59 (244)

116 Krzysztof Widanki

Jeśli oprócz innego niż 100x powiększenia używa się okręgu o innej ś-ednicy niż 79,8 mm, to wzór na liczbę ziaren na I mm² szlifu N_A określa się z zależności

gdzie D - rzeczywista średnica zastosowanego okręgu w mm (po uwzględnieniu powiększenia).

W drugim wariancie metody Jeffriesa obliczenia wykonuje się na powierzchni kwadratu lub prostokąta o znanej rzeczywistej powierzchni w mm² (po uwzględnieniu powiększenia mikroskopu). Pozostałe czynności wykonuje się podobnie jak w pierwszym wariancie. Liczbę ziaren objętych czworokątem pomiarowym oblicza się z zależności

N_r = N_w + 0,5//. +1

gdzie: //»■ - liczba ziaren leżąca wewnątrz czworokąta pomiarowego, N, - liczba ziaren przecięta jego bokami bez czterech ziaren narożnych.

Średnią liczbę ziaren na jednostkę powierzchni NA otrzymuje się przez podzielenie otrzymanej liczby ziaren NT przez rzeczywistą powierzchnię czworokąta pomiarowego.

Obliczenia w obu wariantach należy przeprowadzać w kilku polach równomiernie rozmieszczonych na powierzchni szlifu, tak aby liczba ziaren obliczonych mieściła się w przedziale od 200 do 250 ziaren.

Metodę Jeffriesa należy' stosować do struktur jednofazowych o równoosiowym ziarnie.

8.4 J. Metoda punktów węzłowych

Metoda punktów węzłowych opiera się na zależności między liczbą punktów węzłowych (punktów styku ziaren) a liczbą ziaren. Punkt węzłowy jest śladem na płaszczyźnie zgładu krawędzi trzech stykających się ziaren. Zależność tę można wyprowadzić po przyjęciu, że w punktach węzłowych stykają się trzy płaskie ziarna oraz że po zastąpieniu linii granic ziaren prostymi otrzymuje się układ wielokątów wypukłych. Dla takich założeń można wykazać, że liczba ziaren A'_r na powierzchni A jest o połowę mniejsza niż liczba punktów węzłowych P, znajdujących się na tej powierzchni

Liczba ziaren na jednostkę powierzchni N_A

Gdy na powierzchni szlifu występują takie punkty węzłowe, w których stykają się nie trzy, a cztery ziarna, wówczas należy je liczyć podwójnie, ponieważ w tym przypadku dwa punkty węzłowe są położone bardzo blisko siebie (poniżej zdolności rozdzielczej mikroskopu).

Metodę punktów węzłowych można stosować do struktur jednofazowych o rów-noosiowym ziarnie.

8.4.4. Metoda planimetryczna

Najdokładniejszą metodą określania średniej liczby płaskich ziaren struktury jednofazowej na powierzchni jednostkowej Na jest metoda planimetryczna. W metodzie tej za pomocą planimetru należy zmierzyć powierzchnię jednej lub kilku grup ziaren, a następnie policzyć ziarna, które na niej się znajdują. Dzielimy całkowitą liczbę ziaren znajdującą się na splanimetrowanej powierzchni przez rzeczywistą powierzchnię (uwzględniającą powiększenie) wyrażoną w mm⁷, wówczas otrzymujemy średnią liczbę ziaren na powierzchni jednostkowej (rys. 8.5).

Rys. 8.5. Metoda planimetryczna określania wielkości /jama

Aby otrzymana średnia liczba ziaren N_A była reprezentatywna, należy wykonać pomiary na mikrofotografiach w kilku miejscach rozłożonych równomiernie na badanej powierzchni.

8.5. Kształt i krzywizna powierzchni cząstek 8.5.1. Kształt cząstek i metody jego określania

Kształt cząstek (ziaren) jest ważnym wskaźnikiem oceny procesów zachodzących w strukturze oraz wzajemnego oddziaływania faz, i jako jeden z ważniejszych parametrów struktury ma bezpośredni wpływ na właściwości materiału. W strukturze ma-