monitorowania zmian ilości substancji osadzanych na powierzchni kryształu poprzez pomiar zmiany jego częstotliwości rezonansowej.
Bardzo praktyczny związek: Am/m = c x Af/f czyli Am = c’ x Af (c - stała, m - masa rezonatora kwarcowego, f - częstotliwość rezonansowa rezonatora kwarcowego) zachodzi dla Am/m < 0.01 i przy stałej temperaturze.