3329133224

3329133224



Numeryczne algorytmy tomografii rezystancji siatek rezystorów


m ,    f(G)


Rys. 3.3. Wartość funkcji celu w funkcji zmiennych (Gl0,Gn) dla siatki o rozmiarze 6x6 węzłów (40 elementów)



Rys. 3.4. Wartość funkcji celu w funkcji zmiennych (G)0,G33) dla siatki o rozmiarze 6x6 węzłów (40 elementów)


Rys. 3.5. Wartość funkcji celu w funkcji zmiennych (G’i2,G2g) dla siatki o rozmiarze 6x6 węzłów (40 elementów)

20



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
Numeryczne algorytmy tomografii rezystancji siatek rezystorów2. Rekonstrukcja konduktancji na podsta
Numeryczne algorytmy tomografii rezystancji siatek rezystorów Przyjmując, że węzły siatki są
Numeryczne algorytmy tomografii rezystancji siatek rezystorów2.2. Sformułowanie problemu W analizie
Numeryczne algorytmy tomografii rezystancji siatek rezystorów bezpośrednio z wymiaru wektorów Fi, or
Numeryczne algorytmy tomografii rezystancji siatek rezystorów współczynników macierzy A lub A 1. Lic
Numeryczne algorytmy tomografii rezystancji siatek rezystorów3. Algorytmy rekonstrukcji konduktancji
Numeryczne algorytmy tomografii rezystancji siatek rezystorów rozwiązanie. W przypadku algorytmów
Numeryczne algorytmy tomografii rezystancji siatek rezystorów Funkcję celu zdefiniowano w następując
Numeryczne algorytmy tomografii rezystancji siatek rezystorów i pobierany z węzła leżącego symetrycz
Numeryczne algorytmy tomografii rezystancji siatek rezystorów Taka definicja funkcji celu pozwala na
Numeryczne algorytmy tomografii rezystancji siatek rezystorów1. Wstęp Problematyka tomografii
Numeryczne algorytmy tomografii rezystancji siatek rezystorów takich, których właściwości elektryczn
Numeryczne algorytmy tomografii rezystancji siatek rezystorów W celu wykazania prawdziwości postawio
Numeryczne algorytmy tomografii rezystancji siatek rezystorów wskazano odwzorowania w jednoznaczny s
Scan0023 (8) 58 gdzie: U;, I* - odpowiednio napięcie i prąd ogniwa elementarnego przy obciążeniu rez
Precyzyjne druty rezystywne... Rys. 3. Wpływ czasu starzenia w temperaturze 413K (a) oraz liczby cyk
40 (51) 40Przyrządy diagnostyczne Rys. 11. Zastosowanie potencjometru do zmiany rezystancji  &n
228 (45) Rezystor Rys. 8.54. Kształty ścieżek przy korekcji rezystancji rezystorów nacinanych

więcej podobnych podstron