Laboratorium Metrologii
Ćwiczenie 4.
Statyczna obróbka wyników pomiarowych
Wydział Elektryczny
Elektrotechnika
Sem.III, Grupa 2,
sekcja 4
Patryk Kuźma
Filip Skoczylas
Marcin Spannbauer
Marcin Mucha
Cel ćwiczenia:
Ćwiczenie ma na celu zapoznanie się z teoretycznymi i praktycznymi podstawami statycznej obróbki wyników pomiarowych.
Wstęp:
Wyniki pomiarów wykonanych w seriach o dużej liczebności nie umożliwiają łatwego wyciągania wniosków na temat całek populacji, którą reprezentują serie pomiarowe. Dlatego dąży się do określenia minimalnej liczebności serii, która będzie reprezentatywna, czyli której parametry będą takie same jak całej populacji. Z drugiej strony, dąży się do obliczenia na podstawie serii takich parametrów, które będą najlepiej charakteryzować całą populację. Narzędzi do takiej kompresji wyników pomiarów dostarcza statystyka matematyczna, a zagadnienie poszukiwania parametrów charakteryzujących całą populację na podstawie serii, nazywane jest estymacją.
Do najczęściej obliczanych statystyk z serii należą:
wartość średnia - obliczana jako średnia arytmetyczna jest estymatorem zgodnym, nieobciążonym i najefektywniejszym wartości oczekiwanej:
dominanta - jest wartością najczęściej powtarzającego się w serii wyniku pomiaru,
mediana (wartość środkowa) - jest środkową wartością uporządkowanych rosnąco (szereg rozdzielczy) wyników serii. Gdy liczebność serii jest wyrażona liczbą nieparzystą medianę można określić bezpośrednio, natomiast dla serii o parzystej liczbie elementów medianę wylicza się jako wartość średnią dwóch elementów środkowych:
,
) dla n
parzystych,
statystyki pozycyjne - są określane jako minimalna i maksymalna wartość wyników w danej serii, statystyki te są oznaczane jako xmin i xmax,
wariancja empiryczna jest obliczana dla serii długich (n
30)
jako suma kwadratów odchyleń poszczególnych wyników serii od
wartości średniej, podzielona przez liczbę wyników pomiarów:
Dla serii krótkich (n
oblicza
się wariancję empiryczną skorygowaną:
odchylenie standardowe (średniokwadratowe) - podobnie jak wariancja jest miarą rozproszenia wyników pomiarów w serii, oblicza się jako pierwiastek kwadratowy z wariancji empirycznej nieskorygowanej:
.
Przebieg ćwiczenia:
Pierwszym
krokiem było wybranie przyrządu pomiarowego jakim będziemy mierzyć
zadaną wielkość a następnie ustawienie odpowiedniego zakresu
pomiarowego na tymże mierniku. Następnie należało wybrać losowo,
bez powtórzeń z całej populacji kondensatorów serie: 50-, 30-,
10-elementową i dla każdej z serii wykonać pomiar pojemności. Dla
każdej próby wyznaczono wartość średnią, dominantę, medianę,
wartość minimalną i maksymalną, wariancję empiryczną oraz
odchylenie standartowe. W następnym kroku dokonano estymacji
punktowej i przedziałowej. Na koniec przedstawiono graficznie za
pomocą histogramu oraz krzywej skumulowanej rozrzut wyników w
otrzymanych seriach pomiarowych.
Schematy pomiarowe:
Rys.1. Schemat pomiarowy
Tabele pomiarowe:
Tab.1. Wyniki pomiarów populacji kondensatorów
Lp. |
Próba 1 |
Próba 2 |
Próba 3 |
C[pF] |
C[pF] |
C[pF] |
|
1 |
3157 |
3160 |
3156 |
2 |
3155 |
3159 |
3156 |
3 |
3156 |
3159 |
3155 |
4 |
3155 |
3158 |
3154 |
5 |
3154 |
3159 |
3155 |
6 |
3153 |
3159 |
3153 |
7 |
3155 |
3158 |
3154 |
8 |
3153 |
3158 |
3154 |
9 |
3154 |
3159 |
3152 |
10 |
3154 |
3160 |
3153 |
Średnia |
3154,6 |
3158,9 |
3154,2 |
Dominanta |
3155 |
3159 |
3154 |
Mediana |
3154,5 |
3159 |
3154 |
Minimum |
3153 |
3158 |
3152 |
Maksimum |
3157 |
3160 |
3156 |
Wariancja empiryczna skorygowana |
1,6 |
0,54 |
1,73 |
Odchylenie standardowe |
1,26 |
0,74 |
1,32 |
Tab.2. Wyniki pomiarów populacji kondensatorów serie: 50-, 30-, 10-elementową
Lp |
C[pF] |
C[pF] |
C[pF] |
1 |
3160 |
3165 |
3154 |
2 |
3166 |
3164 |
3159 |
3 |
3163 |
3156 |
3161 |
4 |
3178 |
3159 |
3156 |
5 |
3162 |
3157 |
3156 |
6 |
3166 |
3157 |
3154 |
7 |
3160 |
3161 |
3156 |
8 |
3162 |
3154 |
3158 |
9 |
3164 |
3162 |
3159 |
10 |
3163 |
3164 |
3158 |
11 |
|
3161 |
3159 |
12 |
3164 |
3163 |
|
13 |
3167 |
3165 |
|
14 |
3161 |
3160 |
|
15 |
3158 |
3152 |
|
16 |
3161 |
3155 |
|
17 |
3156 |
3154 |
|
18 |
3161 |
3154 |
|
19 |
3165 |
3158 |
|
20 |
3155 |
3159 |
|
21 |
3162 |
