CwS1, 3 semestr, Przyrządy Półprzewodnikowe


Jan KOPROWSKI

PRZYRZĄDY PÓŁPRZEWODNIKOWE

Materiały i instrukcje

do

ćwiczeń laboratoryjnych

Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie

Kraków 2004

Na prawach rękopisu

Wydanie X (2004/5)

SPIS ĆWICZEŃ

strona

  1. CHARAKTERYSTYKI STAŁOPRĄDOWE DIODY P+-N - diody prostownicze...........5

  2. POJEMNOŚĆ ZŁĄCZA P­-N - diody pojemnościowe...................................................11

  3. PARAMETRY MAŁOSYGNAŁOWE DIODY - diody detekcyjne Schottky'ego.........19

  4. EFEKTY DYNAMICZNE PRZEŁĄCZANIA DIODY - diody impulsowe...................25

  5. DIODY SPECJALNE : stabilizacyjne (Zenera) i tunelowe...............................................31

  6. PARAMETRY TERMICZNE DIODY ............................................................................41

  7. TRANZYSTORY JEDNOZŁĄCZOWE...........................................................................49

  8. TYRYSTORY I TRIAKI..................................................................................................53

  9. CHARAKTERYSTYKI STAŁOPRĄDOWE TRANZYSTORÓW BIPOLARNYCH

  10. PARAMETRY MAŁOSYGNAŁOWE TRANZYSTORÓW BIPOLARNYCH

  11. WZMACNIACZ EMITEROWY

  12. PARAMETRY IMPULSOWE TRANZYSTORÓW

  13. REZYSTANCJA TERMICZNA TRANZYSTORÓW MOCY

  14. ZŁĄCZOWE TRANZYSTORY POLOWE

  15. TRANZYSTORY POLOWE MOS

  16. PARAMETRY MACIERZY [S ] TRANZYSTORÓW

PLAN ZAJĘĆ LABORATORYJNYCH w r.a. 2004/05

w wymiarze czasowym 10x(3x45')=30 godzin lekcyjnych

1o - zajęcia organizacyjne: 4.-7.X.04

2o - I tura rotacyjna 5. zajęć laboratoryjnych: 18.X. - 25.XI.04

3o- II tura rotacyjna 4. zajęć laboratoryjnych: 29.XI.04-14.I.05

4o- kolokwium przejściowe i zaliczenia - 17.-21.I. 2005.

W I turze zajęć będą wykonywane ćwiczenia (pojedyncze lub w zestawach podwójnych):

1.+5., 2., 4., 9., oraz 10.+11.(rezerwowe 3.)

w II turze:

6.+13., 7.+8., 12., 14., i 15. (rezerwowe 16.)

1. CHARAKTERYSTYKI STAŁOPRĄDOWE DIODY P+­N

- diody prostownicze.

1.1. Równanie diody

Parametry elektryczne diod półprzewodnikowych są określone rodzajem i strukturą krystaliczną materiału półprzewodnikowego oraz właściwościami złącza p-n. Wielkość prądu diody iD zależy od kierunku i wartości przyłożonego napięcia uD (rys.1.1).

0x01 graphic

Linia prosta aproksymująca duże prądy diody w kierunku przewodzenia dla uF=uD>0 wyznacza napięcie zagięcia charakterystyki UK (K - knee), które na wstępie badań pozwala rozróżnić materiał półprzewodnikowy: około 0,4 V dla Ge, 0.7 V dla Si i 1,6 V dla GaAs.

Prąd w kierunku przewodzenia iD=iF przewyższa prąd rewersyjny iR setki i tysiące razy - stąd należy pamiętać, że skale prądowe na poglądowych charakterystykach diod dla obu kierunków są różne. Przy dużych napięciach ujemnych uR=uD<<0 bardzo szybko wzrasta prąd rewersyjny. Przy napięciu UB obserwujemy przebicie elektryczne diody, które często kończy się jej zniszczeniem. W warunkach stałoprądowych pomiarów „punkt po punkcie” charakterystyki w kierunku przewodzenia i rewersyjnym są zdejmowane oddzielnie.

