METODY BADANIA
STRUKTURY
MATERIAŁÓW
Adam Gryc IM42 sekcja II
Plan prezentacji
1. Wstęp - struktura materiałów i metody jej badania
2. Badania makroskopowe
2.1. Badanie przełomów
2.2. Badanie wyszlifowanych powierzchni
2.2.1. Metoda głębokiego trawienia
2.2.2. Metoda subtelnego trawienia
2.2.3. Próba Baumanna
2.3. Próba toczenia lub strugania schodkowego
3. Badania na mikroskopie świetlnym
4. Ilościowa ocena mikrostruktury
5. Mikroskopia elektronowa
5.1. Mikroskopia elektronowa skaningowa
5.2. Mikroskopia elektronowa transmisyjna
6. Rentgenowska analiza fazowa
7. Literatura
Wstęp – struktura materiałów i
metody jej badania
Źródło: http://www.immt.pwr.wroc.pl/~maciek/bk/MiBM/2-
STRUKTURA.pdf
(03.11.2014)
Badania makroskopowe
Mikroskopia świetlna
Ilościowa ocena
mikrostruktury
Mikroskopia
elektronowa
Mikrosonda
elektronowa
Mikroskopia elektronowa
Rentgenowska analiza fazowa
Rentgenowska analiza fazowa
Mikroskopia elektronowa
Jonowy mikroskop polowy
Badania makroskopowe
Próba przełomu
niebieskiego
Próba przełomu po
ulepszeniu cieplnym,
hartowaniu i
odpuszczaniu
Fraktografia
Badanie przełomów
Źródło: http://www.e-spawalnik.pl/userfiles/udarnosc1_wm.jpg
(03.11.2014)
Źródło:
http://knom.polsl.pl/system/strona/views/zdjecia/struktury/19.JPG
(03.11.2014)
Źródło:
https://lh5.googleusercontent.com/noqqxecBiXhGEtQNWOxzdEE1
QraG2PMpFNlulmk4hrHq6Yag3k_bGC_ACZgaGoBx9QIof5T_twsym
svk021kEQ4ZfVUdV3BQRhutatK03QaSKANalxJddVxxxHuuGyZAeh
E (03.11.2014)
Badania makroskopowe
Identyfikacja charakteru
przełomu.
Identyfikacja przyczyny
pęknięcia materiału
(nieciągłości materiału,
zanieczyszczenia, wtrącenia
niemetaliczne, zmęczenie, itp.)
Ujawnienie głębokości
zahartowania.
Ocena wielkości ziarna
(porównanie ze skalą
Jernkontoret).
Ocena pasmowości wydzieleń
i włóknistości lub pierwotnej
struktury materiału
Badanie przełomów
Źródło:
https://lh3.googleusercontent.com/q9e85h9tRDbJTGe4USLezj2mR
r6d9v5pVtJD5Kgf9Lak0GoXWtsTf4D9zwi3irjDQki2C_XCazIf9mmLD
LHc-SarxnKh19YFMnn3iUJlV1TVsTOw6mrxcpQDKbw0_39uBvg
(03.11.2014)
Źródło:
https://lh3.googleusercontent.com/GpNyemfKoK8mDim7j1-
M7mhCtk5Bvflj4gcIqtDrRXMtypbCCzOqqDd6nO7T-
Q_7YaLfxQegqTshdue7Su6lmYAvIJAwOSkJjdFHaak8u7vfd2WIvktbU
1fx7A5SXQWo4Ao (03.11.2014)
Badania makroskopowe
Trawienie przeważnie
w mieszaninie kwasów (np.
odczynnik Jacewicza) lub
rozcieńczonym wodą kwasie
solnym (proporcja 1:1), na
zimno i gorąco.
Metoda stosowana do badania
przekrojów elementów
walcowanych, kutych lub
prasowanych.
Ujawnia ślady jamy
skurczowej, rzadzizny,
niezgrzane pęcherze, skupiska
wtrąceń niemetalicznych,
pęknięcia, dendryty, kierunek
przebiegu włókien.
