76 II. Parametryczne testy istotności
§ 2.3. TEST DLA WSKAŹNIKA STRUKTURY (PROCENTU)
Podstawowe wyjaśnienia
W badaniu statystycznym prowadzonym ze względu na cechę niemie® rzalną (jakościową) zachodzi czasem konieczność sprawdzenia hipotezy o wartości wskaźnika struktury populacji, tj. frakcji elementów wyróżnigW nych w populacji (lub po przemnożeniu przez 100 — procentu). Wskaźnik™! struktury p populacji generalnej może przyjąć wartość z przedziału (0,1).,. Hipotezę dotyczącą wartości wskaźnika struktury p można sprawdza® wieloma metodami (między innymi za pomocą analizy sekwencyjnej® W niniejszej książce omówiony będzie test dla wskaźnika struktury p dla przypadku dużej próby. Korzysta się bowiem wtedy z założenia, że wskaźM nik struktury z próby m/wma rozkłąd asymptotycznie normalny. Pozwalaj to na zbudowanie obszaru krytycznego w oparciu o rozkład normaln^H
Model. Populacja generalna ma rozkład dwupunktowy z parametrem pt tzn. frakcja elementów wyróżnionych w populacji jest p. Z populacji tej wylosowano niezależnie do próby dużą liczbę n elementów populacja (n>100). W oparciu o wyniki tej próby, należy zweryfikować hipotez® H0 : p— po wobec hipotezy alternatywnej Hx: p^Po, gdzie p0jest hipotety® czną wartością parametru p.
Test istotności dla tej hipotezy jest następujący. Obliczamy wskaźnik struktury z próby m/n, gdzie m jest liczbą elementów wyróżnionych znal^H zioną w próbie. Następnie obliczamy wartość statystyki
m
gdzie 5o = l-Po*
Statystyka ta ma przy założeniu prawdziwości hipotezy H0 rozkład asymptc* tycznie normalny N(0,1). Z tablicy rozkładu normalnego N(0,1) zna* dujemy następnie taką krytyczną wartość ua> by spełniona była równoM P{|U|>«(4}=a (por. rys. 4, str. 57). Zbiór określony nierównością w na*j wiasie jest dwustronnym obszarem krytycznym testu, tzn. gdy z porówna®
obliczonej wartości u z wartością krytyczną ua wyniknie, że |w| ^ ua, wówczas hipotezę H0 odrzucamy na korzyść alternatywy Hx. Natomiast gdy zajdzie nierówność \u\<uai nie ma podstaw do odrzucenia hipotezy H0.
Uwaga. Podobnie jak w innych testach, dwustronnego obszaru krytycznego określonego nierównością \u\^ua używamy tylko wtedy, gdy hipoteza alternatywna jest postaci Hx: Dla hipotezy alternatywnej
postaci Hx: p<p0 obszar krytyczny w omawianym teście istotności buduje się lewostronnie, tzn. taka wartośćuajest wartością krytyczną1, że P{U^ua}= =a. Obszar krytyczny jest wtedy określony przez nierówność t/<wa. Wartość wa jest wtedy oczywiście ujemna. Natomiast dla hipotezy alternatywnej postaci Hy\ p>Po obszar krytyczny w tym teście buduje się prawo-stronnie, tzn. jest on określony nierównością U^ua. Wartość krytyczną ux odczytuje się wtedy z tablicy rozkładu N(0, 1) w taki sposób, by spełniona była równość P{U^uk}=cł (por. rys. 6, str. 58).
Przykład. Wysunięto hipotezę, że wadliwość produkcji pewnego podzespołu w aparatach radiowych wynosi 10%. W celu sprawdzenia tej hipotezy wylosowano niezależnie próbę 100 podzespołów i otrzymano w niej 15 podzespołów wadliwych. Na poziomie istotności a=0,05 zweryfikować tę hipotezę.
Rozwiązanie. Z treści zadania wynika, że w próbie otrzymano
m
n
=0,15 = 15%
wadliwych podzespołów. Obszar krytyczny testu można zbudować tu dwustronnie.
Formalnie pisząc, stawiamy hipotezę H0 : y; = 0,l wobec hipotezy alternatywnej Hx : p #0,1. Z tablicy rozkładu normalnego N(0,1) odczytujemy taką wartość wa, by P(|E/j>««}== 0,05. Jest to wartość ua= 1,96. Na podstawie wzoru (2.6) obliczamy następnie wartość
0,15-0,10 0,05-10
/0,1 • 0,9 |
0,3 |
V ioo |
Porównując wartość u z wartością krytyczną ua, mamy |u| = 1,67 < 1,96 = wa, co oznacza, że nie znaleźliśmy się w obszarze krytycznym. Nie ma zatem (podstaw do odrzucenia hipotezy H0, że wadliwość wynosi 10%. Różnica p %, otrzymana w próbie, okazała się nieistotna.