16
16
Rys. 7. Trójkąt sferyczny z umiejscowioną w nim osią z i zaznaczonymi odległościami kątowymi od jego wierzchołków
V celu określenia symbolu krystalograficznego jednej z osi układu \ zewnętrznego (np. x) należy przy obrocie projekcji dokonać również obrotu bieguna tej osi, a następnie po dopasowaniu projekcji do projekcji standardowej nadać jej. odpowiednie wskaźniki z projekcji standardowej i lub określić, w pobliżu jakich kierunków oś ta leży.
Ogólny tok postępowania dla wyznaczenial o-j rientacji monokryształu tą techniką jest podobny do przypadku posłu-J giwania się'techniką na przejście promieni. Po wykonaniu lauegramu wykonuje się na jego podstawie projekcję stereograficzną odbijających płaszczyzn i przeprowadza ich wskaźnikowanie.•Po' dokonaniu tych czynności opisuje się zależności kątowe między płaszczyznami i kierunkami krystalograficznymi monokryształu a zewnętrznym układem współrzędnych x y z dopasowanym do Jego zewnętrznych kształtów. Stąd
też omawiając metodyką wyznaczania orientacji techniką lanegramów •.wrotnych, ograniczono aią głównie do podania pech różniących ją od techniki na przejście promieni.
Techniką promieni zwrotnych rejestruje się refleksy dyfrakcyjne o kątach 9>45°» w większości uzyskiwane promieniowaniem o długości fali 0,8-1,2 A (zeszyt 3). W celu zmniejszenia promieniowania fluorescencyjnego wpływającego na podwyższenie tła rentgenogramów korzysta się z lamp rentgenowskich o anodach Cu, Co, Fe pracujących przy niewysokim napięciu 20-30 kV.
Błona fotograficzna o wymiarach 100 x 100 mm jest ustawiona pro-ntopadle do pierwotnej wiązki promieni w odległości 30-50 mm od monokryształu (rys. 8). Dla oznakowania powierzchni błony zwróconej ku monokryształowi obcina się zwykle jej prawy górny róg, patrząc na iiłonę od strony monokryształu, czyli przeciwnie do biegu pierwotnej
Hys. 8. Usytuowanie monokryształu K, błony fotograficznej F i pier wolnej wiązki promieni X w zwrotnej technice'Lauego: i płaszczyzna odbijająca, K25 - normalna do płaszczyzny P,
K l< - promień odbity