Prąd diody rzeczywistej w kierunku przewodzenia jest zasadniczo sumą prądów dwóch modelowych diod: rekombinacyjnej i dyfuzyjnej

0x01 graphic
(1.1)

gdzie:

IGR0-zerowy prąd generacyjno-rekombinacyjny w obszarze złącza PN przy uD=uF→0,

I0 - prąd rewersyjny nasycenia nośników mniejszościowych przy uD=uR<0,

rS - rezystancja szeregowa diody (głównie jej bazy),

UT - potencjał elektrodynamiczny (UT =kT/q = 0,026 V przy 300 K),

uD-iDrS - napięcie bezpośrednio na złączu, przeciwne napięciu dyfuzyjnemu ψ0.

Każda z tych diod staje się bardziej widoczna na charakterystyce diody rzeczywistej, przedstawionej w półlogarytmicznym układzie współrzędnych (lniD, uD) lub (logiD, uD) różnym nachyleniem charakterystyki (rys.1.2). Przy bardzo uważnej analizie jej przebiegu można wyróżnić pięć zakresów w kierunku przewodzenia (uD=uF>0): małoprądowy, rekombinacyjny, dyfuzyjny, dryftowy (przy wysokim poziomie iniekcji) i omowy, oraz trzy zakresy w kierunku zaporowym (uD=uR<0): małoprądowy, nasycenia i przebicia.

Jak widać z przebiegu charakterystyki lniD=f(uD) i nachyleń prostych odcinków na jej poszczególnych zakresach, udział prądu rekombinacyjnego jest decydujący przy małych napięciach polaryzujących złącze w kierunku przewodzenia (0<uD<4UT). Można wykazać, że w symetrycznie domieszkowanym złączu zachodzi relacja: IGR0/I0 4,5.103 dla uD=5UT.

0x01 graphic

W diodach krzemowych prąd dyfuzyjny zaczyna dominować przy uD16UT. W takich warunkach prąd diody można aproksymować zależnością

0x01 graphic
(1.2)

gdzie: n - współczynnik nieidealności (emisji) złącza p-n, zaś IS - efektywny prąd nasycenia diody, przy czym I0ISIGR0 - w zależności od napięcia na diodzie. Przy małych wartościach prądu spadki napięcia na rS w dobrych diodach (sygnałowych) można pominąć, i wtedy powyższe równanie ma bardziej wygodną postać Shockley'a

0x01 graphic
(1.2a)

Dla dużych napięć z zakresu diody dyfuzyjnej, takich że uDUTln(ND2/10ni2), można przyjąć, że

0x01 graphic
(1.3)

Dla ND = 1016 cm-3 są to uD<0,64 V oraz n≥1.

Przy dużym poziomie iniekcji nośników mniejszościowych do obszaru bazy nachylenie charakterystyki znowu maleje - tak że n≈2. Najwyżej wyróżnia się tzw. zakres omowy charakterystyki diody (rys.1.2). Prąd w tym zakresie staje się proporcjonalny do napięcia zewnętrznego na diodzie uD, które w znacznej swej części odkłada się na rezystancji szeregowej rS słabej domieszkowanej bazy (rys.1.3). Rezystancję szeregową wyznaczamy dla dużych stałych wartości prądu ID, obserwując rozbieżność napięcia uD pomiędzy rzeczywistą wartością napięcia a napięciem wynikającym z modelowej jego wartości dla diody dyfuzyjnej (według rys.1.2)

0x01 graphic

0x01 graphic
(1.4)

Przy polaryzacji zaporowej (uD=uR<0) prąd rewersyjny nośników mniejszościowych jest praktycznie w całym zakresie napięć ujemnych powiększany prądem generacyjnym i prądem upływności powierzchniowej - aż do przebicia lawinowego przy napięciu UB, inicjującym przebicie przy prądzie całkowitym IBV (rys.1.1).

1.2. Parametry stałoprądowe diody

Zasadnicza cecha diody: duża rezystancja w kierunku zaporowym i niewielka jej wartość w kierunku przewodzenia, jest wykorzystywana w elementach prostowniczych, detekcyjnych i modulacyjnych. Są to wielkości nieliniowe.

