1. wycinanie próbki z materiału
2. wycinanie krążka o średnicy 3 mm
3. szlifowanie próbki – do ok. 100 um
4. ścieranie – do 20 – 30 um
5. ścienianie jonowe
6. końcowe polerowanie elektroniczne lub jonowe Badania na mikroskopie transmisyjnym
1. w polu jasnym
2. w polu ciemny
3. badania dyfrakcyjne
Scratch test
- W metodzie tej diamentowy wgłębnik (Rockwell) przemieszcza się po powierzchni badanej próbki ze stałą prędkością przy ciągle wzrastającej sile obciążającej (rys.
5.102). Diamentowe ostrze podczas zarysowania
wykonuje pracę tarcia,
Kolotest
- polega na pomiarze charakterystycznych wielkości krateru utworzonego na powierzchni badanej próbki z powłoką. Do utworzenia krateru wykorzystuje się obracającą się kulkę stalową o średnicy 15 mm. Pomiędzy obracającą się kulkę a powierzchnię próbki dostarcza się zawiesinę diamentu.
Elektrony wtórne - są wybijane przez elektrony padające na próbkę i doznają przez to straty cześci swojej energi.
- elektrony wtórne pochodzą ze słabo związanych z jadrem zew powłok elektronowych atomów próbki.
- e wtórne są jednym z sygnałów wykorzystywanych do tworzenia obrazu topografi pow probki w mikroskopie skaningowym.
Mikroanaliza rentgenowska :
1. jakościowa
2. ilosciowa
3. powierchniowe rozmieszczenie pierwiastków
4. liniowe rozmieszczenie pierwiastków
Ścienianie jonowe - polega na bombardowaniu pow próbki wiązka zjonizowanego gazu
www.chomikuj.pl/MarWag987