1. Zestawienie tabelaryczne wyników pomiarów C=f(x) dla x zmieniającego się od 0,5 do 5 cm co 0,5 cm (3 serie).

Odległość między okładkami kondensatora [m]	Pojemność C1 [pF]	Pojemność C2 [pF]	Pojemność C3 [pF]	Wartość średnia Cśr [pF]	Odchylenie standartoweśredniej SCśr	Zapis pomiaru (Cśr+SCśr) [pF]
0,005	52,94	52,90	52,96	52,93	0,02	52,93 + - 0,02
0,010	28,37	28,36	28,35	28,36	0,01	28,36 + - 0,01
0,015	20,96	20,94	20,93	20,94	0,01	20,94+ - 0,01
0,020	15,70	15,72	15,73	15,72	0,01	15,72 + - 0,01
0,025	13,12	13,10	13,13	13,12	0,01	13,12 + - 0,01
0,030	11,37	11,35	11,38	11,37	0,01	11,37 + - 0,01
0,035	9,95	9,93	9,96	9,95	0,01	9,95 + - 0,01
0,040	8,96	8,94	8,93	8,94	0,01	8,94 + - 0,01
0,045	8,10	8,12	8,09	8,10	0,01	8,10 + - 0,01
0,050	7,44	7,45	7,48	7,46	0,02	7,46 + - 0,02

Tabela1

Obliczenia błędu statystycznego dla tabeli 1.

1 a) wartość średnia:

C₁+C₂+C₃ 52,94 +52,9 +52,96

C₁= C₁= =52,933≈52,93

n 6

b) odchylenie standartowe średniej S _c n=3 C₁=52,933

1

S _c= n(n-1) *Σ (C - C_i)

S_C1= 1/6* [(52,933-52,94)²+(52,933-52,9)²+52,933-52,96)² =

= 0,018 ≈ 0,02

2 a) wartość średnia

C₃= C₁+C­₂+C₃/n C₃=20,96+20,94+20,93/3=20,3943 ≈ 20,94

b) odchylenie standartowe średniej S_C n=3 C₃=20,943

S_C3­= 1/6* [(20,943-20,96)²+(20,943-20,93)²] =0,009 ≈ 0,01

Analogicznie przeprowadza się obliczenia S­_C dla pozostaLych wartości z tabeli 1.

2. Zestawienie tabelaryczne wyników pomiarów C=f(x) dla x od 1 do 30 cm co 1 cm (2 serie pomiarow)

Odległość między okładkami kondensatora [m]	Pojemność C1 [pF]	Pojemność C2 [pF]	Wartość średnia Cśr [pF]	Odchylenie standartoweśredniej SCśr	Zapis pomiaru (Cśr+SCśr) [pF]
1	2	3	4	5	6
0,01	27,61	27,63	27,62	0,01	27,62 + - 0,01
0,02	15,00	14,98	14,99	0,01	14,99 + - 0,01
0,03	11,36	11,34	11,35	0,01	11,35 + - 0,01
0,04	8,88	8,86	8,87	0,01	8,87 + - 0,01
0,05	7,38	7,40	7,39	0,01	7,39 + - 0,01
0,06	6,30	6,32	6,31	0,01	6,31 + - 0,01
0,07	5,47	5,45	5,46	0,01	5,46 + - 0,01
0,08	4,73	4,75	4,74	0,01	4,47 + - 0,01
0,09	4,42	4,40	4,41	0,01	4,41 + - 0,01
0,10	3,80	3,83	3,82	0,02	3,82 + - 0,02
0,11	3,56	3,59	3,58	0,02	3,58 + - 0,02
0,12	3,27	3,30	3,29	0,02	3,29 + - 0,02
0,13	3,08	3,06	3,07	0,01	3,07 + - 0,01
0,14	2,64	2,62	2,63	0,01	2,63 + - 0,01
0,15	2,56	2,54	2,55	0,01	2,55 + - 0,01
0,16	2,35	2,34	2,35	0,01	2,35 + - 0,01
0,17	2,24	2,26	2,25	0,01	2,25 + - 0,01
0,18	2,12	2,10	2,11	0,01	2,11 + - 0,01
0,19	2,08	2,06	2,07	0,01	2,07 + - 0,01
0,20	1,89	1,92	1,91	0,02	1,91 + - 0,02
0,21	1,82	1,79	1,81	0,02	1,81 + - 0,02
0,22	1,74	1,7	1,72	0,02	1,72 + - 0,01
0,23	1,63	1,61	1,62	0,01	1,62 + - 0,01
0,24	1,56	1,54	1,55	0,01	1,55 + - 0,01
0,25	1,35	1,37	1,36	0,01	1,36 + -0,01
0,26	1,31	1,30	1,32	0,01	1,32 + - 0,01
0,27	1,28	1,26	1,27	0,01	1,27 + - 0,01
0,28	1,23	1,22	1,23	0,01	1,23 + - 0,01
0,29	1,18	1,16	1,17	0,01	1,17 + - 0,01
0,30	1,08	1,06	1,07	0,01	1,07 + - 0,01

Tabela 2

Obliczanie błędu statystycznego dla tabeli 2

1 a) wartość średnia n=2 x =0,01 m

C₁= C₁+C₂/2 = (27.61+2763)/2=27,62

b) Odchylenie standartowe średnie n=2 C₁ =27,62

1

S_C= n(n-1) *Σ (c -c_I)²

s_C= 1/2[(27,62-27,61)²+(27,62-27,63)²] ≈ 0,01

2 a) wartość średnia x=0,02 m

C₂= (15+14,98)/2=14,99

b)odchylenie standartowe średnie n=2 C₂=14,99

S_C2 = 1/2 [(14,99-15)²+(14,99-14,98)² =0,01

Analogicznie przeprowadzane są obliczenia S_C dla pomiarów pozostałych wartości z tabeli 2.

W wykorzystanym ćwiczeniu największy wpływ miały błędy statystyczne , które są o wiele większe od błędów stematycznych. Dlatego niepewność przypadkowa została przyjęta jako dominująca , pozwala nam to pominąć niepewność systematyczną.Błąd jest o rząd wielkości większy niż błąd systematyczny.

3. Wyniki pomiarów dla kondensatora z dielektrykiem.

a) ebonit

C₁=91,79 pF C₂=91,88 pF

C= 91,835≈91,84 pF

S_C= 1/2 * [(91,835-9179)²+(91,835-91,88)² =0,045≈0,05

Zapis pomiaru:

C=(91,84 + - 0,05)pF

b) plexiglass

C₁= 45,39pF C₂= 45,48 pF

C=(45,39+45,48)/2=45,435≈45,44 pF

S_c= 1/2 *[(45,435-45,39)²+(45,435-45,48)² =0,045≈0,05

Zapis pomiaru:

C= (45,44+-0,05) pf

---