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1’automobile (Maclay, 1997), le transport ferroviaire (Terwiesch, Keller et Scheiben, 1999) et les convertisseurs de puissance (Graf et a/., 2008), pour n’en nommer que quelques-uns.

La simulation HIL ćchange de Finformation entre le simulateur et le systćme sous test sous formę de signaux de contróle de basses amplitudes. Des exemples concrets sont des signaux de temperaturę, des signaux MLI ou encore des signaux de contróle numćriques. Le systćme sous test est gćnćralement un contróleur tandis que la plateforme HIL contient les modćles ćlectriques ou mćcaniques du systćme k contróler. La Figurę 1.2 propose le schćma global d’une application HIL ou la plateforme en temps rćel est representće par un simulateur en temps rćel d’Opal-RT simulant un procćdć queiconque. Le systćme sous test est quant a lui dessinć comme une plaquette de dćveloppement integrant le contróleur du procćdć. L’information analogique ou numćrique est ćchangće par les entrćes/sorties sous formę de tensions ou de co uran ts.

L’utilitć d’une telle simulation provient du fait que le contróleur sous test est placć dans un environnement tout a fait semblable k son environnement rćel. De cette faęon, le bon fonctionnement de ce contróleur est vćrifić pour plusieurs cas de figurę implantes virtuellement. Le developpement est alors accćlćrć puisque les probabilitćs de fonctionnement dans le montage rćel sont augmentćes.

Systćme sous test

Simulateur en temps rćel

Plateforme HIL

ContrMeur

Esza _•

; .

—

Op^rr - Wand* 3U

Entrśes du modóle/ Interface usager

Figurę 1.2 Simulation HIL avec signaux de basse tension.