Rezystancja stałoprądowa w kierunku przewodzenia dla stałej wartości napięcia uD=UF>0 wynosi zatem

0x01 graphic
dla UF>3UT (1.5)

zaś w kierunku zaporowym dla uD= -UR;

0x01 graphic
dla UR>3UT (1.6)

Współczynnik stałoprądowy prostowania jest definiowany następująco:

0x01 graphic
(1.7)

Jego wartość jest miarą nieliniowości diody. W katalogach diod prostowniczych wartość tego współczynnika jest podawana przy |UD|=±1V. Ponadto dla tego rodzaju diod ważne są dopuszczalne warunki pracy określane maksymalnymi wartościami prądu przewodzenia IFmax i napięcia rewersyjnego URmax, mocy rozpraszanej na diodzie Pmax, a także maksymalnej i minimalnej temperatury otoczenia.

Wielkość mocy jest oceniana jako suma mocy rozpraszanych w diodzie przy prądzie przewodzenia i rewersyjnym

P = PF +PR (1.8)

W większości przypadków PR<<PF , i można przyjąć, że

PPF = 2UFśr IFśr (1.9)

gdzie: UFśr i Ir - wartości średnie napięcia i prądu w kierunku przewodzenia.

1.3. Przebieg ćwiczenia

Sposób wyznaczania prądów rewersyjnych I0 i IS oraz rezystancji szeregowej rS z charakterystyki rzeczywistej iD=iD(uD) jest przedstawiony na rys.1.1. Taką charakterystykę możemy obserwować na monitorze oscyloskopu podłączonego do przystawki pomiarowej według rys.1.4. Wartości uD odczytujemy bezpośrednio, zaś prąd iD uzyskamy z podzielenia odczytanej wielkości Y podzielonej przez 10  przy skręconym w prawo potencjometrze10-omowym.

0x01 graphic

Rys.1.4. Zestaw do obserwacji charakterystyki diod

Do wykreślenia charakterystyki w układzie półlogarytmicznym zbieramy starannie wyniki „punkt po punkcie” w metodzie dokładnego pomiaru napięcia na diodzie. Wyniki te uzyskujemy w układzie pomiarowym zmontowanym według rys.1.5.

0x01 graphic

Rys.1.5. Układ do pomiarów charakterystyki iD= iD(uD) diody w kierunku przewodzenia

Do pomiarów w kierunku zaporowym uD=uR<0 układ pomiarowy należy przebudować do postaci jak na rys.1.6.(dokładny pomiar bardzo małego prądu rewersyjnego diody).

0x01 graphic

Rys.1.5. Układ do pomiarów charakterystyki
iD= iD(uD) diody w kierunku zaporowym

Przedmiotem badań są diody z różnych materiałów półprzewodnikowych. Diody typu BYP-401 i BAVP-17 mierzymy w kierunku przewodzenia w zakresie od 0,1 do 100 mA.

Na wykresach lgiD=iD(uD) należy wyszczególnić podstawowe zakresy prądów diody. Na podstawie nachylenia i przebiegu charakterystyki w tych zakresach, ekstrapolowanych do punktu przecięcia z prostą uD=0, wyznaczyć charakterystyczne parametry równania (1.1), czyli I0, IGR0 oraz współczynniki n dla dwóch pierwszych zakresów: rekombinacyjnego i dyfuzyjnego (o ile są one rozróżnialne na wykresach lgiD=iD(uD)). Określić także wartości współczynnika stałoprądowego prostowania dla każdej z diod przy |UD|=±1V.

Przy opracowaniu wyników uwzględnić spadek napięcia na amperomierzu.

Uwaga: W kierunku zaporowym do diod przykładamy napięcie nie większe niż 10 V!

Pomiary prądu nasycenia i współczynnika idealności diod sygnałowych (Schottky'ego)- metoda dwupunktowa.

