czynnikami strukturalnymi i metody statystyczne, odwołujące się do relacji między fazami odznaczającymi się tylko pewnym stopniem prawdopodobieństwa.
W metodach bezpośrednich wykorzystuje się najczęściej zamiast czynników strukturalnych F związane z nimi bezpośrednio wielkości U lub E.
Przypomnijmy najpierw, że czynnik strukturalny o postaci
F(hkl) = y, fk exp i2n(hx
k
jest wielkością uwolnioną od czynnika temperaturowego wpływającego na obserwowane czynniki strukturalne, takie, z jakich wyznacza się natężenia. Jeżeli założy się drgania izotropowe, identyczne dla wszystkich atomów
\F0(h1d)\ = T- \F(hkl)\
przy czym T — exp(—Bsm2d/P).
Czynnik strukturalny unitarny U{hkl) jest określony zależnością
U(hkl) = F(hkl)jYJfk
k
Ponieważ stosunek ful^fk jest oczywiście równy Zkj^Zk(Zk — liczba elektronów atomu
k k
k), reprezentuje on ułamek elektronów komórki elementarnej związany z atomem k, ułamek, który oznaczymy przez nk. Otrzymuje się zatem wyrażenie
U(hkl) = ^ nk exp i2n(hx + ky + Iz)
k
U odgrywa więc rolę czynnika strukturalnego punktowego rozkładu elektronów, przy czym każdy punkt zawiera ułamek elektronów komórki elementarnej. Efekt dyspersji elektronów w atomie eliminuje się przez wprowadzenie stosunku fkl^fk- Wartość bezwzględna \ZJ\ jest w związku z tym zawsze zawarta między 0 a 1.
Znormalizowany czynnik strukturalny E{hkl) jest, zgodnie z definicją, określony wyrażeniem
\E(hkl)\2
\U(hkl)\2
<\U(hkl)\2>
a także, co jest równoważne
\E(hkl)\2 =
\F(hkl)\2 <\F(hkl)\2>
Jak się jednak przekonaliśmy poprzednio (s. 509)
<F2} =
k
Podobnie, otrzymuje się wyrażenie
k
Wynika z tego dalej, że
568