LUKI2, ZiIP, II Rok ZIP, Metrologia, Charkterystyka statyczna przetworników (lab1), Sprawozdanie przetworniki


LABORATORIUM : Metrologia techniczna

rok II semestr 3

BMiZ zip 2

Krzysztof Grzelczyk

Łukasz Gwizdała

Dariusz Janelt

TEMAT:

Charakterystyka statyczna przetworników

1) Cel ćwiczenia:

- wykonanie wykresu funkcji y=f(x)

- określenie liniowego zakresu charakterystyki i parametrów prostej

regresji a0 i a1 metodą najmniejszych kwadratów

- wyznaczenie czułości i błędu nieliniowości

2) Obliczenia i uzyskane wyniki:

Po wypełnieniu tabelki wartościami rysujemy wykres zależności y=f(x) i określamy graficzne punkty zakresu liniowego ymax i y min Dla tegoż zakresu obliczamy parametry a 0 i a1 prostej regresji yi = a0 + a1xi metodą najmniejszych kwadratów z układu równań:

a0 N + a1 Σxi = Σyi

a0 Σxi + a1 Σxi2 =Σ xiyi

gdzie, N = 25

25 a0 + 0,058 a1 = 0

0,058 a0 + 2,045 a1 = 2,062

dla tego układu równań parametry wynoszą:

a0 = - 0,00229

a1 = 1,008

Prosta regresji ma postać:

yi = - 0,00229 + 1,008xi

Czułość przetwornika wynosi:

S = dy/dx = a1= 1,008

Maksymalny błąd nieliniowości występuje dla siódmego punktu pomiarowego:

δ nl = | ∆ymax| ⁄ (ymax- ymin) *100% ,

gdzie:

∆ymax= |y15 - ŷ15| = |0,0805146 - 0,08| = 0,0005146

ymax = 0,08

ymin = - 0,28

δ nl = (0,00051 / 0,36) * 100 % = 0,0014 %

3) Wnioski:

Po zapoznaniu się ze sprzętem pomiarowym zastosowanym w ćwiczeniu oceniliśmy właściwości statyczne przetwornika pomiarowego za pomocą parametrów metrologicznych.

Uzyskując powyższe wyniki stwierdzamy, że zakres liniowy występuje dla wartości -0,2777 ≤ xi ≤ 0,0803.

Poza tym zakresem na wykresie widać wyraźną nieliniowość.



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
Kopia LABORATORIUM-nasze, ZiIP, II Rok ZIP, Metrologia, Charkterystyka statyczna przetworników (lab1
LABORATORIUM, ZiIP, II Rok ZIP, Metrologia, Charkterystyka statyczna przetworników (lab1), Sprawozda
LABORATORIUM-nasze v2, ZiIP, II Rok ZIP, Metrologia, Charkterystyka statyczna przetworników (lab1),
str tytuł-SKJ, ZiIP, II Rok ZIP, Metrologia, SKJ-Statystyczna Kontrola Jakości, Sprawozdanie
SKJ wnioski, ZiIP, II Rok ZIP, Metrologia, SKJ-Statystyczna Kontrola Jakości, Sprawozdanie
SKJ, ZiIP, II Rok ZIP, Metrologia, SKJ-Statystyczna Kontrola Jakości, Sprawozdanie
SPRAWOZDANIE NR 1, ZiIP, II Rok ZIP, Metrologia, Sprawozdanie nr 1
metrologia - błędy kształtu, ZiIP, II Rok ZIP, Metrologia, metrologia, Sprawozdania
Stożki, ZiIP, II Rok ZIP, Metrologia
częstotliwość, ZiIP, II Rok ZIP, Metrologia
sprawozdanie nr 3, ZiIP, II Rok ZIP, Metrologia, metrologia, Sprawozdanie nr 3
sprawozdanie nr 5, ZiIP, II Rok ZIP, Metrologia, Sprawozdanie nr 5
Pomiary błędów kształtu, ZiIP, II Rok ZIP, Metrologia
Politechnika Poznańska, ZiIP, II Rok ZIP, Metrologia, metrologia, Sprawozdania, Statystyczna kontrol
POPRAWIONE 01 - Pomiary współrzędnościowe, ZiIP, II Rok ZIP, Metrologia, metrologia, Sprawozdania
Pomiary stożków, ZiIP, II Rok ZIP, Metrologia
Błędy pomiarów pośrednich, ZiIP, II Rok ZIP, Metrologia, metrologia, Sprawozdania
metrologia -r-a, ZiIP, II Rok ZIP, Metrologia, metrologia, Sprawozdania
błędy pośrednie, ZiIP, II Rok ZIP, Metrologia, metrologia, Sprawozdania

więcej podobnych podstron