Badanie wyszlifowanych powierzchni – metoda głębokiego
trawienia
Źródło:
http://andrzejn16.w.interia.pl/zdjecia/kowalstwo/wlukna.jpg
(04.11.2014)
Badania makroskopowe
Odczynniki, zawierające
związki miedzi, działające
elektrolitycznie.
Trawienie selektywne.
Ujawnienie kierunku przebiegu
włókien.
Ujawnienie mikrosegregacji
fosforu w próbce po trawieniu
odczynnikami Heyna, Anczyca
i Oberhoffera.
Ujawnienie linii płynięcia po
trawieniu w odczynniku Fry’a.
Ujawnienie struktury spoiny po
trawieniu w odczynniku Adlera.
Badanie wyszlifowanych powierzchni – metody subtelnego
trawienia
Badania makroskopowe
Służy
do
ujawniania
mikrosegregacji
siarki
w
próbce.
Wyszlifowaną próbkę zanurza
się
w 2-5 % roztworze kwasu
siarkowego (VI), a następnie
dociska
do
papieru
fotograficznego.
FeS + H
2
SO4 = FeSO
4
+ H
2
S
2AgBr + H
2
S = Ag
2
S + 2HBr
Badanie wyszlifowanych powierzchni – próba Baumanna
Źródło: https://encrypted-
tbn1.gstatic.com/images?
q=tbn:ANd9GcSZ7edHtM
AnXZFWyjqBD4_AF3SSA9
5Nj9cKfjRApqld41BYVN0A
xtQKE1c (05.11.2014)
Badania makroskopowe
Badanie rozkładu
zanieczyszczeń lub
wtrąceń
niemetalicznych na
różnych głębokościach.
Dwa warianty – płytki
(schodki zlokalizowane
przy powierzchni) oraz
głęboki (schodki,
obejmujące cały
przekrój).
Zestrugane lub
stoczone powierzchnie
można poddać
lekkiemu trawieniu.
Próba toczenia lub strugania schodkowego
Mikroskopia świetlna
Badanie topografii
powierzchni próbki.
Próbki odpowiednio
przygotowane – zgłady
metalograficzne (cięcie,
szlifowanie powierzchni,
polerowanie, trawienie).
Trawienie działa
selektywnie na różne
fazy, ułatwiając ich
identyfikację.
Informacje podstawowe
Źródło:
http://knom.polsl.pl/system/strona/views/zdjecia/OlympusGX71/iol
ympus.jpg (04.11.2014)
Mikroskopia świetlna
Powiększenie całkowite
Zdolność rozdzielcza
Głębia ostrości
Kontrast
Podstawowe parametry
Źródło: http://www.cnc.info.pl/pics/50587f9075fe.jpg (04.11.2014)
Mikroskopia świetlna
Techniki badawcze
Pole jasne
Pole ciemne
Światło
spolaryzowane
Kontrast
Nomarskiego
Ilościowa ocena
mikrostruktury
Źródło:
http://www.labmat.pw.plock.pl/metal/metilo/met-
llo.jpg (04.11.2014)
Źródło:
http://www.labmat.pw.plock.pl/metal/analiza/b4.g
if (04.11.2014)
Współcześnie metoda
zautomatyzowana
i skomputeryzowana.
Umożliwia określenie
udziałów objętościowych
poszczególnych faz
i składników
strukturalnych na
podstawie zasady
Cavalieriego-Hacquerta
oraz wielkości ziarna.
Mikroskopia elektronowa
Duża zdolność rozdzielcza i głębia
ostrości.
Wykorzystywany do badań
fraktograficznych, badań struktury
i analiz składu chemicznego
i rozkładu pierwiastków
chemicznych na powierzchni próbki
(metody EDS
i WDS).
Wiązka elektronów omiata całą
powierzchnię próbki.
Próbki przewodzące lub specjalnie
przygotowane próbki
nieprzewodzące.
Najważniejsze parametry: napięcie
przyspieszające, głębia ostrości,
zdolność rozdzielcza, powiększenie.
