Bad halla


Badanie efektu Halla.

 

Wydział

Dzień/godz.

Środa 8.00 - 11.00

Nr zespołu

Fizyka

Data

17.04.2002

7

Nazwisko i Imię

Ocena z przygotowania

Ocena ze sprawozdania

Ocena

1. Laudyn Urszula

2. Kwaśny Michał

3. Krasusuki Michał

 

 

 

 

 

 

Prowadzący:

Podpis

 

prowadzącego

 

 

Cel ćwiczenia:

 

Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z efektem Halla, poznanie budowy i zasady działania halotronu, pomiar zależności napięcia Halla UH od natężenia prądu sterującego IS i od indukcji B pola magnetycznego, w którym znajduje się badana próbka, oraz wyznaczenie ruchliwości i koncentracji nośników prądu poprzez pomiar zależności napięcia Halla w zależności od natężenia prądu sterującego.

 

1. Podstawy fizyczne

 

Na ładunek elektryczny q poruszający się z prędkością v w polu magnetycznym o indukcji B działa siła Lorentza :

0x01 graphic

 

0x01 graphic

Obserwacje działania tej siły możemy przeprowadzić na halotronie.

Halotron jest to cienka (grubość d * 0,1 mm) warstwa półprzewodnika na nieprzewodzącym podłożu i posiadająca cztery elektrody. Prąd sterujący halotronu przepływa wzdłuż warstwy półprzewodnika o długości l, a tym samym przez przekrój db, gdzie b jest szerokością naparowanej warstwy.

Nośnikami prądu mogą być elektrony lub dziury, które pod wpływem zewnętrznego pola magnetycznego prostopadłego do warstwy półprzewodnika zostają odchylone od pierwotnego biegu w kierunku siły Lorentza i gromadząc się na jednej ze ścian bocznych. Obecność zgromadzonych ładunków powoduje powstanie napięcia nazywanego napięciem Halla - Uh . Nośniki odchylają się w kierunku siły Lorentza tak długo, dopóki działanie wytwarzanego przez nie poprzecznego pola o natężeniu E = Uh/c nie zrównoważy siły Lorentza. Obecność zgromadzonych nośników można wykryć mierząc różnicę potencjałów UH, między bocznymi powierzchniami półprzewodnika

0x01 graphic

gdzie:

b - szerokość warstwy półprzewodnika,

B - indukcja pola magnetycznego, w którym znajduje się badana próbka,

v - prędkość nośników prądu w kierunku wytworzonego w próbce pola elektrycznego, tzw. prędkość dryftowa, która jest równa połowie przyrostu prędkości uzyskanej między zderzeniami nośników, prędkość ta jest wprost proporcjonalna do natężenia pola elektrycznego w próbce:

0x01 graphic

gdzie:

0x01 graphic
- prędkość dryftowa [m/s],

0x01 graphic
- natężenie pola [V/m],

ၭ - ruchliwość [m2/Vs],

Prędkość nośników jest tym większa im większe jest natężenie prądu sterującego płynącego przez halotron i im mniejsza jest koncentracja nośników prądu w półprzewodniku:

0x01 graphic

gdzie:

Is - natężenie prądu sterującego,

n - koncentracja nośników,

e - ładunek nośnika prądu,

d - grubość warstwy półprzewodnika,

Wykorzystując prędkość w podanym wzorze i podstawiając ją do wzoru na napięcie Halla, otrzymujemy:

0x01 graphic

Natomiast wykorzystując prawo Ohma i definicję natężenia prądu otrzymamy:

0x01 graphic

gdzie:

U - spadek napięcia wzdłuż halotronu,

U/l - natężenie pola elektrycznego,

Z podanych wyżej wzorów możemy wyznaczyć koncentrację nośników i ruchliwość:

0x01 graphic

0x01 graphic

Iloczyn koncentracji i ruchliwości jest odwrotnie proporcjonalny do rezystancji warstwy półprzewodnika:

0x01 graphic

gdzie iloczyn ne* - przewodnictwo właściwe warstwy; iloraz 1/ne - stała Halla

 

 

2. Wykonanie ćwiczenia

 

Dane do ćwiczenia:

grubość halotronu d=(100Ⴑ1)ၭm

szerokość b=(2,5Ⴑ0,1)mm

długość l=(10,0Ⴑ0,1)mm

maksymalna wartość prądu sterowania próbki 15mA

maksymalna wartość prądu elektromagnesu 2A

e = 1,6*10-19 [C]

parametry opornicy:

klasa: 0.05

Ug 650V

R0 (4.0 0x01 graphic

 

Wykonanie ćwiczenia:

 

Zbudowaliśmy obwód elektryczny według schematu przedstawionego w instrukcji. Następnie wyznaczyliśmy znak większościowego nośnika prądu oraz zbadaliśmy napięcie asymetrii halotronu mierząc Uh przy włączonym i wyłączonym polu magnetycznym. Obliczyliśmy koncentrację nośników w istniejącym stanie, a także po zmianie kierunku pola. Następnie zbadaliśmy zależność napięcia Halla od natężenia prądu sterującego i dokonaliśmy pomiaru rezystancji halotronu.

