4640480882

46 M. SIKORSKI

cji, można wyznaczyć wykorzystując równanie (1). Istnieje kilka metod prowadzących do rozwiązania tego równania i wyznaczenia parametrów funkcji opisującej rzeczywisty zanik natężenia fluorescencji, I(t). Nie ma jednak obecnie ogólnej metody analitycznego określenia / (t) na podstawie wyznaczonych doświadczalnie wartości D (f) i £ (t). W każdej z metod wyznaczania parametrów I(t) trzeba jawnie założyć postać tej funkcji. Stosowanymi w praktyce metodami wyznaczania parametrów I(t) są:

—    nieliniowa metoda najmniejszych kwadratów rozwikłania splotu przez splot [1-3, 8, 13, 14],

—    metoda transformacji Fouriera [1—3, 15J,

—    metoda momentów [1 — 3, 16],

—    metoda funkcji modulacyjnych [1—3, 13, 17],

—    metoda transformacji Laplace’a [1 — 3, 13],

—    metoda szeregów wykładniczych [1, 3, 13],

—    metoda powierzchni fazowej [1],

—    metoda różnicowa [1].

Pominięto w tym wyszczególnieniu tzw. analizę globalną [18 — 20], która zasługuje niewątpliwie na uwzględnienie, nie była jednak nigdy stosowana do analizy krzywych zaniku, w których uwzględniano tzw. efekt przejściowy.

Z porównania tych metod wynika, że nieliniowa metoda najmniejszych kwadratów rozwiązywania splotu przez splot jest najbardziej uniwersalna, daje najlepsze rezultaty i jest najczęściej stosowana [1,8, 13, 21, 22]. Parametry I (t) można wyznaczyć z równania (1), jeżeli wcześniej uzyska się pewne informacje o funkcji aparaturowej £ (t). Pokrótce omówię cztery metody pozwalające na wyznaczenie wartości liczbowych funkcji aparaturowej, £(/), lub jak w wypadku ostatniej z omawianych tu metod wyeliminowanie jej z dalszych obliczeń prowadzących do wyznaczenia parametrów I(t). Metodami tymi są: CST — channel shift techniąue, PST — pseudoscatterer techniąue, HPSMT — excitation pulse-shape mimie techniąue, DFCM — delta furietion corwolution method (metoda ta nazywana jest także referetice corwolution method lub F/F decotwolution method). W literaturze, np. w pracach [1, 13, 15, 21 28], omawiane są też inne metody rozwiązywania równania (1), przedstawienie wszystkich metod wykracza jednak znacznie poza ramy tego omówienia.

W celu wyznaczenia wartości liczbowych funkcji aparaturowej, E(t), w metodzie CST wykorzystuje się zjawisko rozpraszania światła. Trzy następne metody to tzw. metody „mimie” (mimie techniąue), ich omówienie i wzajemne porównanie przedstawiono m.in. w pracach [10, 29 31]. W metodach określanych wspólnie jako metody „mimie” zakłada się, że dla związku, który dalej będziemy nazywali związkiem wzorcowym lub krótko wzorcem, znana jest funkcja opisująca rzeczywisty zanik natężenia fluorescencji i znane są parametry tej funkcji. Ostatni warunek nie jest warunkiem koniecznym, ułatwia on jednak bardzo dalsze obliczenia. Jako wzorce wykorzystywane mogą być rozmaite związki wykazujące mierzalną fluorescencję, zawsze jednak powinny one mieć dobrze określony kształt rzeczywistej funkcji zaniku fluorescencji. Po-