Statystyczna obróbka pomiarów

Laboratorium Metrologii










Ćwiczenie 4.


Statyczna obróbka wyników pomiarowych


















Wydział Elektryczny

Elektrotechnika

Sem.III, Grupa 2,

sekcja 4

Patryk Kuźma

Filip Skoczylas

Marcin Spannbauer

Marcin Mucha








  1. Cel ćwiczenia:


Ćwiczenie ma na celu zapoznanie się z teoretycznymi i praktycznymi podstawami statycznej obróbki wyników pomiarowych.


  1. Wstęp:


Wyniki pomiarów wykonanych w seriach o dużej liczebności nie umożliwiają łatwego wyciągania wniosków na temat całek populacji, którą reprezentują serie pomiarowe. Dlatego dąży się do określenia minimalnej liczebności serii, która będzie reprezentatywna, czyli której parametry będą takie same jak całej populacji. Z drugiej strony, dąży się do obliczenia na podstawie serii takich parametrów, które będą najlepiej charakteryzować całą populację. Narzędzi do takiej kompresji wyników pomiarów dostarcza statystyka matematyczna, a zagadnienie poszukiwania parametrów charakteryzujących całą populację na podstawie serii, nazywane jest estymacją.

Do najczęściej obliczanych statystyk z serii należą:




,

) dla n parzystych,




Dla serii krótkich (n oblicza się wariancję empiryczną skorygowaną:



.


  1. Przebieg ćwiczenia:


Pierwszym krokiem było wybranie przyrządu pomiarowego jakim będziemy mierzyć zadaną wielkość a następnie ustawienie odpowiedniego zakresu pomiarowego na tymże mierniku. Następnie należało wybrać losowo, bez powtórzeń z całej populacji kondensatorów serie: 50-, 30-, 10-elementową i dla każdej z serii wykonać pomiar pojemności. Dla każdej próby wyznaczono wartość średnią, dominantę, medianę, wartość minimalną i maksymalną, wariancję empiryczną oraz odchylenie standartowe. W następnym kroku dokonano estymacji punktowej i przedziałowej. Na koniec przedstawiono graficznie za pomocą histogramu oraz krzywej skumulowanej rozrzut wyników w otrzymanych seriach pomiarowych.


  1. Schematy pomiarowe:

Rys.1. Schemat pomiarowy


  1. Tabele pomiarowe:


Tab.1. Wyniki pomiarów populacji kondensatorów

Lp.

Próba 1

Próba 2

Próba 3

C[pF]

C[pF]

C[pF]

1

3157

3160

3156

2

3155

3159

3156

3

3156

3159

3155

4

3155

3158

3154

5

3154

3159

3155

6

3153

3159

3153

7

3155

3158

3154

8

3153

3158

3154

9

3154

3159

3152

10

3154

3160

3153

Średnia

3154,6

3158,9

3154,2

Dominanta

3155

3159

3154

Mediana

3154,5

3159

3154

Minimum

3153

3158

3152

Maksimum

3157

3160

3156

Wariancja empiryczna skorygowana

1,6

0,54

1,73

Odchylenie standardowe

1,26

0,74

1,32

Tab.2. Wyniki pomiarów populacji kondensatorów serie: 50-, 30-, 10-elementową

Lp

C[pF]

C[pF]

C[pF]

1

3160

3165

3154

2

3166

3164

3159

3

3163

3156

3161

4

3178

3159

3156

5

3162

3157

3156

6

3166

3157

3154

7

3160

3161

3156

8

3162

3154

3158

9

3164

3162

3159

10

3163

3164

3158

11

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

3161

3159

12

3164

3163

13

3167

3165

14

3161

3160

15

3158

3152

16

3161

3155

17

3156

3154

18

3161

3154

19

3165

3158

20

3155

3159

21

3162

3161

22

3162

3157

23

3159

3155

24

3162

3156

25

3159

3154

26

3155

3154

27

3154

3159

28

3156

3157

29

3161

3151

30

3158

3159

31

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

3153

32

3156

33

3157

34

3156

35

3159

36

3159

37

3158

38

3153

39

3157

40

3153

41

3156

42

3153

43

3161

44

3154

45

3155

46

3155

47

3156

48

3153

49

3153

50

3159

Średnia

3164,4

3159,86

3156,58

Dominanta

3160

3161

3159

Mediana

3163

3161

3156

Minimum

3160

3154

3151

Maksimum

3178

3167

3165

Wariacja empirycna

-

12,67

8,82

Wariancja empiryczna skorygowana

27,15

-

-

Odchylenie standardowe

5,21

3,56

2,97


  1. Wykresy:


Serię wyników pomiarów obarczonych rozrzutem przedstawiono graficznie na rysunkach ... w formie histogramu oraz krzywej skumulowanej. W tym celu należało:





tak aby w każdym przedziale Δix znajdowało się co najmniej kilka wyników z serii. Dla serii długich (n 30) liczbę przedziałów k można wyznaczyć w przybliżeniu na podstawie empirycznego wzoru Sturgesa:





gdzie: i=1,2,...,j dla j=1,2,...,k.