Budujemy obwód według przedstawionego schematu:

0x01 graphic

Schemat obwodu do pomiaru napięcia Halla. E - źródło napięcia stałego, A - amperomierz, Vh - woltomierz, H - halotron, R - opornica dekadowa.

 

 

 

Wyniki pomiarów i obliczenia:

 

 

 

  1. W celu wyznaczenia nośników większościowych użyliśmy kompasu, który wskazał nam kierunek pola magnetycznego, a następnie wyznaczyliśmy znak nośników na ujemny tzn. Nośnikiem większościowym są elektrony.

 

  1. Badanie asymetrii halotronu

Po zamknięciu obwodu woltomierz VH wskazuje napięcie UH zależne od wielkości natężenia prądu sterowania IS także wówczas, gdy halotron nie jest umieszczony w polu magnetycznym elektromagnesu. Napięcie UH wynika przede wszystkim z asymetrii umieszczenia hallowskich elektrod, niejednorodności naparowanej warstwy półprzewodnika oraz pola magnetycznego Ziemie. . Elektrody nie leżą na tej samej powierzchni ekwipotencjalnej pola powstającego w warstwie po przyłożeniu do niej napięcia.

Zatem napięcia UH pojawiające się w nieobecności pola magnetycznego są poprawkami, które należy odjąć od mierzonego napięcia Halla. Aby wyznaczyć te poprawki mierzymy zależność napięcia UH od natężenia prądu sterującego IS przy halotronie wyjętym z pola magnetycznego elektromagnesu.

W tym celu przy wyłączonym magnesie badamy napięcie Halla w zależności od natężenia prądu sterującego.

Natężenie prądu sterującego Is (mA)

Napięcie Halla Uh (mV)

3,16

0,1

13,20

0,8

 

Wykorzystując wzór na prostą, przechodzącą przez dwa punkty, otrzymujemy dane parametry prostej:

 

Współczynnik a= 0,1

Stała b= -0,22

 

Prosta jest rosnącą, więc dla danego natężenia prądu sterującego będziemy odejmować odpowiednią wartość poprawki dla napięcia Halla.

 

 

  1. Wyznaczanie napięcia Halla przy stałym polu magnetycznym.

Pomiarów dokony3waliśmy dla dwoch wartości indukcji pola magnetycznego:

B1=115mT dla Ie = 1A.

B2=122mT dla Ie=1,5A.

Dla odpowiednich wartości natężenia zasilającego magnes odczytaliśmy wartości pola magnetycznego i zbadaliśmy zależność natężenia sterującego od napięcia Halla.

 

Im1 = 1A 0x01 graphic

 

Natężenie sterujące Is (m A)

Napięcie Halla Uh (m V)

Poprawka

Napięcie Halla z poprawką

0

0

-0,22

0,22

3,13

55,0

0,093

54,907

4,00

70,3

0,18

70,12

5,00

88,1

0,28

87,82

6,00

105,4

0,38

105,02

7,00

122,3

0,48

121,82

8,00

139,2

0,58

138,62

9,00

155,9

0,68

155,22

10,00

172,2

0,78

171,42

11,00

188,6

0,88

187,72

12,00

204

0,98

203,02

12,75

216

1,055

214,945

 

Do obliczenia wartości koncentracji nośników zastosowaliśmy wzór:

0x01 graphic

gdzie:

0x01 graphic

Liczoną wartość sprowadziliśmy do zależności liniowej: y = (a+၄a)*x+(b+၄b)

 

Gdzie 0x01 graphic
wyliczone jako tangens nachylenia krzywej, to otrzymamy wzór na koncentrację w postaci:

0x01 graphic
.

 

0x01 graphic

 

 

 

Wartości współczynników a i b wynoszą:

a= 17

b = 2

 

Błąd koncentracji policzyliśmy z różniczki logarytmicznej:

0x01 graphic

 

 

 

၄n =

 

Jednostką koncentracji jest:

0x01 graphic

gdzie:

[e]=C ; [IS]=A ; [B]=T ; {UH]=V ; [d]=m.

