektronikawzad53 W. Ciążyńslu - ELEKTRONIKA W ZADANIACH Czcić 2: Analiza wpływu zmian temperatury n
Elektronikawzad68 W Ci^ński - ELEKTRONIKA W ZADANIACH Część 2: Analiza wpływu zmian temperatury na p
Elektronikawzad75 w. Ciążymki EMKTRONKA W ZADANIACH Część 2: .Analiz* wpływu zmian temperatuiy na pr
Elektronikawzad72 w. Ciążyńiki - ELEKTRONIKA W ZADANIACH C?<łć 2 Aułli/4 wpływu zmian temperatury
Elektronikawzad74 w. CUiyńakj - ELEKTRONIKA W ZADANIACH Część 2: Analizo wpływu minii temperatury na
Elektronikawzad54 w «VyAfki - ELEKTRONIKA W ZADANIACH Czę44 2: Analiza wpływu zmito temperatury na p
Elektronikawzad48 w. Ciitfyńaki - ELEKTRONIKA W ZADANIACH Czę*ć 2- Analiz* wpływu zmian tempemmry nn
Elektronikawzad56 W. Ctązyfelci FI.PKTRONIKA W ZADANIACH C«!>C 2: Analiza wpływu zmian trmpcratii
Elektronikawzad45 w Ciitfyń&ki - ELEKTRONIKA W 7ADANIACH Część 2: Analiza wpływu zmian lonpcrabn
Elektronikawzad51 W. r.i**ymki - ELEKTRONIKA W ZADANIACH Częii 2: Analirn wpływu zmian temperatury n
Elektronikawzad59 W. OątyfStki F.I.FKTRON1KA W ZADANIACH Częić 2: Analizo wpływu mian temperatury na
Elektronikawzad62 W Ciażyóik: - ELEKTRONIKA W ZADANIACH Część 2: Analiza wpływu amiai trmperamry na
Elektronikawzad66 W. Ciążytuki n.l-KTROKlKA W ZADAŃLACH Częić 2: Analiza wpływu zmian temperatury na
Elektronikawzad76 W. Ciąrymkł ELEKTRONIKA W ZADANIACH Ozęić 2 Anilira wpływu zmian temperatury na pr
Elektronikawzad77 w C Iłży teki - fcLKKTRONIKA W ZADANIACH Część 2: Analiza wptywi zmian temperami)
Elektronikawzad49 w. Ciotki - ELEKTRONIKA W ZADANIACH Część 2. Analiza wpływu zmian Icmpenrtwy iu jn
Elektronikawzad55 w. Ci^yiiO-i - HLKK.TRONIKA W ZADANIACH Cxęić 2: Analiza wpływu zmian temperatury
Elektronikawzad61 W. CiąłymU ELEKTRONIKA W ZADANIACH C*ę4Ć 2: Analiza wpływu Tmian tCTnpcrłtwy tu pr
Elektronikawzad43 W. Ciwylukj - ELEKTRONIKA W ZADANIACH Cifie 2. Analiza wpływu oman trmpcramn- im p

więcej podobnych podstron