Rys.2. Histogram empirycznego rozkładu prawdopodobieństwa dla próby 1


Rys.3. Krzywa skumulowana dla próby 1



Rys.4. Histogram empirycznego rozkładu prawdopodobieństwa dla próby 2

Rys.5. Krzywa skumulowana dla próby 2

Rys.6. Histogram empirycznego rozkładu prawdopodobieństwa dla próby 3

Rys.7. Krzywa skumulowana dla próby 3




Rys.9. Histogram empirycznego rozkładu prawdopodobieństwa dla serii 10-elementowej

Rys.10. Krzywa skumulowana dla serii 10-elementowej

Rys.11. Histogram empirycznego rozkładu prawdopodobieństwa dla serii 30-elementowej

Rys.12. Krzywa skumulowana dla serii 30-elementowej

Rys.13. Histogram empirycznego rozkładu prawdopodobieństwa dla serii 50-elementowej

Rys.7. Krzywa skumulowana dla serii 50-elementowej


Rys.8. Porównanie tolerancji producenta z wyliczonym odchyleniem standartowym z próby 1, próby 2, próby 3


Rys.9. Porównanie tolerancji producenta z wyliczonym odchyleniem standartowym z serii 10, 30, 50 - elementowej



  1. Wnioski:


Na podstawie wykonanego ćwiczenia, danych pomiarowych oraz wykonanych na ich podstawie obliczeń stwierdzam, że:


  1. Najłatwiej zauważyć, że każdy z wykonanych pomiarów jest obarczony pewnym błędem oraz każda wykonana seria pomiarów wykazuje, że w danej populacji elementów występuje rozrzut. Mierzone wartości pojemności kondensatorów są inne niż wartość znamionowa odczytana z samego elementu, oraz znacznie różnią się między sobą, co widać porównując pierwszy i ostatni pomiar w każdej z kolumn tabeli.

  2. Po obliczeniu parametrów dla każdej serii pomiarów tj. mediany, dominanty czy statystyk pozycyjnych widać jak przedstawiają się one dla różnych ilości wykonanych pomiarów. Wartość średnia jest najdokładniejsza dla największej ilości pomiarów w serii, również rozrzut najlepiej określimy mając więcej pomiarów.

  3. Wszystkie wyznaczone parametry pozwalają scharakteryzować daną serię wyników, jednak najlepsze pojęcie dają ich graficzne przedstawienia tj. histogram oraz krzywa skumulowana. Są one tym dokładniejsze im ilość podprzedziałów jest większa, a co za tym idzie im więcej mamy wyników.

  4. Porównanie tolerancji producenta z wyliczonym odchyleniem standartowym na rysunku 8 i 9 pokazuje, że im większa seria pomiarowa tym większe jest odchylenie standartowe.






Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
Statystyczna obróbka pomiarów
Cwiczenie 4 Statystyczna obróbka wyników pomiarowych
Cwiczenie 4 Statystyczna obróbka wyników pomiarowych
Cwiczenie 4 Statystyczna obróbka wyników pomiarowych
Statystyczne metody pomiarów
PRACA ZALICZENIOWA-pomiar dydaktyczny 2, OPIS STATYSTYCZNY WYNIKÓW POMIARU
Wykres do Badanie statystycznej czystości pomiarów, Sprawozdania - Fizyka
Atom- Badanie statystycznej czystości pomiarów(1), Sprawozdania - Fizyka
Opracowanie statystyczne wyników pomiarowych, UMED wojlek I rok, Biofizyka, Biofiza, nn, statystyka
ćwiczenie 1 - statystyka, TEMAT: OPRACOWANIE STATYSTYCZNE WYNIKÓW POMIAROWYCH
Lista H - obróbka pomiarów DCS, LISTA H - pomiary DCS, Zadanie 301
Statyczna obróbka pomiarów
Badanie statystycznej czystości pomiarów 1
1 Badanie statystyczne i zbiorowość statystyczna, podział cech statystycznych, skale pomiaru cech mi
Atom Badanie statystycznej czystości pomiarów 2
Badanie statystycznej czystości pomiarów s
Atom Badanie statystycznej czystości pomiarów
Badanie statystycznej czystości pomiarów (2)
Badanie statystycznej czystości pomiarów

więcej podobnych podstron