 

A zatem otrzymaliśmy:

n =

 

Do wyznaczenia ruchliwości nośników skorzystaliśmy ze wzorów:

Korzystamy ze wzoru na rezystację Halotronu:

0x01 graphic

Przekształcamy go do postaci:

 

0x01 graphic
0x01 graphic

Wyliczamy błędy za pomocą różniczki zupełnej:

0x01 graphic

 

 

μ=( ) m2/V*s Δμwzgl.= %

 

 

Im2 = 1,5A 0x01 graphic

 

Natężenie sterujące

Is (mA)

Napięcie Halla

Uh (m V)

Poprawka

Napięcie Halla z poprawką

0

0

-0,22

0,22

3,12

80,8

0,092

80,708

4,00

103,3

0,18

103,12

5,00

128,2

0,28

127,92

6,00

154,2

0,38

153,82

7,00

179,2

0,48

178,72

8,00

204,0

0,58

203,42

9,00

228,0

0,68

227,32

10,00

252,0

0,78

251,22

11,00

275,0

0,88

274,12

12,00

300,0

0,98

299,02

12,62

315,0

1,042

313,958

Podobnie jak poprzednio do obliczania wartości koncentracji nośników zastosowaliśmy wzór:

0x01 graphic

gdzie:

0x01 graphic

Liczoną wartość sprowadziliśmy do zależności liniowej:

 

gdzie:

0x01 graphic

 

0x01 graphic

Wartości współczynników a i b wynoszą:

a = 24.75

b = 3

Wykorzystując otrzymane wartości możemy obliczyć koncentrację nośników:

0x01 graphic

Błąd obliczamy podobnie jak poprzednio z wykorzystaniem różniczki logarytmicznej. Ostatecznie wynik wynosi więc:

n =

 

 

Do wyznaczenia ruchliwości nośników skorzystaliśmy ze wzorów:

Korzystamy jak poprzednio ze wzoru na rezystację Halotronu:

0x01 graphic

Przekształcamy go do postaci:

 

0x01 graphic
0x01 graphic

Wyliczamy błędy za pomocą różniczki zupełnej:

0x01 graphic

 

 

μ=( ) m2/V*s Δμwzgl.= %

 

 

 

 

 

 

 

 

  1. Wyznaczanie napiecia Halla przy stałym natężeniu prądu sterującego:

Pomiary zostały wykonane przy prądzie sterującym o natężeniu Is = 12mA

 

Natężenie

Im (mA)

Indukcja

B [mT]

Napięcie Halla

Uh [mV]

0

0

1 bez elektromagnesu

0,25

35

54,6

0,75

60

101,5

1

87

151,8

1,25

115

199,7

1,5

145

247

1,75

172

292

1,85

199

341

0

0,

12 z elektromagnesem

 

 

 

Do obliczenia wartości koncentracji nośników zastosowaliśmy wzór:

0x01 graphic
0x01 graphic
0x01 graphic

gdzie:

0x01 graphic

Korzystając z metody najmniejszych kwadratów sprowadzamy liczoną wartość do zależności liniowej:

 

y = (a+၄a)*x+(b+၄b)

gdzie:

0x01 graphic

 

 

 

0x01 graphic

 

wartości współczynników a i b:

a =

b =

Koncentrację nośników obliczamy korzystając ze wzoru:

0x01 graphic

a jej błąd z wykorzystaniem różniczki logarytmicznej:

0x01 graphic

Jednostką koncentracji jest:

0x01 graphic

gdzie:

[e]=C ; [IS]=A ; [B]=T ; {UH]=V ; [d]=m.

 

Ostatecznie więc:

n =

 

 

Do wyznaczenia ruchliwości nośników skorzystaliśmy ze wzorów:

Korzystamy jak poprzednio ze wzoru na rezystację Halotronu:

0x01 graphic

Przekształcamy go do postaci:

 

0x01 graphic
0x01 graphic

Wyliczamy błędy za pomocą różniczki zupełnej:

0x01 graphic

 

 

μ=( ) m2/V*s Δμwzgl.= %

 

 

  1. Wnioski

Z przeprowadzonych pomiarów i wykonanych obliczeń wyznaczających koncetrację i jej błąd w dwóch różnych metodach pomiarowych zaobserwowaliśmy, iż błąd względny w metodzie drugiej jest większy niż ten sam błąd w metodzie pierwszej.

Na wartości otzrymanych wyników i wielkości błędów miał wpływ:

 

 

 

 

 

 



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
BAD WYKŁAD SIECI 2
wyklad3 tech bad
BM 4 Bad motywacyjne FGI IDI
wyklad 29 i 30 tech bad
bad dwojn szer rc
met.bad.ped.program, Studia, Semestry, semestr IV, Metody badań pedagogicznych
pediatria bad pacj, Pielęgniarstwo licencjat, licencjat, Studia II rok, pediatria
BAD Rynkowe i mark - ściąga(1), zchomikowane, 35 000 edukacyjnych plików z każdej branży
Wzor skierowania na bad profilaktyczne
zjawisko Halla
057c ?danie?ektu Halla sprawozdanie
bad fiz2
24?danie?ektu Halla
bad marketingowe
BAD OPER 09 10(2)
instrukcja bad makro wg pn en iso
bad orAM 4godz
opis ark bad got szk 7

więcej podobnych podstron