7. ELEKTRONIKA 332
Uwaga: Brak pasma zabronionego występuje w metalach (przewodnikach); jeżeli W » » 3 eV, to ciało jest izolatorem.
Zjawisko nadprzewodnictwa wymaga opisu za pomocą innych modeli, np. BCS. Przykłady wartości Wg w temperaturze pokojowej (300 K): german Ge—0,67 eV, krzem Si — 1,12 eV, arsenek galu GaAs —• 1,43 eV.
Elektron w paśmie przewodnictwa jest swobodnym nośnikiem elementarnego ładunku elektrycznego qe= 1,6 10"19 A s; niedobór ładunku w paśmie walencyjnym, zwany dziurą, jest też swobodny, a więc jest nośnikiem ładunku. Zwykle są dwie składowe ruchu ładunków, czyli prądu: elektronowa i dziurowa.
2. Generacja nośników (rys. 7.2) — następuje pod wpływem dopływu energii cieplnej Wlh do półprzewodnika (temperatura otoczenia Ta> OK) — zawsze jest to generacja par nośników, a więc półprzewodnik pozostaje makroskopowo neutralny. Szybkość generacji nośników G„ jest funkcją temperatury i właściwości materiałowych. Gęstość objętościową nośników nazywa się koncentracją i oznacza: n — dla elektronów, p — dla dziur (jednostka — najczęściej cm-3).
b)
Wa
— *VC ytt=hf (Foton)
Centra
rekombinacji
'-i-
'W
Rys. 7.2. Generacja i rekombinacja par nośników: a) generacja cieplna; b) rekombinacja bezpośrednia, emisja fotonów; c) rekombinacja pośrednia, emisja fononów
3. Rekombinacja, czyli anihilacja par nośników, jest procesem równoczesnym z generacją. W stanie równowagi termodynamicznej szybkość rekombinacji R0 jest równa szybkości generacji, R„ = G„. Podczas rekombinacji energia elektronu powracającego do pasma walencyjnego ulega zmniejszeniu. Nadwyżka energii zamienia się albo na drgania cieplne sieci krystalicznej (fonony), jeśli jest to rekombinacja pośrednia — typowa dla Ge i Si, albo zostaje wypromicniowana na zewnątrz (fotony), jeśli jest to rekombinacja bezpośrednia — typowa dla GaAs.
W półprzewodniku samoistnym (bezdomieszkowym — ang. intrinsic, wskaźnik dolny i), z zasady neutralności makroskopowej wynika, że nt — p;, więc
n, Pi = nf = const (7.1)
w danej temperaturze i dla danego półprzewodnika.
Obliczanie koncentracji nośników dokonuje się za pomocą statystyki Fermie-go-Diraca. Opisuje ona prawdopodobieństwo obsadzenia stanów możliwych (podpozio-mów energetycznych w paśmie). Ważnym pojęciem jest poziom (energetyczny) Fermiego Wpi; z definicji jest to wartość energii, przy której dokładnie połowa stanów jest obsadzona (prawdopodobieństwo P = 0,5). Poziom WFi znajduje się w pobliżu środka pasma zabronionego
(7.2)
Wc+Wv _ w9
i, przy braku zewnętrznego pola elektrycznego, jest jednakowy w każdym punkcie półprzewodnika.
W praktyce technicznej stosuje się prostszą statystykę Boltzmanna i wyznacza koncentrację nośników ni = p, w stanie równowagi termodynamicznej ze wzoru
w którym: C — stała materiałowa; k — stała Boltzmanna; T— temperatura bezwzględna.
Półprzewodniki samoistne nie są szeroko stosowane w technice, gdyż ze wzoru (7.3) wynika silna zależność koncentracji od temperatury. W celu umożliwienia praktycznego wykorzystania półprzewodnika stosuje się domieszkowanie. Ze wzoru 7.3 wynika też, że stosowanie materiałów o większej Wg zmniejsza ich wrażliwość temperaturową — dlatego german Ge (0,67 eV) ustąpił miejsca krzemowi Si (1,12 eV). Dalsze rozważania dotyczą najważniejszego technicznie materiału — krzemu monokrystalicznego.
71.1.2. Półprzewodniki domieszkowane
Uwaga: Liczba atomów Si w-jednostce objętości Ns, - 5 -102: cm-3, natomiast n,= = !010 cm-3 w T= 300 K (wartości przybliżone) [7.7].
Domieszki płytkie są to obce atomy, w których poziomy energetyczne są bliskie krawędzi Wc albo Wt krzemu, a koncentracje rzędu 10l4-M0lS* cm-3 (rys. 7.3). Koncentracje domieszek płytkich są o kilka rzędów większe od koncentracji krzemu samoistnego n,.
nd^=0.04SeV
1J ///////////?x/k// w ^
l V "C
-~*d ______
-©•—El- Wa
-"i
s'!.vN\N\N\NNN)ANNK'r
■/////////////.
nWwwwww'-
Wzrost Aaf£ć—=»
«a [(.&)■
=0,0276'/,
Rys. 7.3. Domieszkowanie: a) poziomy energetyczne typowych domieszek w Si: donoru — bor B, akceptora — arsen As; b) jonizacja domieszek: O ruchomy nośnik, □ — nieruchomy nośnik, c) zmiana poziomu Fermiego WF w funkcji koncentracji domieszek d) zmiana poziomu Wy w funkcji temperatury’ (domieszka donorowa)
Akceptory — domieszki z grupy III o koncentracji N„, np. bor B; odległość poziomu energetycznego od krawędzi pasma walencyjnego krzemu Wa = 0,045 eV. Niewielka energia wzbudzenia wystarcza, aby słabo związany elektron walencyjny Si opuścił pasmo walencyjne, został przechwycony przez poziom domieszki (akceptacja — akceptor), pozostawiając w paśmie walencyjnym swobodną dziurę. Już w temperaturze 50h- 100 K praktycznie wszystkie akceptory są zjonizowane, w krzemie uzyskuje się koncentrację dziur Nd będących nośnikami swobodnymi ładunku dodatniego.
Donory—domieszki z grupy V o koncentracji Nd, np. As; odległość od krawędzi pasma przewodnictwa Wd = 0,027 eV. Jeden z pięciu elektronów domieszki łatwo przechodzi do pasma przewodnictw^ stając się elektronem swobodnym o koncentracji Nd (domieszka jest dawcą — donorem), dziura domieszki jest nieruchoma.
Nośniki większościowe to nośniki domieszkowe, gdyż Nd, Nd » n-t, p,. Nośniki generowane w samym krzemie to nośniki mniejszościowe.
Półprzewodnik skompensowany —jednocześnie domieszkowany akceptorami i donorami tak, że Nd - Nd oraz NaNd < nf; ma właściwości półprzewodnika samoistnego.
Domieszkować można cały obszar półprzewodnika lub jego części. Zależnie od rodzaju domieszki mówimy o obszarze przewodnictwa: typu n, typu p, typu samoistnego i*.
Równanie neutralności globalnej (makroskopowej) półprzewodnika domieszkowanego
qin~p) = q(Nd-NJ (7.4)
W literaturze naukowej spotyka się oznaczenie typu przewodnictwa pisane dużą literą N, P> I.