Mikroskopia elektronowa skaningowa
Źródło:
http://knom.polsl.pl/system/strona/views/zdjecia/S4200/ihitachis3
400n.jpg (04.11.2014)
Mikroskopia elektronowa
Mikroskopia elektronowa skaningowa
Źródło:
http://upload.wikimedia.org/wikipedia/commons/thumb/e/e9/Schema_MEB_(pl).JPG/350px-
Schema_MEB_(pl).JPG (04.11.2014)
Mikroskopia elektronowa
Mikroskopia elektronowa skaningowa
Źródło: http://upload.wikimedia.org/wikipedia/commons/3/3f/Oddzia
%C5%82ywanie_elektron-pr%C3%B3bka_w_SEM.JPG (04.11.2014)
Źródło:
http://upload.wikimedia.org/wikipedia/commons/thumb/
e/e5/Ebsd.jpg/220px-Ebsd.jpg (04.11.2014)
Mikroskopia elektronowa
Mikroskopia elektronowa transmisyjna
Źródło: http://knom.polsl.pl/system/strona/views/zdjecia/TEM/P1010825.JPG
(05.11.2014)
Głębia ostrości i zdolność
rozdzielcza dużo większa niż
w przypadku mikroskopów
świetlnych.
Powiększenie nawet do miliona
razy.
Możliwe badanie struktury,
obserwacja defektów i analiza
składu chemicznego.
Preparat jest prześwietlany
wiązką elektronów,
przyspieszaną napięciem rzędu
kilkuset kV.
Preparaty stanowią cienkie folie
(metoda bezpośrednia) lub repliki
(metoda pośrednia).
Najważniejsze parametry:
napięcie przyspieszające,
apertura, zdolność rozdzielcza,
głębia ostrości, powiększenie.
Mikroskopia elektronowa
Mikroskopia elektronowa transmisyjna
Źródło: http://labnews.pl/uploads/ckeditor/pictures/378/content_TEM_schemat.jpg
(05.11.2014)
Mikroskopia elektronowa
Mikroskopia elektronowa transmisyjna
Techniki
obserwacji:
Pole jasne
Pole ciemne
Obraz
dyfrakcji
elektronów
Źródło: http://what-when-how.com/wp-
content/uploads/2011/03/tmp1CF262_thumb.jpg (05.11.2014)
Rentgenowska analiza
fazowa
Próbkę może stanowić
materiał lity lub proszek.
Próbka oświetlana jest
wiązką promieni rentgena
o znanej długości fali,
a następnie odbite wiązki,
spełniające prawo Bragga
są rejestrowane przez
poruszający się po okręgu
detektor.
Możliwa jest ilościowa
i jakościowa analiza
fazowa, a także badanie
m. in. wielkości ziarna,
tekstury, zgniotu oraz
naprężeń własnych.
Źródło:
http://knom.polsl.pl/system/strona/views/zdjecia/Dyfraktometr/DSC_7074a.
jpg (05.11.2014)
Literatura
[1] Przybyłowicz K.: Metody badania tworzyw metalicznych,
Wydawnictwo Politechniki Świętokrzyskiej, Kielce 2011,
ISBN 978-83-88906-93-0, s. 18-22, 29-76.
[2] Przybyłowicz K., Jasieńska S. i inni: Nowoczesne metody
badawcze w metalurgii i metaloznawstwie (Skrypty
uczelniane nr 644), Powielarnia Akademii Górniczo-
Hutniczej, Kraków 1978, s. 7-302.
[3] Dobrzański L. A., Hajduczek E.: Metody badań metali
i stopów. Tom II: Badania metalograficzne makroskopowe
i na mikroskopie świetlnym. Mikroskopia elektronowa
(Skrypty uczelniane nr 1270), Dział Wydawniczy
Politechniki Śląskiej, Gliwice 1986, ISSN 0434-0825
[4]
http://www.immt.pwr.wroc.pl/~maciek/bk/MiBM/2-STRUK
TURA.pdf (03.11.2014)
Dziękuję za
uwagę!