Rodzaj zajęć: wykład + laboratorium

Termin zajęć: zgodnie z rozkładem; wykł.

sala 206

Prowadzący wykłady: dr inż. Jerzy

Arendarski
doc. dr inż.
Jan Tomasik

Tryb zaliczenia przedmiotu:

Zaliczenie wykładu (dwa kol.: 40

pkt.)

+ laboratorium:

40 pkt.

Uzyskanie powyżej 50% punktów (w sumie) jest podstawą do

zaliczenia przedmiotu.

Z każdej części wymagane minimum 50%

PROGRAM RAMOWY

PRZEDMIOTU

 Warunki zachowania jednolitości miar

 Walidacja aparatury pomiarowej a zachowanie jednolitości miar

 Rola administracji państwowej w zakresie zapewnienia jednolitości miar

 Metrologia prawna – wymagania norm i innych przepisów krajowych i europejskich

 Przypomnienie podstawowych właściwości metrologicznych i

eksploatacyjnych

przyrządów pomiarowych

PROGRAM RAMOWY

PRZEDMIOTU (c.d.)

 Obszar badań atestacyjnych:

 wzorcowanie,

 sprawdzanie,

 legalizacja.

 Zasady zarządzania wyposażeniem pomiarowym w firmie

(laboratorium):

 laboratoria pomiarowe w polskim systemie badań i

certyfikacji,
 wymagania dotyczące nadzoru nad wyposażeniem

pomiarowym w firmie,
 wybrane procedury systemu zarządzania jakością w firmie:

 Postępowanie z wyposażeniem pomiarowym i

badawczym,

 Pomieszczenia, środowisko badań i jego

monitorowanie,

 Opracowywanie i dokumentowanie wyników badań,

PROGRAM RAMOWY

PRZEDMIOTU (c.d.)

 Ogólne zasady opracowywania instrukcji

sprawdzania/wzorcowania przyrządów pomiarowych

 Przykłady sprawdzania przyrządów pomiarowych i przykładowe instrukcje

sprawdzania

 Przykłady opracowywania wyników badania przyrządów i

ich prezentacja w formie stosownych świadectw

 Niepewność pomiaru w atestacji wyposażenia pomiarowego:

 podstawowe zasady wyznaczania niepewności pomiarów,

 procedura wyznaczania niepewności pomiaru,

 wiarygodność i użyteczność wyniku pomiaru,

LITERATURA

Tomasik J. I inni: Sprawdzanie przyrządów do pomiaru

długości i kąta, Oficyna
Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, W-wa 2009

2. Arendarski J.: Niepewność pomiarów, Oficyna Wydawnicza
Politechniki
Warszawskiej, Warszawa 2006

Piotrowski J., Kostyrko K

.: Wzorcowanie aparatury pomiarowej,

PWN, W-wa 2000

4. Międzynarodowy słownik podstawowych i ogólnych
terminów metrologii,
GUM, Warszawa 1996

Ustawa Prawo o miarach z dnia 11 maja 2001 roku (Dz. U.

Nr 63, poz. 636,
z późniejszymi zmianami)

Ustawa o systemie oceny zgodności (Dz. U. Z dnia 7

pażdziernika 2002 r.
Z późniejszymi zmianami)

5. PKN-ISO/IEC Guide 99: kwiecień 2010 „Międzynarodowy słownik metrologii.
Pojęcia podstawowe i ogólne oraz terminy z nimi związane”

PODSTAWOWE WŁAŚCIWOŚCI

PRZYRZĄDÓW POMIAROWYCH

 Przyrząd pomiarowy – urządzenie przeznaczone do wykonywania

pomiarów lub odtwarzania wielkości fizycznych, samodzielnie albo w
połączeniu z jednym lub z wieloma urządzeniami dodatkowymi.

 Zakres pomiarowy – zbiór wartości wielkości mierzonej, dla których

przyjmuje się, że błąd przyrządu pomiarowego jest zawarty w
określonych granicach.
 Zakres wskazań – zbiór wartości ograniczony skrajnymi

wskazaniami. W przypadku wskazań analogowych zbiór ten może być
nazywany zakresem podziałki.
 Wartość działki elementarnej – różnica między wartościami

wielkości mierzonej odpowiadającymi dwóm kolejnym wskazom. Wartość
działki elementarnej wyraża się w jednostkach oznaczanych na podziałce.

 Rozdzielczość – najmniejsza różnica wskazań urządzenia

wskazującego, która może być zauważona w wyraźny sposób. Dla
cyfrowego urządzenia wskazującego jest to różnica wskazań
odpowiadająca zmianie o jednostkę najmniej znaczącej cyfry.

PODSTAWOWE WŁAŚCIWOŚCI

PRZYRZĄDÓW POMIAROWYCH

 Czułość – iloraz przyrostu odpowiedzi przyrządu przez odpowiadający

mu przyrost sygnału wejściowego.







 Dokładność przyrządu pomiarowego – właściwość przyrządu

pomiarowego dawania odpowiedzi bliskich wartości prawdziwej.
Pojęcie dokładność ma charakter jakościowy.





 Niepoprawność wskazań – błąd systematyczny wskazania przyrządu.

 Rozrzut wskazań przyrządu pomiarowego – zmienność wyników

pomiaru spowodowana przyrządem pomiarowym w serii pomiarów tej
samej wielkości.

ΔW





 Błąd wskazania przyrządu pomiarowego – różnica między

wskazaniem przyrządu pomiarowego a wartością prawdziwą odpowiedniej
wielkości wejściowej

PODSTAWOWE WŁAŚCIWOŚCI

PRZYRZĄDÓW POMIAROWYCH

 Powtarzalność (ang. repeatability) wyników pomiarów – stopień

zgodności wyników pomiarów tej samej wielkości mierzonej,
wykonywanych w tych samych warunkach pomia-rowych (warunkach
powtarzalności).
 Odtwarzalność (ang. reproducibility) wyników pomiarów – stopień

zgodności wyników pomiarów tej samej wielkości mierzonej w
zmienianych warunkach pomiarowych.
 Histereza pomiarowa – błąd odwracalności charakteryzujący się

różnicą wskazań przyrządu pomiarowego, gdy tę samą wartość wielkości
mierzonej (na wejściu przyrządu) otrzymuje się raz przy zwiększaniu
wartości wielkości mierzonej, drugi raz – przy jej zmniejszaniu.

 Błędy graniczne dopuszczalne przyrządu pomiarowego –

wartości skrajne błędów, dopuszczone przez warunki techniczne lub
wymagania, dotyczące danego przyrządu pomiarowego.

PODSTAWOWE WŁAŚCIWOŚCI

PRZYRZĄDÓW POMIAROWYCH

 Warunki odniesienia – warunki użytkowania przewidziane do

badania przyrządu pomiarowego lub do wzajemnego porównywania
wyników pomiarów. Warunki odniesienia zawierają na ogół wartości
odniesienia lub zakresy odniesienia dla wielkości wpływających,
oddziaływujących na przyrząd pomiarowy.

 Neutralność przyrządu pomiarowego – właściwość przyrządu

pomiarowego polegająca na tym, że nie oddziaływuje on na wielkość
mierzoną.

 Stałość, stabilność – zdolność przyrządu pomiarowego do

utrzymywania stałych w czasie charakterystyk metrologicznych.

 Pełzanie, dryft – powolna zmiana charakterystyki metrologicznej

przyrządu pomiarowego.