Piguła na BSiWM

Badanie twardości

Twardość – miara oporu, jaki wykazuje ciało przeciw lokalnym odkształceniom
Brinella – metalowa kulka (stosunek średnicy kulki do krateru)
Vickersa – ostrosłup o podstawie kwadratu ( długość przekątnych wgłębnika i odcisku)

Knoopa – ostrosłup o podstawie rombu \

Mikrotwardość – Twardość, której pomiary wykonywane są przy niewielkich obciążeniach

Statyczne rozciąganie – przeprowadzamy na zrywarkach

Granica plastyczności – naprężenie rozciągające w próbce po osiągnięciu którego następuje wyraźny wzrostu wydłużenia próbki bez wzrostu a nawet spadku obciążenia

Umowna granica sprężystości – naprężenie wywołujące wydłużenie próbki o 0.05% długości pomiarowej

Względne przewężenie – iloraz zmniejszania powierzchni przekroju poprzecznego próbki w miejscu przerwania do powierzchni jej przekroju pierwotnego

Materiały ciągliwe – wykazują dużą zdolność na odkształcenia trwałe jednoosiowe

Materiały kruche - ulegają zniszczeniu przy małych odkształceniach trwałych jednoosiowych

Próba udarności – złamanie jednym uderzeniem młota wahadłowego próbki z karbem i pomiarze jej energii złamania.

Próbki – z rowkiem w kształcie V oraz U

Metalogram – wykres uwidoczniający materiały zgodne z ich fizycznymi właściwościami: twardością i ciągliwością

Przygotowanie zgładów metalograficznych
-Cięcie/Wycinanie

-Inkludowanie ( na zimno lub na gorąco)

- Szlifowanie (Tarcze szlifierskie / Papier ścierny)

-Polerowanie

-Trawienie (Celem ujawnienia struktury materiału oraz selektywnej identyfikacji składników)

Obserwacja w polu jasnym – promienie po przejściu przez obiektyw padają na płaszczyznę próbki prostopadle do osi optycznej mikroskopu, a promienie odbite wpadają z powrotem do obiektywu.

Obserwacja w polu ciemnym – skierowanie promieni świetlnych na powierzchnię zgładu z pominięciem soczewki obiektywu. Oświetlenie takie daje odwrotny kontrast niż w polu jasnym.

Obserwacja w polu spolaryzowanym(ukośnym) – ujawnia różnice wysokości szczegółów strukturalnych próbki.

Mikroskopy proste – obiektywy osadzone są nad próbką znajdującą się na stoliku roboczym

Mikroskopy odwrócone – górą częścią roboczą jest stolik, a uchwyt rewolwerowy z obiektywami mieści się pod stolikiem

Budowa mikroskopu świetlnego:
-Podstawa

-Rama

-Urządzenie oświetlające

-Kondensor

-Stolik przedmiotowy

-Uchwyt rewolwerowy

-Obiektywy

-Tubus

-Okulary

Budowa mikroskopu elektronowego
-Działo elektronowe – wytwarza wiązkę elektronów

-Kolumna – przyspiesza i ogniskuje wiązkę elektronów

-Komora próbki – w niej następuje interakcja elektronów z próbką

-Detektory (zestaw) – obierają sygnały emitowane przez próbkę

-System – przetwarza sygnały na obraz

Abberacje – wady optyczne (komatyczna, sferyczna, chromatyczna, astygmatyczna)

Rozdzielczość w mikroskopie SEM zależy od średnicy wiązki elektronów – im jest ona węższa tym rozdzielczość jest większa.

Kontrast w SEM:
-Spowodowany zróżnicowaną topografią powierzchni próbki

-Kontrast materiałowy

-Kontrast napięciowy

-Kontrast magnetyczny

Kontrast zależy od energii elektronów oraz od rodzaju zastosowanych detektorów

Elektrony wstecznie rozproszone – elektrony pierwotne wnikają w powierzchnię próbki na niewielką głębokość i na wskutek sprężystych zderzeń, część z nich wraca powrotem.

Elektrony wtórne – powstają na wskutek niesprężystych zderzeń wiązki elektronów pierwotnych z elektronami powłoki badanego elementu

Mikroanaliza rentgenowska – metoda badawcza oznaczania niejednorodności składu chemicznego ciał stałych

Analiza ilościowa – określenie ilościowe składników w danym związku chemicznym bądź mieszaninie

Analiza ilościowo liniowa – określenie zmian ilości danego pierwiastka wzdłuż danej linii

GDOS – spektrometr wyładowania jarzeniowego

AFM – mikroskop oddziaływań międzyatomowych – działanie polega na pomiarze siły oddziaływania mikroskopijnej igły z powierzchnią próbki podczas jej skanowania

Kalotest – Badanie grubości powłok - polega na pomiarze wielkości krateru powstałego w wyniku wytarcia powierzchni próbki przez stalową kulkę o średnicy 20[mm]. Pomiędzy kulkę a próbkę podaje się zawiesinę diamentową.

Schratch Test – Badanie przyczepności powłok – przemieszczenie diamentowego wgłębnika po powierzchni ze wzrastającą siłą obciążenia.

Pin-on-Disc – Do badanej powierzchni przykłada się przeciw-próbkę, która ma kształt walca lub kulki. W wyniku działa siły obciążającej oraz rotacyjnej następuje uszkodzenie powierzchni, którą się analizuje.