3161 |
|
22 |
3162 |
3157 |
|
23 |
3159 |
3155 |
|
24 |
3162 |
3156 |
|
25 |
3159 |
3154 |
|
26 |
3155 |
3154 |
|
27 |
3154 |
3159 |
|
28 |
3156 |
3157 |
|
29 |
3161 |
3151 |
|
30 |
3158 |
3159 |
|
31 |
|
3153 |
|
32 |
3156 |
||
33 |
3157 |
||
34 |
3156 |
||
35 |
3159 |
||
36 |
3159 |
||
37 |
3158 |
||
38 |
3153 |
||
39 |
3157 |
||
40 |
3153 |
||
41 |
3156 |
||
42 |
3153 |
||
43 |
3161 |
||
44 |
3154 |
||
45 |
3155 |
||
46 |
3155 |
||
47 |
3156 |
||
48 |
3153 |
||
49 |
3153 |
||
50 |
3159 |
||
Średnia |
3164,4 |
3159,86 |
3156,58 |
Dominanta |
3160 |
3161 |
3159 |
Mediana |
3163 |
3161 |
3156 |
Minimum |
3160 |
3154 |
3151 |
Maksimum |
3178 |
3167 |
3165 |
Wariacja empirycna |
- |
12,67 |
8,82 |
Wariancja empiryczna skorygowana |
27,15 |
- |
- |
Odchylenie standardowe |
5,21 |
3,56 |
2,97 |
Wykresy:
Serię wyników pomiarów obarczonych rozrzutem przedstawiono graficznie na rysunkach ... w formie histogramu oraz krzywej skumulowanej. W tym celu należało:
uporządkować wyniki pomiarów dla danej serii według rosnących wartości, tworząc w ten sposób tak zwany szereg rozdzielczy:
podzielić cały otrzymany przedział xmin ... xmax
(gdzie: xmin=x1, xmax=xn)
na k podprzedziałów o równej szerokości
(gdzie: i=1,2, ... ,k):
tak aby w
każdym przedziale Δix
znajdowało się co najmniej kilka wyników z serii. Dla serii
długich (n
30)
liczbę przedziałów k można wyznaczyć w przybliżeniu na
podstawie empirycznego wzoru Sturgesa:
określić
wysokość słupka histogramu w każdym przedziale
,
która jest równa ilości wyników pomiarowych mi
o
wartościach z danego przedziału lub częstości wi
występowania
wyniku w tym przedziale:
określić
wartości rzędnych krzywej skumulowanej jako częstości
skumulowane vj
,
wyznaczane dla kolejnych przedziałów
,
jako sumy wcześniej obliczonych częstości wi
we wszystkich przedziałach znajdujących się na lewo od przedziału
dla którego jest obliczana częstość skumulowana:
gdzie: i=1,2,...,j dla j=1,2,...,k.
Rys.2. Histogram empirycznego rozkładu prawdopodobieństwa dla próby 1
Rys.3. Krzywa skumulowana dla próby 1
Rys.4. Histogram empirycznego rozkładu prawdopodobieństwa dla próby 2
Rys.5. Krzywa skumulowana dla próby 2
Rys.6. Histogram empirycznego rozkładu prawdopodobieństwa dla próby 3
Rys.7. Krzywa skumulowana dla próby 3
Rys.9. Histogram empirycznego rozkładu prawdopodobieństwa dla serii 10-elementowej
Rys.10. Krzywa skumulowana dla serii 10-elementowej
Rys.11. Histogram empirycznego rozkładu prawdopodobieństwa dla serii 30-elementowej
Rys.12. Krzywa skumulowana dla serii 30-elementowej
Rys.13. Histogram empirycznego rozkładu prawdopodobieństwa dla serii 50-elementowej
Rys.7. Krzywa skumulowana dla serii 50-elementowej
Rys.8. Porównanie tolerancji producenta z wyliczonym odchyleniem standartowym z próby 1, próby 2, próby 3
Rys.9. Porównanie tolerancji producenta z wyliczonym odchyleniem standartowym z serii 10, 30, 50 - elementowej
Wnioski:
Na podstawie wykonanego ćwiczenia, danych pomiarowych oraz wykonanych na ich podstawie obliczeń stwierdzam, że:
Najłatwiej zauważyć, że każdy z wykonanych pomiarów jest obarczony pewnym błędem oraz każda wykonana seria pomiarów wykazuje, że w danej populacji elementów występuje rozrzut. Mierzone wartości pojemności kondensatorów są inne niż wartość znamionowa odczytana z samego elementu, oraz znacznie różnią się między sobą, co widać porównując pierwszy i ostatni pomiar w każdej z kolumn tabeli.
Po obliczeniu parametrów dla każdej serii pomiarów tj. mediany, dominanty czy statystyk pozycyjnych widać jak przedstawiają się one dla różnych ilości wykonanych pomiarów. Wartość średnia jest najdokładniejsza dla największej ilości pomiarów w serii, również rozrzut najlepiej określimy mając więcej pomiarów.
Wszystkie wyznaczone parametry pozwalają scharakteryzować daną serię wyników, jednak najlepsze pojęcie dają ich graficzne przedstawienia tj. histogram oraz krzywa skumulowana. Są one tym dokładniejsze im ilość podprzedziałów jest większa, a co za tym idzie im więcej mamy wyników.
Porównanie tolerancji producenta z wyliczonym odchyleniem standartowym na rysunku 8 i 9 pokazuje, że im większa seria pomiarowa tym większe jest odchylenie standartowe.