W prosty sposób prąd IS i współczynnik n diody może być wyznaczony po przyłożeniu do diody stałego napięcia i zmierzeniu wartości prądu ID przy dwóch napięciach UD1 i UD2 - służy do tego przystawka przedstawiona na rys.1.6. Do niej dołączamy wysokiej klasy woltomierz cyfrowy (o rezystancji wejściowej nie mniejszej niż 10 MW) na zakresie 0.200 V.

W tym celu najwygodniej jest mierzyć prądy diody przy wartościach 6IS i 3IS. Wstawiając takie wartości prądów do równania Shockleya (1.2a), mamy: dla pierwszej wartości UD=0,05000n [V], a dla drugiej UD=0,03561n [V].

0x01 graphic

Rys.1.6. Przystawka do wyznaczania prądu nasycenia IS

i współczynnika n diod sygnałowych.

Po właściwym podłączeniu diody pierwszą parę danych uzyskujemy, jeżeli ustawimy dwa pierwsze przełączniki na „V”, a trzeci na „LC” (low current). Następnie naciskamy czerwony przycisk i ustawiamy potencjometrem pierwszą wartość napięcia: np. U1=0,055 V, po czym przełączamy się na „I” i odczytujemy drugą wartość U2. W ten sposób uzyskaliśmy:

UD1= U1 oraz 0x01 graphic

Podobnie postępujemy, aby uzyskać drugą parę danych (UD2, ID2); ustawiając dwa pierwsze przełączniki na „V”, a trzeci na „LC” (low current). Następnie naciskamy czerwony przycisk i ustawiamy trzecią wartość napięcia: np. U3=0,040 V, po czym przełączamy się na „I” i odczytujemy czwartą wartość U4. Podobnie zatem mamy

UD2= U3 oraz 0x01 graphic

Te dwa zbiory danych (punkty pracy) diody wstawiamy do zależności Shockley'a (1.2a), uzyskując układ dwóch równań z dwiema niewiadomymi IS i n, który należy rozwiązać.

Jeżeli prąd IS badanej diody będzie zbyt wielki (dioda germanowa), to nie uzyskamy znaczących wartości U1=0.055 V w pierwszej procedurze. Wtedy należy przełączyć się na „HC” (High Current). Dla dużego prądu napięcia odczytujemy na mniejszych rezystancjach, a prądy wyznaczamy tym razem z zależności:

0x01 graphic
oraz 0x01 graphic

W przystawce znajduje się prosty układ elektryczny zasilany baterią 1,5 V, przedstawiony na rys.1.7.

0x01 graphic

Rys.1.7. Schemat elektryczny układu do metody dwupunktowej pomiaru parametrów diody

1

3



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
CWn12, 3 semestr, Przyrządy Półprzewodnikowe
SPIS-i-ORG 05, 3 semestr, Przyrządy Półprzewodnikowe
CW-OZNA, 3 semestr, Przyrządy Półprzewodnikowe
CWn14, 3 semestr, Przyrządy Półprzewodnikowe
CWn7, 3 semestr, Przyrządy Półprzewodnikowe
CWp13, 3 semestr, Przyrządy Półprzewodnikowe
CW7, 3 semestr, Przyrządy Półprzewodnikowe
CWL8, 3 semestr, Przyrządy Półprzewodnikowe
CW15Ub, 3 semestr, Przyrządy Półprzewodnikowe
CWpp15, 3 semestr, Przyrządy Półprzewodnikowe
CWn15, 3 semestr, Przyrządy Półprzewodnikowe
Cwn9VEE, 3 semestr, Przyrządy Półprzewodnikowe
CWn9, 3 semestr, Przyrządy Półprzewodnikowe
Przyrządy półprzewodnikowe (2)
Badanie optoelektrycznych właściwości przyrządów półprzewodnikowych 5 , LABORATORIUM FIZYCZNE
Materiałoznawstwo, Badanie właściwości materiałów i przyrządów półprzewodnikowych, POLITECHNIKA LUBE
Badanie optoelektrycznych właściwości przyrządów półprzewodnikowych 1 , Pomiar pierwszy

więcej podobnych podstron